電子探針-定性（點(diǎn)）分析

參考價(jià): 面議

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所在地
更新時(shí)間2021-11-25

武漢上譜分析科技有限責(zé)任公司

廠商性質(zhì)其他
入駐年限第1年
實(shí)名認(rèn)證已認(rèn)證
產(chǎn)品數(shù)量30
人氣值173

產(chǎn)品標(biāo)簽

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武漢上譜分析成立于2013年1月，已獲得CMA資質(zhì)認(rèn)證，GeoPT、G-Probe國(guó)際盲樣分析檢驗(yàn)水平，是國(guó)內(nèi)提供專業(yè)地球化學(xué)綜合分析測(cè)試服務(wù)的實(shí)驗(yàn)室，提供碎樣、磨片、單礦物分選、制靶、透反射、陰極發(fā)光、LA-ICP-MS各類礦物U-Pb定年、LA-ICP-MS微區(qū)原位微量元素分析、LA-MC-ICP-MS微區(qū)原位同位素比值分析、ICP-MS 微量元素分析、MC-ICP-MS 同位素比值分析、XRF主量元素分析、二價(jià)鐵含量分析，EPMA電子探針分析等測(cè)試服務(wù)。公司技術(shù)人員來自地質(zhì)院校，從業(yè)經(jīng)驗(yàn)豐富，同時(shí)聘請(qǐng)地化專家團(tuán)隊(duì)作為技術(shù)顧問，全力為客戶提供專業(yè)的分析測(cè)試服務(wù)。

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介在線詢價(jià)

測(cè)試項(xiàng)目：電子探針測(cè)試對(duì)象：巖石礦物鑲嵌靶、探針片測(cè)試周期：5-10個(gè)工作日，可提供樣品測(cè)試加急服務(wù)

電子探針-定性（點(diǎn)）分析產(chǎn)品詳情

測(cè)試項(xiàng)目：電子探針
測(cè)試對(duì)象：巖石礦物鑲嵌靶、探針片
測(cè)試周期：5-10個(gè)工作日，可提供樣品測(cè)試加急服務(wù)。
送樣要求：1、靶、探針片等樣品表面平整、光滑，避免影響數(shù)據(jù)質(zhì)量；2、提前將測(cè)試點(diǎn)位用半圓圈起，并將各點(diǎn)位直線連接以便測(cè)試時(shí)快速定位，具體請(qǐng)咨詢相關(guān)技術(shù)人員。
完成標(biāo)準(zhǔn)：儀器狀態(tài)良好，監(jiān)控標(biāo)樣測(cè)試值在允許誤差范圍內(nèi)。
方法描述：

24.1 EPMA方法說明

儀器型號(hào)為日本電子（JEOL）JXA8230
硅酸鹽測(cè)試條件為：
電流：2*10^-8A、電壓：15kV
束斑：常規(guī)元素spot（≈1μm）、揮發(fā)性元素3μm，礦物顆粒不小于3um
采樣時(shí)間：peak 10s、back5s、peak 30s、back15s（＜1000ppm）
硫化物測(cè)試條件為：
電流：5*10^-8A、電壓：15kV
束斑：spot（≈1μm）
采樣時(shí)間：peak 10s、back5s 、peak 30s、back15s（＜1000ppm）
硅酸鹽礦物各元素含量校正標(biāo)樣均為天然礦物，部分金屬及硫化物元素含量校正標(biāo)樣為純物質(zhì)：Au、Ag、Co、V，其余為天然礦物標(biāo)樣。
數(shù)據(jù)校正采用日本電子（JEOL）的ZAF校正方法進(jìn)行修正

關(guān)鍵詞：電子探針標(biāo)準(zhǔn)

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