EDX 6000D 地質(zhì)礦產(chǎn)元素分析光譜儀
專為地質(zhì)行業(yè)而設(shè)計(jì)，可分析微量的Na~U元素，高性能、高精度，快速無損分析地質(zhì)中元素含量。
性能優(yōu)勢:
高效超薄窗X光管，全系
高效X射線光管進(jìn)一步提升性能
無標(biāo)樣分析和多參數(shù)線性回歸方法，使測量更簡單和結(jié)果更準(zhǔn)確
硅漂移探測器，超高分辨率、峰背比、計(jì)數(shù)率
標(biāo)準(zhǔn)配置：
高效超薄Be窗X光管
高性能電制冷硅漂移探測器
光路增強(qiáng)系統(tǒng)
高內(nèi)置高清晰攝像頭
多重安全保護(hù)模式
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型
多變量非線性回歸程序
整體鋼架結(jié)構(gòu)，力度可靠的保證
技術(shù)指標(biāo)：
測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）
元素含量分析范圍： ppm—99.99%（不同元素，分析范圍不同）
同時(shí)分析元素：一次性可測幾十種元素
分析精度：0.035%（含量高于96%以上的樣品、21次測試穩(wěn)定性）
測量時(shí)間：60秒-200秒
能量分辨率為：（130±5）eV
管壓：5KV-50KV
管流：0uA-1000uA
應(yīng)用領(lǐng)域：
地質(zhì)礦產(chǎn)、銅礦、鐵礦、鉛鋅礦等
