什么是數(shù)據(jù)挖掘型示波器？
捕獲512M海量的波形大數(shù)據(jù)，配合深層次數(shù)據(jù)挖掘能力，基于全觸屏和流暢的操作體驗(yàn)，以一種全新的分析方式定位問題，這就是數(shù)據(jù)挖掘型示波器！
數(shù)據(jù)挖掘步：512M大數(shù)據(jù)存儲(chǔ)
存儲(chǔ)深度等于采樣率乘以采樣時(shí)間，512M大存儲(chǔ)深度，長時(shí)間捕獲波形，依然不會(huì)出現(xiàn)波形失真。
不同存儲(chǔ)深度下的采樣率和時(shí)間檔位對應(yīng)表
數(shù)據(jù)挖掘第二步：1M刷新率異常捕獲
波形刷新率越高，死區(qū)時(shí)間就越短。ZDS4000系列示波器，標(biāo)配1M次波形刷新率，配合模板觸發(fā)，讓您概率的發(fā)現(xiàn)并捕獲異常信號。
不同刷新率對應(yīng)的異常捕獲時(shí)間
注：以上條件為4GSa/s采樣率，10ns/div，錯(cuò)誤檢出的概率99.9%。
注：以上條件為4GSa/s采樣率，10ns/div，錯(cuò)誤檢出的概率99.9%。
數(shù)據(jù)挖掘第三步：參數(shù)測量
不同于傳統(tǒng)示波器只測一個(gè)周期，或通過抽樣減少數(shù)據(jù)量再測量的模式，ZDS4000系列示波器通過FPGA全硬件并行處理，基于原始采樣率和512Mpts全存儲(chǔ)深度，對每一幀波形每一周期進(jìn)行測量統(tǒng)計(jì)，僅需約1秒即可實(shí)現(xiàn)對512Mpts數(shù)據(jù)的“真正意義”參數(shù)測量，測試項(xiàng)目可達(dá)50余種，并且支持24種參數(shù)同時(shí)顯示。這與傳統(tǒng)意義示波器的測量有著本質(zhì)的區(qū)別，也是示波器測試手段與測試方法的突破。
數(shù)據(jù)挖掘第四步：波形搜索與智能標(biāo)注
ZDS4000系列示波器不只提供了512M的波形大數(shù)據(jù)，還配有強(qiáng)大的波形搜索功能和智能標(biāo)注功能。您可以先通過邊沿、脈寬、欠幅、上升/下降時(shí)間、周期/頻率等多種搜索條件來定位512Mpts波形數(shù)據(jù)中的異常點(diǎn)，再對找出的異常信號使用標(biāo)注功能，對異常信號進(jìn)行標(biāo)注。這里，所有的測量都是經(jīng)過FPGA全硬件加速，整個(gè)過程1S左右即可完成。再對找出的異常信號使用標(biāo)注功能，對異常信號進(jìn)行標(biāo)注。
分析插件與特色功能
不同于每一種分析插件單獨(dú)付費(fèi)的形式，ZDS4000系列示波器所有分析插件全部標(biāo)配，可以針對興趣波形進(jìn)行更進(jìn)一步的深度分析，
大大提高整體系統(tǒng)信號的故障調(diào)試效率，協(xié)助工程師快速定位出問題。
時(shí)序分析
ZDS4000系列示波器免費(fèi)標(biāo)配時(shí)序分析功能，支持自定義參數(shù)配置對I2C、I2S、SPI、MIPI-RFFE、CAN、Reset、Switch進(jìn)行分析處理。自動(dòng)分析多個(gè)波形中最差情況是滿足標(biāo)準(zhǔn)，可直接篩選某個(gè)特定節(jié)點(diǎn)并直接生成附帶截圖的報(bào)告。
環(huán)路測試
致遠(yuǎn)電子 ZDS4000系列示波器支持環(huán)路測試分析軟件。相對于幾十萬的專業(yè)環(huán)路分析儀器，內(nèi)嵌的環(huán)路測試分析軟件不僅有完善的環(huán)路測試方法和精準(zhǔn)的測量精度， 并且 對測試操作和用戶體驗(yàn)進(jìn)行了創(chuàng)新性地設(shè)計(jì)。
電源分析
開關(guān)電源的質(zhì)量直接影響到產(chǎn)品的技術(shù)性能以及其安全性和可靠性。電源測試項(xiàng)目多，計(jì)算量大，統(tǒng)計(jì)繁瑣等問題一直困擾著工程師們，為了解決這些問題，致遠(yuǎn)電子在示波器中增加開關(guān)損耗、SOA、電感測試等電源分析功能。如在電感測試功能中可直接對電感、有功功率等項(xiàng)目進(jìn)行計(jì)算，方便工程師快速、準(zhǔn)確地測試電源產(chǎn)品。
