臺式X熒光光譜儀非真空能量色散X熒光光譜儀:
EDX-6000X熒光光譜儀融合經(jīng)驗系數(shù)法、基本參數(shù)法等分析方法,測試數(shù)據(jù)的準確性能得到全面保證。
EDX-6000X熒光光譜儀基本參數(shù)法(FP法):儀器根據(jù)實際檢測物質,通過對多種物理量建模計算確定參數(shù)。對標準樣品要求不高,計算較復雜,適合缺少對應標樣的物質檢測。
EDX-6000X熒光光譜儀經(jīng)驗系數(shù)法:儀器依據(jù)對標準樣品的測定,確定影響系數(shù)。對標準樣品要求高,需和待測樣品類型相近,校正模型簡單。
軟件功能
采用內標校正,提高非定性式樣測量精度
用戶自定義多曲線多光譜擬和分析方法
全自動定量分析報告簡捷準確
自適應初試化校正
光譜的自動獲取和顯示。
具有自動檢測儀器工作狀態(tài)的功能。
自動判別樣品及自動分析。提供擴展接口,進一步作其他元素分析,從鈣到鈾元素。
硬件
美國進口探測器,高速脈沖高度分析系統(tǒng)
美國SPELLMAN高壓發(fā)生器
美國進口前置放大器,與美國進口探測器兼容性好
美國進口主放大器,與美國進口探測器兼容性好
美國進口AD轉換模塊,與美國進口探測器兼容性好
尺寸&重量
電源:550220V±10% 50Hz
環(huán)境溫度:10℃-28℃
環(huán)境濕度:≤70 %RH(25℃室溫)
產(chǎn)品優(yōu)勢
臺式X熒光光譜儀非真空能量色散X熒光光譜儀:
無損檢測
在無標準樣品時亦可準確分析
測量時間比化學方法短,不需要輔助材料
計算機進行數(shù)據(jù)處理,分析快速準確
高分辨率圖形即時顯示,由不同色塊加以判斷區(qū)分
硅半導體探測器
元素含量分析范圍為2 PPm到99.99%
采用BG內標校正,提高非定性式樣測量精度
全自動定量分析報告簡捷準確
自適應初試化校正
光譜的自動獲取和顯示
具有自動檢測儀器工作狀態(tài)的功能
自動判別樣品及自動分析
技術參數(shù):