宇問EC-770兩用涂層測厚儀
宇問EC-770兩用涂層測厚儀的產品介紹：
·宇問EC-770兩用涂層測厚儀，能同時測量磁性基材表面（如鋼、鐵等）的非磁性涂鍍層（如油漆、陶瓷、鉻等），以及非磁性金屬基材表面的非導電涂鍍層（如油漆等）。
·內置高精密雙探頭，利用電磁感應和渦流效應，全自動探測基材屬性，計算涂鍍層厚度，并通過點陣液晶快速顯示結果。同時，測量數(shù)據可分組保存，并實時顯示統(tǒng)計值。
·用戶可分別為每組設置上下限報警值、零校準、多點校準。全新的多點校準和零校準，讓您非常方便的隨時進行校準。標準化菜單，確保您非常容易的使用它。
宇問EC-770兩用涂層測厚儀的產品特點：
·大點陣液晶屏，標準化菜單操作。
·兩種測量模式：單次（Single)和連續(xù)(Continuous)。
·兩種組模式：直接組(DIR)和通用組(GEN),一個直接組和四個通用組。直接組關機后數(shù)據自動全部清除。通用組數(shù)據將自動保存，關機不丟失。每組可存儲80個數(shù)據。
·可零校準和多點校準(*多四點)。各組有單獨的零校準和多點校準，組與組之間不影響。
·用戶可隨時查看當前工作組已測得的數(shù)據，并刪除數(shù)據或整組數(shù)據。
·實時顯示當前工作組統(tǒng)計值：平均值(Mean),*小值(Min)，*大值(Max),標準方差(Sdev)。
·三種探頭模式: 自動(Auto)、磁感應(Magnetic)和渦流(Eddy Current)。
·可為各組單獨設置高低限報警值，超*屏幕指示報警。
·可開啟或關閉自動關機功能。
·USB接口可傳輸通用組數(shù)據到計算機。
·低電和錯誤提示。
宇問EC-770兩用涂層測厚儀的技術參數(shù)：
·測量原理：磁感應（F探頭）；渦流效應（N探頭）。
·測量范圍：0～1300µm。
·測量誤差：±(讀數(shù)的3%+2um)。
·精度：0-999µm(1µm), 1000-1300µm(0.01mm)。
·校準：零點校準，并支持*多4點校準。
·數(shù)據存儲與分組：一個直接組（數(shù)據不保存）和四個通用組（數(shù)據可被保存），每組有單獨的統(tǒng)計，報警上下限設置和校準設置。
·統(tǒng)計值：支持平均值、*小值、*大值和標準方差。
·支持單位：µm, mm, mils。
·報警：用戶可設置上下報警限，當發(fā)生報警時，液晶屏幕可顯示提示。
·*小曲率半徑：凸1.5mm，凹25mm。
·*小測量面積：直徑6mm。
·*小基材厚度：0.5mm（F探頭）；0.3mm（N探頭）。
·電腦接口：可通過USB口連接計算機下載數(shù)據。
·電源：兩節(jié)1.5V AAA電池。
·操作溫度：0-40℃。
·保存溫度：-20～70℃。
·尺寸：110*53*24mm。
·重量：92g。
宇問EC-770兩用涂層測厚儀的標準配置：
·儀器主機
·基體鐵鋁各一塊
·標準片5片
·USB數(shù)據線1根
·1.5V AAA電池兩節(jié)
·使用說明書
·保修卡
·合格證
