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  • ModuLab XM ECS

ModuLab XM ECS

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  • 型號(hào)
  • 品牌
  • 所在地
  • 更新時(shí)間2021-11-25
  • 廠(chǎng)商性質(zhì)經(jīng)銷(xiāo)商
  • 入駐年限1
  • 實(shí)名認(rèn)證已認(rèn)證
  • 產(chǎn)品數(shù)量47
  • 人氣值347
產(chǎn)品標(biāo)簽

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產(chǎn)品概述高性能即插即用模塊
ModuLab XM ECS 產(chǎn)品詳情

產(chǎn)品概述

  • 高性能即插即用模塊,即可擴(kuò)展功能又可擴(kuò)展通道 

  • 64MS/s平滑掃描-LSVLSP、CV 

  • 高達(dá)1MS/s數(shù)據(jù)采集-脈沖、CV 

  • 100aA電流分辨率 

  • ±25A電流-掃描/脈沖 

  • ±100V槽壓與極化 

  • 10μΩ 微阻抗測(cè)量 

  • 100TΩ 超高阻抗測(cè)量 

  • 多種高速EIS技術(shù)

 

產(chǎn)品介紹

  ModuLab XM多功能電化學(xué)工作站是一款專(zhuān)注于測(cè)量Xtreme Measurement的電化學(xué)量測(cè)系統(tǒng),它能夠用于測(cè)量超低微歐阻抗(如一代的鋰電池及燃料電池);能夠用于精確表征超高阻抗(如腐蝕涂層,絕緣材料)。 這個(gè)系統(tǒng)采用的AC校正技術(shù),確保每次測(cè)量的超精準(zhǔn)。每一臺(tái)儀器都在出廠(chǎng)前經(jīng)過(guò)獨(dú)立的校準(zhǔn),使您準(zhǔn)確測(cè)量的必選。

 

超低阻抗測(cè)量
  ModuLab XM ECS 可以通過(guò)內(nèi)置及外置電流放大器的使用,完成超低微歐阻抗的測(cè)量。適合于新一代低阻電池(鋰離子電池,燃料電池)研究的測(cè)試要求。

下圖顯示的是10微歐及100微歐阻抗的測(cè)試結(jié)果。

陽(yáng)極/陰極/電池組同步測(cè)試

ModuLab XM ECS集合了功率放大器,高施加電壓和輔助差分電壓輸入等一系列高性能模塊,為新一代超低阻能源器件研究提供了的表征技術(shù)。XM不僅可以對(duì)整體電池或電池組整體進(jìn)行直流和交流阻抗測(cè)試,而且可同時(shí)對(duì)電池正負(fù)極或者電池組中的單個(gè)電池進(jìn)行直流和阻抗測(cè)試(可測(cè)電堆的電壓高達(dá)100V)。XM高精度的測(cè)試能力使您的電池失效被檢測(cè)出來(lái)成為可能,節(jié)約了時(shí)間并大大提高了您的測(cè)試效率。

左圖為鋰離子電池組的高靈敏度測(cè)試結(jié)果,同時(shí)顯示了電池組整體阻抗及電池組中單個(gè)電池阻抗數(shù)據(jù)

 

可擴(kuò)展模塊化設(shè)計(jì)

ModuLabXM 電化學(xué)工作站系統(tǒng)采用“即插即用”模塊設(shè)計(jì),系統(tǒng)擁有兩個(gè)“智能”的控制模塊:

  • XM PSTAT 1M樣品/秒用于直流時(shí)域測(cè)試控制
  • XM FRA 1MHZ用于交流頻域測(cè)試控制

還有多種擴(kuò)展模塊可放大控制模塊的信號(hào),用以對(duì)樣品施加大電壓/電流極化波形,以及放大/衰減高分辨率信號(hào)返回至控制模塊:

  • XM HV100/HV30—高電壓選項(xiàng),槽壓及極化電壓均可達(dá)(100V/30V
  • XM FEMTO AMMETER—小電流選項(xiàng)(達(dá)fA級(jí))
  • XM BOOSTER 2A—大電流選項(xiàng)(2安培)

除此之外,更有拓展應(yīng)用的光電選型模塊(也可直接選擇Modulab XM PhotoEchem光電化學(xué)測(cè)試系統(tǒng))

