一、鋅層測厚儀特點：
1、鋅層測厚儀是用電池供電的便攜式測量儀器， 采用磁感應和電渦流原理。測量方法符合標準ISO2178,ISO2360和國家標準GB4956,GB4957.它采用計算機技術,無損檢測技術等多項*技術,無需損傷被測體就能準確地測量出它的厚度.
2、F型探頭可直接測量導磁材料（ 如鐵、鎳） 表面上的非導磁覆蓋層厚度（ 如： 油漆、塑料、搪瓷、銅、鋁、鋅、鉻等） ?？蓱糜陔婂儗?、油漆層、搪瓷層、鋁瓦、銅瓦、巴氏合金瓦、磷化層、紙張的厚度測量，也可用于船體油漆及水下結(jié)構(gòu)件的附著物的厚度測量。
3、NF型探頭可測量非導磁金屬基體上的絕緣覆蓋層厚度， 如鋁、銅、鋅、無磁不銹鋼等材料表面上的油漆、塑料、橡膠涂層， 也可測量鋁或鋁合金材料的陽極氧化層厚度。
4、具有耐磨硬質(zhì)金屬探針的彈簧導套式探頭,不但能在堅硬或粗糙的表面上進行測量,而且能保證測頭具有不變的壓緊力和穩(wěn)定的取樣值。
5、測量范圍寬,分辨率高。
6、自動記憶校準值,方便使用。
7、一體化結(jié)構(gòu),體積小,重量輕。
8、數(shù)字背光顯示,無視差。
9、可存儲99組數(shù)據(jù)通過測出平均值,zui大值和zui小值實現(xiàn)儀器的統(tǒng)計功能。
10、利用可選的RS232C軟件和電纜,可與PC計算機通訊,實現(xiàn)數(shù)據(jù)的采集,處理,分析和打印功能。
11、本儀器設有自動關機， 實現(xiàn)省電功能。
二、技術參數(shù)：
顯示器4位數(shù)字背光液晶
標準測試范圍0-1250 um
（其他測量范圍可訂制）
zui小曲面:F: 凸 1.5mm/ 凹 25mm N: 凸 3mm/ 凹 50mm
zui小測量面積：6mm
zui薄基底：0.3mm分辨率: 0.1μm/1μm
測量精度:±1-3%n或2.5μm
電池電壓指示：低電壓提示
具有自動識別被測基體的功能。
測量模式單次測量和連續(xù)測量。
具有公英制單位轉(zhuǎn)換功能,實現(xiàn)μm/mil轉(zhuǎn)換。
帶有標準的RS232C接口。
電 源: 2節(jié)7號電池。
操作條件:溫度0-40℃，濕度< 95%
尺 寸126x65x35 mm
重 量81 g 不包括電池

三、執(zhí)行標準
1、GB/T 4956─1985 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測量《磁性方法》
2、GB/T 4957─1985 非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量《渦流方法》
3、JB/T 8393─1996 磁性和渦流式覆層厚度測量儀
4、JJG 889─95 《磁阻法測厚儀》
5、JJG 818─93 《電渦流式測厚儀》

四、儀器校準

A校零

將探頭壓在沒有涂層的基體上（如果客戶沒有空的基體，可以拿砂紙把基體上的涂層磨掉）再按住校零鍵“ZER0”1秒鐘，然后放開，顯示屏上顯示“Zero OK”后，才能松開探頭，否則校零失敗。

B、 目標點校準

1、根據(jù)要測量的涂層厚度，選擇廠家配送比較接近的目標膜片。
2把膜片放在沒有涂層的基體上，把探頭壓到膜片上測量，如果測出來的值與膜片不同，可以通過“+”“—”按鍵來修正(修正時，探頭不能再壓在基體上)
注意：校零和目標點校準時盡量在用戶自己的空基體上進行，如果基體上有涂層，建議用戶先用砂紙磨開一定面積，作為空基體使用，再進行校零。

