CSK-IA和CSK-IB試塊的主要用途
該試塊主要用于測(cè)定探傷儀、探頭及的組合性能
兩個(gè)試塊的主要區(qū)別在于：CSK-IB試塊在原有CSK-IA的基礎(chǔ)上增加了測(cè)試斜探頭折射角的刻度面。
使用要點(diǎn)：
1)利用厚度25mm測(cè)定探傷儀的水平線性、垂直線性和動(dòng)態(tài)范圍；
2)利用厚度25mm和高度100mm調(diào)整縱波探測(cè)范圍；
3)利用R50和R100校定時(shí)基線或測(cè)定斜探頭的入射點(diǎn)；
4)利用高度85、91、100ram測(cè)定直探頭的分辨力；
5)利用中40、中44、中50ram曲面測(cè)定斜探頭的分辨力；
6)利用中50有機(jī)玻璃圓孔測(cè)定直探頭盲區(qū)和穿透能力；
7)利用中50曲面和巾1．5橫孔測(cè)定斜探頭的K值；
8)利用高度9lmm(縱波聲程9lmm相當(dāng)于橫波50mm)調(diào)節(jié)橫波1：1掃描速度，配合R100作零位校正；
9)、利用試塊直角棱邊測(cè)定斜探頭的聲軸偏斜角。
CSK-IA超聲波探傷標(biāo)準(zhǔn)試塊
CSK－1B試塊校準(zhǔn)斜探頭的步驟
1．輸入材料聲速：3230m/s 2. 探頭前沿校準(zhǔn) (1)如圖1所示，將探頭放在CSK－1B標(biāo)準(zhǔn)試塊的0位上
2．前后探頭，使試塊R100圓弧面的回波幅度*高，回波幅度不要超出屏幕，否則需要減小增益。
3．當(dāng)回波幅度達(dá)到*高時(shí)，保持探頭不動(dòng)，在與試塊“0”刻度對(duì)應(yīng)的探頭側(cè)面作好標(biāo)記，這點(diǎn)就是波束的入射點(diǎn)，從探頭刻度尺上直接讀出試塊“0”刻度所對(duì)應(yīng)的刻度值，即為探頭的前沿值。(或用刻度尺測(cè)量圖1所示L值，前沿x=100-L。)， 將探頭前沿值輸入“探頭”功能內(nèi)的“探頭前沿”中，探頭前沿測(cè)定完畢。