交流掃頻及直流時(shí)域測(cè)試技術(shù)包括:IMPS,IMVS,阻抗,光電壓衰減,電量抽取技術(shù),I-V曲線(xiàn),IPCE

數(shù)據(jù)“自動(dòng)”分析功能可直接得出光電樣品擴(kuò)散系數(shù)和電子壽命

不僅系統(tǒng)通過(guò)“即插即用”可以用許多方式設(shè)定配置,而且可以由在一臺(tái)儀器上從單通道升級(jí)為多通道。從一個(gè)機(jī)箱一臺(tái)恒電位儀,到同一機(jī)箱搭配許多臺(tái)恒電位儀,或多個(gè)機(jī)箱、每個(gè)機(jī)箱各有多臺(tái)恒電位儀之?dāng)U充系統(tǒng)。多臺(tái)恒電位儀可用一部PC作控制,或者多部PC整合到一個(gè)系統(tǒng)中,從而依需要控制全部恒電位儀群組。同時(shí),系統(tǒng)隨時(shí)都可增加額外的恒電位儀及選購(gòu)件到每個(gè)機(jī)箱內(nèi)。

 

模擬線(xiàn)性?huà)呙?/span>

  • 所有配置都標(biāo)準(zhǔn)提供平滑模擬波形,如模擬線(xiàn)性?huà)呙琛?/span>
  • 對(duì)于電極過(guò)程中表現(xiàn)出非??焖俚臅簯B(tài)行為的研究,模擬線(xiàn)性?huà)呙杩梢员WC這些過(guò)程中的快速信息不丟失

 

快速測(cè)量功能

  • 具備極快的樣品采集速率1M樣品/
  • 高速脈沖波形測(cè)試(如GSM/CDMA手機(jī)電池,脈沖充放電以及脈沖伏安測(cè)試)
  • 超平滑的交流波形帶來(lái)的是*精度的交流測(cè)試結(jié)果(40Over-Sampling采樣)--包括阻抗,導(dǎo)納/電容,介電常數(shù),莫特-肖特基以及更多。即使是在>10KV/s的的掃描速率之下操作,都能提供超平滑的循環(huán)伏安波形。

 

靈活配置的系統(tǒng)及操作人性化的軟件

提供的軟件既靈活、功能豐富,又容易使用。提供大量的實(shí)驗(yàn)類(lèi)型可供選擇,從標(biāo)準(zhǔn)的開(kāi)路、循環(huán)伏安法測(cè)試到復(fù)雜的包括樣品準(zhǔn)備的多步驟順序、高級(jí)別的實(shí)驗(yàn)技術(shù)及綜合的阻抗分析…

軟件提供在實(shí)驗(yàn)開(kāi)發(fā)所有階段的曲線(xiàn)圖形,所以用戶(hù)可直觀地確切看到要應(yīng)用什么波形到電解池上。當(dāng)參數(shù)被輸入軟件,將顯示實(shí)驗(yàn)運(yùn)行時(shí)應(yīng)用到電解池的實(shí)時(shí)波形圖及連接圖,使用者可檢查電解池是否正確連接,并在實(shí)驗(yàn)開(kāi)始前作好調(diào)整。 軟件內(nèi)的連接圖增強(qiáng)了拓展性能,使系統(tǒng)組態(tài)能快速簡(jiǎn)便地再配置設(shè)定,以適應(yīng)任何類(lèi)型的測(cè)試。

軟件允許自由選擇數(shù)據(jù)采集模式,不管所選擇的實(shí)驗(yàn)類(lèi)型為何。例如,運(yùn)行脈沖伏安實(shí)驗(yàn),可選擇高采樣速率,如此可分析脈沖的實(shí)際形狀(電壓與電流),以便在脈沖上選擇的測(cè)量點(diǎn)。

 

特點(diǎn)

  • 高性能“即插即用”模塊,即可擴(kuò)展功能又可擴(kuò)展通道 
  • 64MS/s平滑掃描-LSV、LSPCV 
  • 高達(dá)1MS/s數(shù)據(jù)采集-脈沖、CV 
  • 100aA電流分辨率 
  • ±25A電流-掃描/脈沖 
  • ±100V槽壓與極化 
  • 10μΩ 微阻抗測(cè)量 
  • 100TΩ 超高阻抗測(cè)量 
  • 多種高速EIS技術(shù)

 