五、根據(jù)測量原理一般有以下五種類型：
1.磁性測厚法：適用導磁材料上的非導磁層厚度測量。導磁材料一般為：鋼、鐵、銀和鎳。此種方法測量精度高。
2.渦流測厚法:適用導電金屬上的非導電層厚度測量。此種方法較磁性測厚法精度低。
3.超聲波測厚法：目前國內(nèi)還沒有用此種方法測量涂鍍層厚度的，國外個別廠家有這樣的儀器，適用多層涂鍍層厚度的測量或則是以上兩種方法都無法測量的場合。但一般價格昂貴，測量精度也不高.  
4.電解測厚法:此方法有別于以上三種，不屬于無損檢測,需要破壞涂鍍層。一般精度也不高，測量起來較其他幾種麻煩。  
5.放射測厚法:此種儀器價格非常昂貴(一般在10萬RMB以上)，適用于一些特殊場合，國內(nèi)目前使用zui為普遍的是第1和2兩種方法。  
六、常規(guī)涂層測厚儀的原理：
對材料表面保護、裝飾形成的覆蓋層，如涂層、鍍層、敷層、貼層、化學生成膜等，在有關國家和標準中稱為覆層（coating）。   覆層厚度測量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測的重要一環(huán)，是產(chǎn)品達到優(yōu)等質(zhì)量標準的*手段。為使產(chǎn)品化，我國出口商品和涉外項目中，對覆層厚度有了明確的要求。   覆層厚度的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。 
X射線和β射線法是無接觸無損測量，但裝置復雜昂貴，測量范圍較小。因有放射源，使用者必須遵守射線防護規(guī)范。X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時采用。   隨著技術的日益進步，特別是近年來引入微機技術后，采用磁性法和渦流法的測厚儀向微型、智能、多功能、高精度、實用化的方向進了一步。測量的分辨率已達0.1微米，精度可達到1%，有了大幅度的提高。它適用范圍廣，量程寬、操作簡便且價廉，是工業(yè)和科研使用zui廣泛的測厚儀器。 
采用無損方法既不破壞覆層也不破壞基材，檢測速度快，能使大量的檢測工作經(jīng)濟地進行。   

七、出廠清單
1 主機 一臺
2 標準片 一套
3 鐵基體 一塊
4 電池 一對
5 說明書 一本
6 合格證 一份
7 清潔布 一張
8、便攜盒 一只
9、校準膜片一套
（膜片的實際厚度詳見包裝）
可選附件：1.RS232C 通訊電纜和軟件USB適配器
          2.藍牙通訊和軟件

