| 重量：1.2（kg） | 類型：超聲波探傷儀 | 型號：SBLJ-60/60B |
| 尺寸：210*156*40（mm） | 分辨率：≧40dB | 品牌：SBE |
| 測量范圍：0～10000 |
技術(shù)參數(shù)
名稱 | 技術(shù)數(shù)據(jù) |
掃描范圍（mm） | 0～10000 |
垂直線性誤差 | ≦3% |
水平線性誤差 | ≦0.1% |
探傷靈敏度余量 | ≧68dB（深200mmφ2平底孔） |
動態(tài)范圍 | ≧34dB |
分辨率 | ≧40dB |
頻率范圍（MHz） | 0.5～20 |
增益調(diào)節(jié)（dB） | 0～110 |
材料聲速（m/s） | 1000～15000 |
抑制 | 0～80% |
工作溫度（℃） | -27～70 |
外形尺寸（mm） | 210*156*40 |
重量（Kg） | 1.2 |
主要功能
l 自動校準：自動測試探頭的K值、前沿、零點、材料聲速；
l Φ值計算(大平底、平底孔、短橫孔等于Φ值自動計算，無需人工計算)；
l 100個獨立探傷通道，可自由輸入并存儲任意行業(yè)的探傷標準（可根據(jù)用戶需求擴展）；
l 自由存儲，回放300幅A掃波形及數(shù)據(jù)（可根據(jù)用戶需求擴展）；
l DAC、AVG曲線自動生成并可以分段制作，取樣點不受限制，并可進行修正與補償；
l 自動錄制探傷過程，并可以進行動態(tài)回放；
l B掃描功能，清晰顯示缺陷縱截面形狀；
l 增益補償：對表面粗糙度、曲面、厚工件遠距離探傷等因素造成的dB衰減可進行修正；
l 重復頻率設(shè)置；
l K值自動計算；
l 三倍近場區(qū)曲線；
l 深度補償，自動生成TCG曲線；
l 回波次數(shù)分析。
輔助功能
l 自動增益、回波包絡(luò)、峰值記憶功能提高了探傷效率；
l 自動顯示缺陷回波位置(深度d、水平p、距離s、波幅H、當量dB、孔徑Φ值)；
l 自由切換四種標度方式：深度、聲程、投影、曲率；
l 角度和K值兩種輸入方式；
l 休眠和屏保；
l 閘門內(nèi)聲光報警；
l 中英文操作界面。
產(chǎn)品特點
l IP65標準鋁鎂合金外殼，堅固耐用，防水防塵，抗*力；
l 26萬色真彩屏超高亮顯示，5種色彩方案，亮度可調(diào)，適合強光、弱光的工作環(huán)境；
l 掉電保護，存儲數(shù)據(jù)不丟失，探傷參數(shù)可自動測試或預置；
l 高效節(jié)能充電鋰電池，可野外連續(xù)供電8小時；
l 實時時鐘記錄：實時探傷日期、時間的跟蹤記錄并存儲；
l 高精度定量、定位，滿足了較近和較遠距離探傷的要求；
l 近場盲區(qū)小，滿足了小管徑、薄壁探傷的要求。
