美國艾克i-CHEQ手持式礦石分析儀 i-7000便攜式元素分析儀
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:137-7146-8648
品牌 | 美國艾克i-CHEQ | 型號 | i7000 | ||
光源 | X射線 | 外形尺寸 | 300x90x220(mm) | 重量 | 1500(g) |
適用范圍 | 礦石分析 |
i-7000美國艾克手持式礦石分析儀
艾克手持式礦石分析儀 用于與礦石相關(guān)的整條產(chǎn)業(yè)鏈,可以幫助科研及技術(shù)人員快速識別貧礦、富礦,在短時間內(nèi)鑒定礦石品位,艾克手持式礦石分析儀 在礦山繪圖、品位控制、巖心檢測、礦石貿(mào)易、港口貿(mào)易、礦石分揀、礦脈勘探等領(lǐng)域有非常廣泛的應用性;
艾克手持式礦石分析儀 可分析從從鎂 (Mg)到钚 (Pu)之間的所有83種元素,
艾克手持式礦石分析儀 標配:Cr, Mn, Fe, Ni, Cu, Zn, Hg, As, Pb, Se, Rb, Sr, Zr,Co、V、 Mo, Ag, Cd, Sn, Sb, Ba ,K, Ca, Ti,Th等幾十種元素;
艾克手持式礦石分析儀 可檢測:鐵礦、銅礦、鎳礦、鉭礦、鈮礦、鉛礦、鋅礦、鉻礦、鉬礦、銀礦、錳礦、鈦礦、銻礦等等幾十種礦石
艾克手持式礦石分析儀 設(shè)計特點
重量輕、體積小、尖嘴部分設(shè)計符合人體工程學
,現(xiàn)場無損檢測,對不規(guī)則或很小樣品測試進行自動補償
一鍵式按鈕設(shè)計,操作簡單
1/3機身鋁合金結(jié)構(gòu),散熱效果好、工作穩(wěn)定
10秒的快速開機優(yōu)于同類儀器;測試速度快,能在數(shù)秒內(nèi)準確分析RERA涉及到的金屬與優(yōu)先控制污染金屬
堅固的構(gòu)造、密封超大屏幕彩色TFT顯示,無LCD高原反應,防濕防塵
穩(wěn)定*的操作系統(tǒng)、*的I-smart軟件,反應迅速
海量存儲、待機時間長
靈活通用的通訊功能
艾克手持式礦石分析儀 技術(shù)參數(shù)
【重量】基本上重量:1.4kg,上電池后:1.5kg
【尺寸(高x寬x長)】300mm x 90mm x 220mm
【激發(fā)源】射線管靶材5種可選擇 金(Au)、銀(Ag)、鎢(W)、鉭(Ta),鈀(Pb)
【電壓電流與功率】大功率微型X射線管40KV、100MA、4W
【濾波器】六種可選擇的濾波器根據(jù)不同的實物自動調(diào)節(jié)
【探測器】高性能高分辨率Si-Pin X射線探測器
【探測器制冷溫度】 Peltier效應半導體制冷,制冷溫度-35
【標準片】外置316標準片;
【解析度】<180
【電源】8小時/2塊鋰電源及交流電源
【處理器】Intel 400MHz StrongArm處理器
【操作系統(tǒng)】移動Windows CE系統(tǒng)
【兼容性】藍牙,GPS,打印
【軟件標準模式】Alloy
【數(shù)據(jù)處理】8G大容量數(shù)據(jù)存儲卡:≥40, 000組數(shù)據(jù)及光譜圖,可隨時通過儀器觸屏電腦或?qū)С龅絺€人PC查看。
【數(shù)據(jù)分析】多種分析模式,包括基本參數(shù),Compton歸一化,經(jīng)驗校準模式,光譜配色
【數(shù)據(jù)顯示】集中于ppm與百分比(%)顯示,光譜或峰強度(計數(shù)率)或用戶定的單位
【數(shù)據(jù)傳輸】RS232串行電纜,藍牙,文件TXT,EXCEL格格輸出。
【顯示屏】彩色,高分辨率3.5寸TFT工業(yè)級觸摸屏,大圖標圖形界面,任何光線條件下清晰可見;
【外形設(shè)計】一體化機身設(shè)計,堅固,防水防塵防凍,有效防振,適合野外、潮濕或低溫等環(huán)境使用。
【安全操作】一觸式“扳機”,軟件自動定時鎖扳機或自動停止測試防護功能;判斷測試窗前方?jīng)]有樣品后2秒內(nèi)自動關(guān)閉X射線
【分析元素】 Cr, Mn, Fe, Ni, Cu, Zn, Hg, As, Pb, Se, Rb, Sr, Zr,Co、V、 Mo, Ag, Cd, Sn, Sb, Ba ,K, Ca, Ti和Th等不少于25種元素;
【測試環(huán)境條件】溫度-20~+50℃,濕度<80%RH。
【開機時間】儀器開機到進入測試界面時間不超過15秒鐘
【校正】儀器出廠前已經(jīng)校正;但儀器仍具有可建立有針對性的校正曲線功能,適用于特定樣品的精確測試
【結(jié)果報告】儀器配有標準USB接口及藍牙無線傳輸,并內(nèi)置WiFi,可直接向電腦或網(wǎng)絡存儲設(shè)備傳輸數(shù)據(jù),并內(nèi)置GPS系統(tǒng),及時定位取樣坐標;可直接以定制報告格式和EXCEL格式下載測量數(shù)據(jù)及其X射線譜圖??稍O(shè)置用戶權(quán)限、生成定制報告和打印分析報告
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