小知識

在很多行業(yè)中，例如化工、電力、金屬、電子等，為了能夠更好的保護各種材質(zhì)的材料不會受到損壞，都會選擇噴涂或者有色金屬把材料覆蓋住，避免材料出現(xiàn)養(yǎng)護以及磷化的情況，因此，就有了貼層、鍍層、涂層、敷層以及化學成膜這些觀點，統(tǒng)一稱為覆層。檢測覆層所噴涂的厚度這是檢測工業(yè)成品生產(chǎn)情況的關鍵步驟之一。覆層檢測厚度的儀器能夠在不損壞成品品質(zhì)的情況下測量出磁性金屬材料上覆蓋的非磁性材料厚度和非磁性材質(zhì)上覆蓋的絕緣物體厚度。涂鍍層測量厚度的設施擁有測量偏差小，可信賴性強、穩(wěn)固定能好、操縱簡便等優(yōu)點，是掌控以及確保成品品質(zhì)*的檢測設施，在生產(chǎn)業(yè)、加工業(yè)、化工業(yè)以及商檢等被普及的使用。 
1 磁力原理測厚儀 
使用*磁鐵從車頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，兩者間的吸力大小和兩者之間相距的距離是一定的比例，覆層的厚度就是這個距離。利用這一原理制成測厚儀，覆層和基材的導磁率差異勾搭，就能夠使用測厚儀進行測量。因為很多工業(yè)成品都是使用鋼以及冷熱軋鋼板制造，因此磁性測厚儀能夠在很多領域得到廣泛的使用。測量設施的根本構(gòu)造是由磁鋼、標尺、拉簧和自停構(gòu)造組成。如果磁鋼和要進行測量的物體吸附之后，其中一個彈簧會慢慢的被拉長，拉力也隨之增加，如果拉力鋼比兩者之間的吸附力大在兩個物體分開時記錄下拉力情況就能夠取得覆層的厚度。普遍來說，按照不一樣的種類又不一樣的量程和適用場所。角度大約在三百五十度的角可以使用刻度在零到一百微米；零到一百微米；零到物毫米的覆蓋厚度，精度在百分之五以上，符合工業(yè)使用的標準。磁吸力測量操縱簡便、堅固實用、不用電源，測量前無須校準，價格較低，在車間現(xiàn)場比較適合選擇這種測量方式。 
2 磁感應原理測厚儀 
使用磁感應原理時，采用從測頭發(fā)出的信號流經(jīng)覆蓋層進入鐵基層，判斷覆蓋層的厚度，覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。因為這是電子測量設施，測量前校準簡便，具有很多能力，擴大儀表標稱范圍的上下兩極限只差的值，提升精準度，因為測試環(huán)境能夠減少很多，所以比磁力式覆層檢測設施使用的范圍更廣泛。線圈纏繞在鐵心上的測頭放置在被測樣本上時，測量設施主動輸出測試信號。zui開始的商品采用指針式表頭，測量感應電動勢的大小，儀器將該信號放大后來指示覆層厚度。近年來的電路設計引入穩(wěn)頻、鎖相、溫度補償?shù)鹊匦录夹g，利用磁阻來調(diào)制測量信號。還采用設計的集成電路，引入微機，使測量精度和重現(xiàn)性有了大幅度的提高（幾乎達一個數(shù)量級）。現(xiàn)代的磁感應測厚儀，分辨率達磁感應測厚儀_電渦流測量原理_磁吸力測量原理及測厚儀_電渦流原理的測厚儀到零點一微米，允許誤差達百分之一，量程達十毫米。能夠說，伴隨著科學技術的前進，在工業(yè)以及科學探索的設施中都得到了廣泛的運用。 
3 電渦流原理測厚儀 
電渦流測厚儀主要應用于金屬基體上各種非金屬涂鍍層的測量。它的工作原理是利用高頻交流電在作為探頭的線圈中產(chǎn)生一個電磁場，將探頭靠近導電的金屬體時，就在金屬材料中形成渦流，且隨與金屬體的距離減小而增大，該渦流會影響探頭線圈的磁通，故此反饋作用量是表示探頭與基體金屬之間間距大小的一個量值，因為該測頭用在非鐵磁金屬基體上測量覆層厚度，所以通常我們稱該測頭為非磁性測頭。非磁性測頭一般采用高頻高導磁材料做線圈鐵芯，常用鉑鎳合金及其它新材料制作。與磁性測量原理比較，他們的電原理基本一樣，主要區(qū)別是測頭不同，測試電流的頻率大小不同，信號大小、標度關系不同。在的測厚儀中，通過不斷改進測頭結(jié)構(gòu)，在配合微電腦技術，由自動識別不同測頭來調(diào)用不同的控制程序，分別輸出不同的測試電流和改變標度變換軟件，終于使兩種不同類型的的測頭接與同一臺測厚儀上，降低了用戶負擔，基于同一思想，可配接達10種側(cè)頭的測厚儀極大地擴展了測厚范圍（達10萬倍以上），可測包括導磁材料表面上的非導磁覆層，導電材料上的非導電覆層及不導電材料上的導電層，基本上滿足了工業(yè)生產(chǎn)多數(shù)行業(yè)的需要。 
4 影響測量精度的因素 
運用覆層檢測厚度設施和運用別的設施都是一樣的，不僅要了解設施的功能，還要清楚能夠檢測的情況。檢測覆層的設施因為所測量基體的電磁性以及磁性和探頭之間的距離進行檢測，因此，見檢測的物體其自身的物理性以及形狀大小都會對電渦流產(chǎn)生影響，對測量結(jié)果也會產(chǎn)生影響，下面我們就講述一下會對測量值的精準度產(chǎn)生影響的因素。 
4.1 邊界間距 
當探頭與被測體邊界、孔眼、空腔、其它截面變化處的間距小于規(guī)定的邊界間距，由于渦流載體截面不夠?qū)a(chǎn)生測量誤差。當必須測量該點的覆層厚度，必須預先在相同條件的無覆層表面進行校準，才能測量。 
4.2 基體金屬zui小厚度 
被測物體的基體一定要給出一個既定的厚度zui小值，能夠讓探頭的電磁場全部包裹在被測物體的金屬中，這里給出的既定厚度zui小值和被測物體的性質(zhì)相關，在這個給出的厚度上開展檢測，不用再修整所測量的結(jié)果。如果基體的厚度達不到標準，所檢測到的數(shù)據(jù)就不是zui精準的，這種情況就需要使用同材質(zhì)的物體緊貼在被檢測物體上。 
4.3 表面粗糙度和表面清潔度 
在粗糙度表面上為獲得一個有代表性的平均測量值必須進行多次測量才行。顯而易見，不論是基體或是覆層，越粗糙，測量值越不可靠?；w金屬和覆蓋層的表面粗糙度越大，影響越大。為獲得可靠的數(shù)據(jù)，基體的平均粗糙度Ra應小于覆層厚度的5%。而對于表面雜質(zhì)，則應予去除。有的儀表上下限，以剔除那些"飛點"。 
4.4 探頭測量時的作用力 
探頭進行檢測時所使用的力應該是一成不變的，改變力應該zui小化，這樣軟的覆蓋層才不會出現(xiàn)變形的情況，導致檢測數(shù)據(jù)不準確。在需要時，可以在探頭以及被檢測物體之間夾一層具有相當厚度絕緣的硬性薄膜，在檢測結(jié)果中減掉薄膜的厚度就能夠得到想要的結(jié)果。 
4.5 外界恒磁場、電磁場和基體剩磁 
測量應該避免在有干擾作用的外界磁場附近開展。因為根據(jù)檢測器的性能殘存的剩磁可能導致或多或少的測量誤差，但是如果是結(jié)構(gòu)鋼，深沖成形鋼板等一般不會出現(xiàn)上述現(xiàn)象。 
4.6 覆層材料中的鐵磁成份和導電成份 
如果覆層使用的材料是某一種顏料的情況下，在覆層材料中含有一些鐵磁元素，這會對檢測的結(jié)果造成不良干擾。所以，用于校對覆層中和被檢測物體覆層一項的電磁性質(zhì)，經(jīng)過校對后就能夠正常的進行檢測。運用的方式可以是把一樣材質(zhì)的覆層材料涂抹在銅或者鋁的試樣品種，使用電渦流檢測方式進行檢測取得對比規(guī)范試樣。