HP8753D HP 8753D HP 8753D二手6GHz網(wǎng)絡(luò)分析儀

★HP8753D頻率范圍30kHz~6GHz
★集成化S參數(shù)測試裝置
★集成化1Hz分辨率合成信號源
★可選用時域測量和掃描諧波測量
★達110dB的動態(tài)范圍
★可測量群延遲和與線性相位的偏離
★對內(nèi)置磁盤驅(qū)動器的存儲/調(diào)用
★提高內(nèi)置精度

HP 8753D射頻網(wǎng)絡(luò)分析儀
    HP 8753D 射頻網(wǎng)絡(luò)分析儀以低廉的價格為實驗室和生產(chǎn)測試提供了*的RF網(wǎng)絡(luò)測量設(shè)備。它具有集成化的S參數(shù)測試裝置，延長了校準間隔期、提高了可靠性并改善了抗靜電放電能力。HP 8753D以比以往其它型號的測試設(shè)備更低的價格為分析30kHz~6GHz的有源或無源網(wǎng)絡(luò)、器件與元件特性提供了完整的解決途徑。
網(wǎng)絡(luò)分析儀有2個獨立的顯示通道，供同時顯示反射和傳輸、幅度和相位或供時域和掃頻測量。便于使用的預編程按鍵使你能迅速訪問各個測量功能，你可以在高分辨率彩色顯示器上以重疊或分離屏面的形式觀察測量結(jié)果。

*的通用性和性能
    集成化的合成信號源提供達10mW的輸出功率選件011為100mW、1Hz頻率分辨率和線性、對數(shù)、列表和連續(xù)波掃描類型。三個調(diào)諧接收機允許在6GHz上利用選件006頻率擴展，在105dB的寬動態(tài)范圍或在3GHz上在100dB的寬動態(tài)范圍內(nèi)標準情況進行獨立功率測量或同時進行的比值測量。集成化測試裝置允許在不使用倍頻器的情況下，對工作到6GHz的器件進行傳輸和反射特性測量。 為了在非同軸系統(tǒng)中進行方便而精確的測量，特增加了TRL＊/LRM＊1校準。高穩(wěn)定度的頻率基準選件1D5提高了對高Q器件，如表面波SAW諧振腔或介質(zhì)諧振濾波器的頻率測量精度。

提高效率
    測試時序功能允許一次來迅速、反復執(zhí)行復雜的任務(wù)。在時序工作方式下，只需從面板測量一次，分析儀便能儲存鍵入，以致無需額外編程，還可以利用測試時序經(jīng)并行端口對外部裝置進行控制。
另一些提高效率的措施包括支持LIF和DOS格式的內(nèi)置磁盤驅(qū)動器、更快的CPU時鐘速率、512kB非易失存儲器、串行和并行接口，DIN鍵盤接口以及對打印輸出和文件提供時間記錄的實時時鐘。還包括極限測試、任意頻率測試和標記跟蹤功能。分段校準和內(nèi)插誤差修正能提高分析儀已校頻率范圍的某一區(qū)段上的矢量精度。

非線性器件的測試
    為了表征非線性器件的特性，選件002增加了諧波測量功能?？梢灾苯踊蛞詃Bc 顯示放大器的掃描、二次和三次諧波電平。按動一個按鈕，即可測量達-40dBc的諧波。功率計校準向?qū)斎牖蜉敵鲭娖矫舾械钠骷峁┓€(wěn)幅的功率。HP8753D自動對HP436A、437B或438A功率計進行控制，使在測試系統(tǒng)中任何處的功率都調(diào)到具有功率計的精度。分析儀還完成混頻器統(tǒng)調(diào)和變頻損耗測量。還能進行固定IF和掃描IF測量。

時域分析
    利用選件010，能觀察在時域中的響應(yīng)。該分析儀對頻域數(shù)據(jù)的快速傅氏逆變換FFT進行計算，以顯示反射系數(shù)或傳輸系數(shù)隨時間變化的關(guān)系。兩種時域分析方式能觀察器件的階躍響應(yīng)或沖擊響應(yīng)或除去一些不希望的響應(yīng)，如利用選通來除去接頭失配。 1 TRL＊和LRM＊是直通-反射-傳輸線和傳輸線-反射-匹配校準技術(shù)的三取樣器執(zhí)行方式。

技術(shù)指標摘要
測試裝置
    集成化S參數(shù)測試裝置以50Ω標準或75Ω選件075提供完滿的正向和反向測量。外部測試裝置由選件011提供。
測試端口輸出
頻率特性
范圍：
30kHz~3GHz標準；3
0kHz~6GHz（選件006）
分辨率：1Hz
精度：±10ppm在25℃±5℃時
輸出特性
功率范圍：-85~10dBm
分辨率：0.05dB
電平精度：±1.0dB相對于0dBm輸出電平
電平線性：-15~+5dBm±0.2dBm典型值30kHz~300kHz；
（+5 ~ +10dBm）±0.5dBm典型值 30kHz ~ 300kHz
阻抗：50Ω
二次諧波：在+10dBm處<-25dBc16MHz ~ 3GHz
三次諧波：在+10dBm處<-25dBc16MHz ~ 2GHz
非諧波寄生信號典型值
與混頻器有關(guān)的非諧波寄生信號：在+10dBm處<-30dBc
測試端口輸入特性
頻率范圍：
30kHz~3GHz標準；
30kHz~6GHz選件006

