國產(chǎn)近紅外水分儀厚度儀涂布量檢測儀器工作原理：
對(duì)于X射線，在其穿透被測材料后，X射線強(qiáng)度 I 的衰減規(guī)律為 I=Ioe -μd，Io 為初始射線強(qiáng)度，I 為穿過物體后的射線強(qiáng)度，μ 為吸收系數(shù)，d 為射線穿過的厚度（克重）；當(dāng) μ 和 Io 一定時(shí)，I 僅僅是被測材料 d 的函數(shù)，所以測出 I 就可以知道厚度（克重）d。X射線測厚儀原理是根據(jù)X射線穿透被測物時(shí)的強(qiáng)度衰減來進(jìn)行轉(zhuǎn)換測量
工作原理：
對(duì)于X射線，在其穿透被測材料后，X射線強(qiáng)度 I 的衰減規(guī)律為 I=Ioe -μd，Io 為初始射線強(qiáng)度，I 為穿過物體后的射線強(qiáng)度，μ 為吸收系數(shù)，d 為射線穿過的厚度（克重）；當(dāng) μ 和 Io 一定時(shí)，I 僅僅是被測材料 d 的函數(shù)，所以測出 I 就可以知道厚度（克重）d。X射線測厚儀原理是根據(jù)X射線穿透被測物時(shí)的強(qiáng)度衰減來進(jìn)行轉(zhuǎn)換測量厚
應(yīng)用領(lǐng)域：
塑料薄膜 薄板 片材 人造革
金屬壓延：鋁箔 銅箔 鋼帶
復(fù)合材料：涂布 淋膜等
織物與無紡布
紙張
橡膠板
玻璃
工作原理：
對(duì)于X射線，在其穿透被測材料后，X射線強(qiáng)度 I 的衰減規(guī)律為 I=Ioe -μd，Io 為初始射線強(qiáng)度，I 為穿過物體后的射線強(qiáng)度，μ 為吸收系數(shù)，d 為射線穿過的厚度（克重）；當(dāng) μ 和 Io 一定時(shí)，I 僅僅是被測材料 d 的函數(shù)，所以測出 I 就可以知道厚度（克重）d。X射線測厚儀原理是根據(jù)X射線穿透被測物時(shí)的強(qiáng)度衰減來進(jìn)行轉(zhuǎn)換測量厚
應(yīng)用領(lǐng)域：