高速恒電位/恒電流儀

模塊

         系統(tǒng)核心模塊,運(yùn)用了的數(shù)字信號(hào)處理器(DSP)技術(shù).能提供準(zhǔn)確的實(shí)驗(yàn)控制、高速數(shù)據(jù)采集、數(shù)據(jù)平均及響應(yīng)之安全性與步階限制。 特點(diǎn)如下

  • 使用高采樣速率(64 MS/s)與插值濾波功能之平滑的波形,能在所有平滑的模擬技術(shù)之下,傳送精度、穩(wěn)定度及控制數(shù)字波形技術(shù)。 
  • 應(yīng)用于脈沖與快速CV技術(shù)之高速數(shù)采達(dá)1MS/S 
  • 出色的頻帶寬度為所有頻率與阻抗范圍(頻率響應(yīng)分析儀選項(xiàng))提供精準(zhǔn)的、可靠的高速CV、脈沖與阻抗測(cè)量。 
  • 浮地電極,用于在接地的電池、壓力容器、導(dǎo)管與貯存箱的測(cè)量。 
  • 靈活的實(shí)驗(yàn)順序安排,容許在實(shí)驗(yàn)中有需要的特定點(diǎn)上以高速率采集資料,如:分析脈沖或高速CV。 
  • 廣泛的分析電化學(xué)技術(shù),加上按順序安排技術(shù)的能力,可執(zhí)行充/放電循環(huán)、計(jì)時(shí)電流法及組合DC和阻抗實(shí)驗(yàn)。 
  • 在實(shí)驗(yàn)步驟之間瞬時(shí)切換的能力,提供了大量的靈活性,得在電池應(yīng)用與分析應(yīng)用中定義充/放電實(shí)驗(yàn)協(xié)定。

Pstat 1MS/s

FRA 頻率響應(yīng)模塊

 

能在整個(gè)頻率范圍內(nèi),在下列所有操作模式下進(jìn)行測(cè)量:

  • 單一正弦相關(guān):提供*的精度與可重復(fù)性。ModuLab FRA結(jié)合品質(zhì)的模擬硬件設(shè)計(jì)及一代的高速數(shù)字信號(hào)處理器(DSP)技術(shù),提供更高的測(cè)量速度與精度(1MHz10Hz,短短5秒內(nèi)每10倍頻間隔計(jì)算10點(diǎn)),將阻抗測(cè)量性能帶領(lǐng)到更高的境界!
  • 多正弦/快速傅立葉轉(zhuǎn)換(FFT)分析:藉著同時(shí)觸發(fā)與測(cè)量可由多重使用者選擇的頻率,而提供甚至更快速的測(cè)量性能。這對(duì)于快速低頻分析及時(shí)變或不穩(wěn)定體系之測(cè)量特別有用。
  • 多正弦/快速傅立葉轉(zhuǎn)換(FFT)測(cè)量是如此快速,因此可經(jīng)常在樣品體系響應(yīng)改變之前進(jìn)行。 
  • 諧波分析:采用FFT分析技術(shù)及單一或多重頻率模擬,以便研究線(xiàn)性與失真。由此提供的資訊可用于將壓力激信號(hào)基準(zhǔn)化;這項(xiàng)技術(shù)也用于診斷燃料電池運(yùn)行狀態(tài)及腐蝕速率分析。
  • AC伏安法與電位法:在整個(gè)頻率范圍使用上述任何技術(shù)。

FRA 1MHz (10μH z~1MHz)
FRA 300kHz (10μH z300KHz)

輔助電壓測(cè)定模塊

 

提供4個(gè)(差分)輔助電壓輸入作為核心恒電位儀之選項(xiàng),并且作為高電壓選項(xiàng)之標(biāo)準(zhǔn)安裝配備。輔助電壓輸入對(duì)系統(tǒng)是極為靈活的附加選項(xiàng),一個(gè)控制系統(tǒng)最多可以測(cè)得5處的同步電壓/阻抗: 

  • 從同一測(cè)試電池之不同部分進(jìn)行同步差分DC電壓測(cè)量,如:在一電池內(nèi)跨陽(yáng)極或陰極,或在一電池堆內(nèi)跨不同單電池。 
  • 陽(yáng)極/陰極阻抗測(cè)量(需要FRA選項(xiàng)) 
  • 與外部監(jiān)測(cè)設(shè)備如:酸度計(jì)、壓力傳感器、光感測(cè)器等進(jìn)行同步DC電壓測(cè)量。 

