臺式測厚儀參數(shù)
在電鍍及表面處理或電子元件生產(chǎn)過程中需要快速且精確地測定鍍層的厚度,雖然鍍層測厚儀的種類很多,但不管是磁性測厚儀,還是電解式的、庫侖式測厚儀等都達不到臺式測厚儀的精確度。臺式儀器配備SDD探測器,X射線從上向下照射,能夠在測量臺上對樣品進行輕松定位。
臺式測厚儀參數(shù)
‘儀器特點
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X 射線熒光儀器可配備多種硬件組合,可完成各種測量任務(wù)
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由于測量距離可以調(diào)節(jié)(最大可達 80 mm),適用于測試已布元器件的電路板或腔體結(jié)構(gòu)的部件
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通過可編程 XY 工作臺與 Z 軸(可選)實現(xiàn)自動化的批量測試
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使用具有高能量分辨率的硅漂移探測器,非常適用于測量超薄鍍層(XDAL 設(shè)備)
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操作簡單且性價比高。
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自下而上進行測量,從而快速、簡便地定位樣品
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廣泛適用:為各個行業(yè)的典型需求量身定制了多種型號
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以非破壞性方式進行鍍層厚度測量與元素分析
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帶有高性能 X 射線管和高靈敏度的硅漂移探測器 (SDD)的機型,可對極薄鍍層及微量成分進行精確測量
應(yīng)用領(lǐng)域:
線路板、引線框架及電子元器件接插件檢測
手表、精密儀表制造行業(yè)
鍍純金、K金、鉑、銀等各種飾品的膜層成分和厚度分析
釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeNdB
汽車、五金、電子產(chǎn)品等緊固件的表面處理檢測
衛(wèi)浴產(chǎn)品、裝飾把手上的Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)
電鍍液的金屬陽離子檢測
其他樣品鍍層測試