產(chǎn)品描述：
在過(guò)去30多年來(lái)，TSI SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀幫助研究者取得了氣溶膠研究的新突破，并協(xié)助校準(zhǔn)參考材料和其它氣溶膠儀器。美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)研究所（NIST）和世界各地的許多其它參考實(shí)驗(yàn)室使用TSI SMPS進(jìn)行亞微米粒徑分布測(cè)量。第三代3938型SMPS采用模塊化、基于組件的設(shè)計(jì)，不但具有非常高的粒徑分辨率，還具有快速掃描（每次掃描小于15秒）和自動(dòng)組件識(shí)別功能。TSI SMPS易于使用，并可以為研究人員提供高質(zhì)量數(shù)據(jù)，是研究人員進(jìn)行納米粒子粒徑分布測(cè)量的理想選擇。
詳情
TSI推出的SMPS TM 掃描電遷移率粒徑譜儀被廣泛應(yīng)用于測(cè)量1微米以下的氣溶膠粒徑分布的測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)。該系統(tǒng)同樣被應(yīng)用于對(duì)液體懸浮顆粒進(jìn)行精確的納米顆粒粒徑測(cè)量。美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)局（NIST）使用TSI差分靜電遷移率分析儀（DMA）對(duì)60nm和100nm的標(biāo)準(zhǔn)參考粒徑進(jìn)行測(cè)量。SMPS TM 掃描電遷移率粒徑譜儀粒徑測(cè)量是審慎的技術(shù)，在該技術(shù)方法中計(jì)數(shù)濃度會(huì)被直接測(cè)量而無(wú)需假設(shè)粒徑分布的形狀。該方法不依賴(lài)于粒子或液體的折射率且具有高度的粒徑測(cè)量精度和測(cè)量可重復(fù)性。TSI的3938型儀器是SMPS第三代產(chǎn)品，歷經(jīng)30年深受研究者信任。
產(chǎn)品應(yīng)用：
?納米技術(shù)研究和材料合成
?大氣研究和環(huán)境檢測(cè)
?燃燒和發(fā)動(dòng)機(jī)排放研究
?室內(nèi)空氣質(zhì)量測(cè)量
?成核/凝結(jié)研究
?吸入毒理學(xué)研究
產(chǎn)品特點(diǎn)：
?高分辨率數(shù)據(jù)：高達(dá)167通道
?1nm到1,000nm的極寬粒徑范圍
?符合ISO 15900:2009標(biāo)準(zhǔn)
?快速測(cè)量：<10s掃描
?寬濃度范圍，高達(dá) 10 7 顆粒/cm 3
?給您靈活度的組件設(shè)計(jì)
?觸摸屏控制無(wú)需電腦操作
?免工具安裝易于設(shè)置，自動(dòng)發(fā)現(xiàn)組件
?審慎的顆粒測(cè)量：適合多模樣品
?不依賴(lài)于粒子和流體的光學(xué)性質(zhì)
?寬系統(tǒng)配置選項(xiàng)：可選水介質(zhì)或丁醇介質(zhì)凝聚粒子計(jì)數(shù)器；可選傳統(tǒng)的或*中和器
產(chǎn)品組件：
?與您自選DMA差分靜電遷移率分析儀配套的靜電分級(jí)器
?七款凝聚粒子計(jì)數(shù)器之一
?Aerosol Instrument Manager®氣溶膠儀器管理軟件