也可在輔助電壓輸入增加多路器,透過(guò)軟件的自動(dòng)通道切換,對(duì)電池內(nèi)幾乎無(wú)*的點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試

Pstat AUX

高電壓選項(xiàng)

 

在測(cè)試燃料電池堆時(shí),高電壓選項(xiàng)提供高極化電壓與輸出電壓的操作功能。 

高電壓選項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)提供4個(gè)輔助通道(每個(gè)通道在與主參考輸入通道相同的高電壓范圍下操作),能執(zhí)行DC與阻抗測(cè)試,以在高電壓燃料電池堆中找出個(gè)別不良的電池。也可增加多路器,能在電池堆中測(cè)試需要測(cè)試的電池?cái)?shù)(DC與阻抗),請(qǐng)參考輔助電壓輸入選項(xiàng)之詳細(xì)資訊。

HV 30 (30V)
HV 100 (100V)

小電流選項(xiàng)(Femto安培計(jì))

 

標(biāo)準(zhǔn)ModuLab的核心恒電位儀能夠達(dá)到1pA 的分辨率,這個(gè)分辨率對(duì)于許多類(lèi)型的體系已足夠,但對(duì)于要求較高的應(yīng)用,如:微電極研究、高阻抗電池薄膜、納米技術(shù)(納米碳管)及在*阻抗樣品上之腐蝕/涂料應(yīng)用,可能需要更為靈敏的DC電流測(cè)量。

Femto小電流選項(xiàng)是設(shè)計(jì)用于解決極小主電流(100aA)分析。也可結(jié)合FRAMHV高壓選項(xiàng)使用,以測(cè)量*阻抗體系(>100 TΩ )

Femto Ammeter

電流放大器選項(xiàng)

 

ModuLab’s 的標(biāo)準(zhǔn)電流范圍可通過(guò)選項(xiàng)2A內(nèi)置放大器而擴(kuò)大,假如需要更大的電流,也可在系統(tǒng)增加外部功率放大器達(dá)50V/25A

Booster 2A

主機(jī)插槽選項(xiàng)

 

         根據(jù)不同的模塊個(gè)數(shù),按照預(yù)算選擇合適的主機(jī)箱。

Chas 08 
Chas 04

外部功率放大器選項(xiàng)

 

         如果儀器內(nèi)置2A無(wú)法滿(mǎn)足您的應(yīng)用,可以使用外置電流放大器放大恒電位儀的控制電流。

 

Boost 12V20A (+12V/-3V,+20A)
Boost 24V10A (+24V/-3V,+10A)
Boost 50V5A (+50V/-3V+5A)

Boost 50V25A (+50V/-3V,-25A 僅放電模式)

光電化學(xué)選項(xiàng)

 

針對(duì)光電化學(xué),如染料敏化,鈣鈦礦等太陽(yáng)能電池,可見(jiàn)光譜的光電化學(xué)研究,例如氧化鐵媒介的光解水,都可以選配光電化學(xué)選項(xiàng)。

PhotoEchem DSSC

IPCE

軟件

 

         系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)配置軟件

Modulab 軟件

         對(duì)于熟悉先前電化學(xué)測(cè)試軟件如:Zplot 、CorrWareMultiStat的顧客,現(xiàn)在在同一系列產(chǎn)品中有一新型且升級(jí)的套裝軟件稱(chēng)為Zplot.Lab,提供許多增強(qiáng)的電化學(xué)功能。

Zplot.Lab 軟件

 

儀器配置  

可擴(kuò)展模塊化設(shè)計(jì)

ModuLabXM 電化學(xué)工作站系統(tǒng)采用“即插即用”模塊設(shè)計(jì),系統(tǒng)擁有兩個(gè)“智能”的控制模塊:

  • XM PSTAT 1M樣品/秒用于直流時(shí)域測(cè)試控制

  • XM FRA 1MHZ用于交流頻域測(cè)試控制

還有多種擴(kuò)展模塊可放大控制模塊的信號(hào),用以對(duì)樣品施加大電壓/電流極化波形,以及放大/衰減高分辨率信號(hào)返回至控制模塊:

  • XM HV100/HV30—高電壓選項(xiàng),槽壓及極化電壓均可達(dá)(100V/30V

  • XM FEMTO AMMETER—小電流選項(xiàng)(達(dá)fA級(jí))