平均噪聲電平
3kHz BW: -82dBm<3GHz, -77dBm3 ~ 6GHz
10Hz BW: -102dBm<3GHz, -97dBm3 ~ 6GHz
zui大輸入電平：+10dBm
損壞電平：±26dBm或35Vdc
阻抗：50Ω用選件075時為75Ω
諧波：選件002
二次諧波：在+8dBm處為<-15dBc
三次諧波：在+8dBm處為<-30dBc
諧波測量精度在25℃±5℃時：
16MHz ~ 3GHz: ±1dB
3GHz ~ 6GHz: ±3dB帶選件006
諧波測量動態(tài)范圍： -40dBc輸出=-10dBm，輸入<-15dBm
群延遲特性
范圍：1/2×zui小孔徑
孔徑可以選擇的
zui大：頻率間隔的20% zui小：頻率間隔/點數(shù)-1
群延遲精度單位為秒：±相位精度單位為度/360×孔徑Hz
結(jié)構(gòu)特性
尺寸：425mm寬×222mm高×508mm長
重量：凈重34公斤

測試裝置
    HP8753D選件K35雙工器測試適配器能對發(fā)射機、接收機和天線端口上的回波損耗和發(fā)射機至天線、天線至發(fā)射機、接收機至天線和天線至接收機端口的插入損耗進行一次性連接的誤差修正測量。
對于要求進行發(fā)射機至接收機和接收機至發(fā)射機測量的應(yīng)用場合，建議使用選件K39三端口測試裝置。

附件
HP86205A/86207A射頻電橋
    HP86205A/86207A高方向性射頻電橋在各種各樣的通用應(yīng)用場合中均能提供的性能。它們特別適用于精確的反射測量和信號穩(wěn)幅應(yīng)用。

技術(shù)指標摘要

  HP86205A HP86207A
阻抗 50Ω 75Ω
頻率范圍 300kHz ~ 6GHz 300kHz ~ 3GHz
方向性 30dB, 0.3MHz ~ 5MHz
40dB, 5MHz ~ 2GHz
30dB, 2GHz ~ 3GHz
20dB, 3GHz ~ 5GHz
16dB, 5GHz ~ 6GHz 30dB, 0.3MHz ~ 5MHz
40dB, 5MHz ~ 1.3GHz
35dB, 1.3GHz ~ 2GHz
30dB, 2GHz ~ 3GHz
耦合度 <3GHz16.0dB, +0.15dB/GHz
>3GHz16.5dB, -0.20dB/GHz
插入損耗 1.5dB, +0.1dB/GHz
zui大輸入 25dBm
射頻連接器 50Ω N型陰 75ΩN型陰

結(jié)構(gòu)特性
尺寸：93mm高×160mm寬×23mm長
重量：凈重0.57公斤

校準配件
    HP8753D的校準配件包含在提高精度過程中使用的一些精密標準件，用以表征HP8753D測量系統(tǒng)的系統(tǒng)誤差。

HP85032B 50Ω N型校準配件
    HP85032B校準配件包括用來校準HP8753C的50ΩN型標準件及其用于測量具有50ΩN型接頭器件的50Ω測試裝置的精密50ΩN型標準件。還包括對不可插入器件進行精確測量的精密相位匹配的7mm轉(zhuǎn)50ΩN型適配器。標準件包括具有陰、陽接頭的固定終端負載、開路器和短路器。

HP85032E 50Ω N型經(jīng)濟校準配件
    HP85032E校準配件包括N型陽固定終端負載和一體化的N型陽開路器/短路器。這套配件的頻率范圍為DC~6GHz。

HP85036B 75Ω N型校準配件
    HP85036B 75ΩN型校準配件包括用來校準HP8753C的精密75ΩN型標準件及用于測量具有75ΩN型接頭器件的75Ω測試裝置。標準件包括具有陰、陽接頭的固定終端負載、開路器和短路器。還包括對不可插入器件進行精確測量的精密相位匹配的適配器。

訂貨信息
HP8753D網(wǎng)絡(luò)分析儀，30kHz~6GHz集成化網(wǎng)絡(luò)分析儀具有內(nèi)置彩色顯示器，S參數(shù)測試裝置，磁盤驅(qū)動器和30kHz~3GHz合成信號源。標準的50Ω型有兩個7mm測試端口。
Opt 002 諧波測量功能
Opt 006 6GHz頻率擴展
Opt 010 時域功能
Opt 075 75Ω阻抗
Opt 1D5 高穩(wěn)定度頻率基準
HP85032B 50ΩN型校準配件 H
P85032E 50ΩN型經(jīng)濟校準配件
HP85036B 75ΩN型校準配件

升級配件
HP86205A 50Ω電橋
HP86207A 75Ω電橋
HP8753D
Opt K36 雙工器測試適配器
Opt K39三端口測試裝置適配器