CT-9320蘋(píng)果線(xiàn)測(cè)試機(jī)
適用于原裝蘋(píng)果數(shù)據(jù)線(xiàn)全電氣功能檢測(cè)
可接入電腦聯(lián)機(jī)系統(tǒng)，自動(dòng)上傳測(cè)試數(shù)據(jù)并保存到電腦
可對(duì)產(chǎn)品整個(gè)生產(chǎn)過(guò)程實(shí)時(shí)追蹤，便于確認(rèn)產(chǎn)品身份以及不良品分析
性能與技術(shù)指標(biāo)
1)測(cè)試項(xiàng)目參考標(biāo)準(zhǔn)均參照MFi協(xié)會(huì)規(guī)范；
2)支持Lightning C48 數(shù)據(jù)線(xiàn)的斷短路測(cè)試；
3)支持產(chǎn)品BJT、OVP、Hi5CC、短路保護(hù)等功能測(cè)試；
4)支持產(chǎn)品D+、D-漏電流檢測(cè)；
5)紅黑線(xiàn)線(xiàn)阻測(cè)試及開(kāi)啟大電流后產(chǎn)品的實(shí)際壓降測(cè)試；
6)擁有完善的電流、電壓調(diào)試界面，方便調(diào)試測(cè)試界面；
7)支持Lightning芯片功能檢測(cè)，IC的ID、IMSN、ASN等信息檢測(cè)；
8)支持Lightning頭單獨(dú)測(cè)試；
9)智能提示Lightning測(cè)試失敗產(chǎn)品失敗原因，便于維修；
【功能特點(diǎn)】
※ 采用 32 位ARM 高速處理器設(shè)計(jì)。蘋(píng)果數(shù)據(jù)線(xiàn)專(zhuān)用測(cè)試儀機(jī)器設(shè)備
※ 支持 iPhoneX、iPhone8、iPhone7、iPhone6、iPhone5、iPad4、iPad mini、iPod nano6 數(shù)據(jù)線(xiàn)、充電線(xiàn)測(cè)試。
※ 支持 iOS6-iOS12 操作系統(tǒng),支持 MFI 認(rèn)證原裝數(shù)據(jù)線(xiàn)E75、C48、C89和C91、C94 快充線(xiàn)。
※ 雙面測(cè)試，插一次即可全部測(cè)完，提高效率。
※ 負(fù)載電流可以設(shè)定 0-3A，可以設(shè)為 2.4A 實(shí)測(cè) iPad 數(shù)據(jù)線(xiàn)，充分保證線(xiàn)材指標(biāo)。
※ 準(zhǔn)確測(cè)出D+、D-電阻，可以檢測(cè)出D+、D-內(nèi)置的匹配電阻大小并作出判斷。
※ 可測(cè)出 D+、D-漏電阻，并根據(jù)設(shè)定范圍判定結(jié)果，漏電阻過(guò)小會(huì)影響數(shù)據(jù)通信和充電速度。
※ 可以測(cè)出 MOS 管是否正常開(kāi)通關(guān)閉，有無(wú)輸出短保護(hù)功能。
※ 由于 iOS9 和 iOS10 認(rèn)證流程有區(qū)別，本儀器可以設(shè)定 iOS9 或 iOS10 后流程進(jìn)行測(cè)試。
※ 由于 USB 座使用率很高，容易損壞，所以 USB 座采用分體設(shè)計(jì)，方便更換。
※ 支持Type-C 轉(zhuǎn) Lightning 數(shù)據(jù)線(xiàn)的測(cè)試。
※ 可測(cè)試出具體故障點(diǎn)，以便技術(shù)人員對(duì)線(xiàn)進(jìn)行檢修。
※ 各種保護(hù)措施避免儀器使用過(guò)程中受到損壞，防靜電保護(hù)，防短路保護(hù)，直接短路 USB 電源也不會(huì)損壞。
※ 插入被測(cè)產(chǎn)品自動(dòng)開(kāi)始測(cè)試。
※ 測(cè)試速度快，效率高。
※ 良品、不良品計(jì)數(shù)。
※ 彩色顯示屏。
※ 同時(shí)有聲音測(cè)試結(jié)果。
※ 設(shè)置的測(cè)試文件可掉電保存。
※ 通過(guò) PC 軟件對(duì)蘋(píng)果協(xié)議數(shù)據(jù)抓取。
※ 支持中文、繁體、英文。
【蘋(píng)果頭方案原理說(shuō)明】
原裝蘋(píng)果頭協(xié)議芯片有兩種，NXP 公司的 A0005， TI 公司的 BQ2025，配的 MOS 管為 NXP 公司的 NX20P3， NX20P3 內(nèi)阻小，有過(guò)壓、輸出短路保護(hù)，一般 MOS 管是做不到的，所以在 iPhone8 上市前市面上 E75、C48 原裝方案有 2 種硬件，種是 A0005+NX20P3，第二種是 BQ2025+NX20P3，iPhone8 數(shù)據(jù)線(xiàn)使用新 IC A0006， 封裝不同，性能和原來(lái) E75、C48 一樣。
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【檢測(cè)項(xiàng)目】
檢測(cè)項(xiàng)目 | 檢測(cè)內(nèi)容 | 蘋(píng)果數(shù) 據(jù)線(xiàn) | 蘋(píng)果充 線(xiàn) |
空載電壓 | 輸出電壓是否達(dá)標(biāo) | √ | √ |
靜態(tài)電流 | 蘋(píng)果頭本身耗電 | √ | √ |
輕負(fù)載電壓 | 輸出電壓是否合格 | √ | √ |
重負(fù)載電壓 | 輸出電壓是否合格，以檢測(cè)數(shù)據(jù)線(xiàn)內(nèi)阻、壓降是否達(dá)標(biāo) | √ | √ |
過(guò)壓保護(hù) | 當(dāng)線(xiàn)上電壓過(guò)高時(shí)，蘋(píng)果頭是否會(huì)關(guān)閉輸出，原裝線(xiàn)過(guò)壓保護(hù)一般是 6.35V 左右 | √ | √ |
電流 | 壓降條件下線(xiàn)材能過(guò)的電流 | √ | √ |
D+ | 連接方式、分壓值、電阻值、漏電阻 | √ | √ |
D- | 連接方式、分壓值、電阻值、漏電阻 | √ | √ |
主端鐵殼 | 懸空、接VCC、接GND、直通 | √ | √ |
芯片協(xié)議DQ | 通信、認(rèn)證、版本、序列號(hào) | √ | √ |
DQ 腳電平 | IC 協(xié)議通信腳的高低電平是否符合要求 | √ | √ |
MOS 管 | 是否可正常控制、開(kāi)路、短路，是否有輸出短路保護(hù)功能 | √ | √ |
待機(jī)空載電壓 | 待機(jī)電壓是否正常 | √ | √ |
待機(jī)帶載電壓 | 待機(jī)帶載電壓是否正常 | √ | √ |
待機(jī)限流 | 待機(jī)時(shí)給 3.5V 電池充電電流 | √ | √ |
短路電流 | 待機(jī)時(shí)輸出端短路電流 | √ | √ |
CC 線(xiàn) | C52 快充線(xiàn) CC 線(xiàn)是否連通 | √ | √ |
IC 方案 | 檢測(cè)蘋(píng)果頭中所用的芯片方案 | √ | √ |
注：本儀器不可*替代真機(jī)測(cè)試，為了提高測(cè)試效率，我們認(rèn)為同一批材料的充電器/數(shù)據(jù)線(xiàn)特性是一致的，建議采用本儀器做基礎(chǔ)測(cè)試，再用真機(jī)抽檢。