  • XM BOOSTER 2A—大電流選項(xiàng)(2安培)

 

應(yīng)用

分析/基礎(chǔ)研究 

  ModuLab能夠在*數(shù)據(jù)采集速率下(達(dá)1Ms/s)執(zhí)行測(cè)量,很適用于高速掃描、脈沖或步進(jìn)分析技術(shù)如:快速循環(huán)伏安CV與一般/差動(dòng)脈沖伏安NPV/DPV。

  ModuLab提供超平滑掃描波形和所有階躍類(lèi)型之高速數(shù)采模式選擇。因此,可輕易監(jiān)測(cè)到電流對(duì)連續(xù)DPV脈沖之響應(yīng)波形,以使測(cè)試結(jié)果達(dá)化。實(shí)驗(yàn)順序具有靈活性,能將任何組合之技術(shù)自動(dòng)按順序進(jìn)行,并重復(fù)使用循環(huán)測(cè)試功能。

 

燃料電池、電池及超級(jí)電容 

  ModuLab系統(tǒng)能為電池研發(fā)而測(cè)試各種類(lèi)型電池技術(shù)之特性;小型電池、超級(jí)電容器及應(yīng)用于移動(dòng)通信與PC應(yīng)用的微型燃料電池,都可直接使用ModuLab進(jìn)行測(cè)試。如要測(cè)試較高功率電池,恒電位儀可并聯(lián)連接、或在系統(tǒng)中增加選購(gòu)?fù)獠抗β史糯笃鳌?/span>

  ModuLab提供許多專(zhuān)業(yè)技術(shù),包括陰極/陽(yáng)極阻抗測(cè)量。(能夠提供完整的電池阻抗特性,對(duì)于改善電池電極性能是很重要的)。此外,ModuLab也可提供燃料電池特性諧波分析結(jié)果的診斷信號(hào),以判斷電池狀況是否良好。

  選購(gòu)組合如:輔助通道、高槽壓、功率放大器及頻率響應(yīng)分析儀,是用于對(duì)一個(gè)電池組內(nèi)的多個(gè)電池或燃料電池堆連續(xù)運(yùn)行阻抗及DC測(cè)試,以便在各別電池內(nèi)尋找過(guò)早劣化之跡象。全部電壓達(dá)到100V這么高的燃料電池堆,也可直接選配模塊化電化學(xué)系統(tǒng)進(jìn)行分析。

腐蝕與涂層 

  ModuLab是個(gè)*浮地的系統(tǒng),可在最困難的情況下進(jìn)行測(cè)量。高電壓及femto(毫微=10-15)安培計(jì)選購(gòu)在測(cè)試*阻抗抗腐蝕涂層時(shí)提供更多的可能性。本系統(tǒng)也提供等效電路及Tafel數(shù)據(jù)模擬技術(shù)、線(xiàn)性極化電阻測(cè)量及腐蝕結(jié)果分析。

 

納米技術(shù)/微電極

  從一開(kāi)始,ModuLab就設(shè)計(jì)用于測(cè)量在超微電極如:納米碳管及原子力顯微鏡(AFM)針尖上的電極過(guò)程。ModuLabfemto安培計(jì)選購(gòu),結(jié)合了廣泛組合的電化學(xué)測(cè)量技術(shù),提供超低電流下動(dòng)電位與動(dòng)電流測(cè)量功能。與頻率響應(yīng)分析儀組合,可執(zhí)行*阻抗(>100TΩ)測(cè)量。

 

光電化學(xué)

  • 鈣鈦礦太陽(yáng)能電池

  • 燃料敏化太陽(yáng)能電池

  • 光解水陽(yáng)極研究

  • 光電化學(xué)研究

  • 基于頻域及時(shí)域的測(cè)試,包括 IMPS, IMVS, 帶光強(qiáng)控制的電化學(xué)阻抗譜EIS ;電量抽??;光電壓衰減;I-V曲線(xiàn)測(cè)試用于填充因子,轉(zhuǎn)換效率及光功率測(cè)試。

  • “自動(dòng)”數(shù)據(jù)分析,“一鍵式”計(jì)算“有效擴(kuò)散系數(shù)”及“電子壽命”

    IPCE (入射光子轉(zhuǎn)換效率)

熱門(mén)產(chǎn)品
產(chǎn)品名稱(chēng)參考價(jià)地區(qū)公司名稱(chēng)更新時(shí)間 
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