自動、快速、功能強大的環(huán)境顆粒物表征分析
RJ Lee Group 簡介：
RJ Lee Group以者的身份服務(wù)于環(huán)境科學、材料表征、法醫(yī)工程、信息管理等領(lǐng)域，并提供創(chuàng)新解決方案，以科學專長、儀器、技術(shù)、合作精神激發(fā)研究并解決復雜問題。除了實驗室和咨詢業(yè)務(wù)，RJ Lee Group擁有長達40年的持續(xù)研發(fā)、使用掃描電鏡經(jīng)驗，形成一套準確、可靠、直觀的IntelliSEM軟件系統(tǒng)，其經(jīng)驗的廣度與深度無人匹敵，IntelliSEM中凝聚了大量的計算機控制掃描電鏡系統(tǒng)的專業(yè)知識和經(jīng)驗。
系統(tǒng)概要：
RJLee實驗室（RJ Lee Group）研發(fā)的智能掃描電鏡環(huán)境顆粒物分析系統(tǒng)（IntelliSEM EPAS，Enviromental Particle Analysis System）將智能控制技術(shù)和專業(yè)數(shù)據(jù)分析計算方法與掃描電鏡-能譜儀（SEM-EDS）相結(jié)合，可以自動、準確、快速地對環(huán)境樣品中的大批量單顆粒進行表征分析，為用戶提供豐富的專業(yè)軟件工具，具備對數(shù)據(jù)進行可視化分析、挖掘與管理的強大功能。
IntelliSEM EPAS系統(tǒng)的*技術(shù)優(yōu)勢在于兼具分析廣度和深度于一體，具備每小時分析數(shù)萬個單顆粒的快速分析時間效率，完整獲取和記錄每個顆粒物的幾何形狀、能譜以及數(shù)字影像信息，據(jù)此，可以較高的統(tǒng)計置信度獲得環(huán)境樣品的整體特征，并深入探究每個單顆粒的細節(jié)特征。
系統(tǒng)應(yīng)用：
* PM10、PM2.5、PM10-2.5、超細顆粒物的表征研究；
* 揚塵研究；
* 環(huán)境顆粒物中金屬的識別；
* 環(huán)境顆粒物中飛灰的識別；
* 碳顆粒物（煤煙、生物、煤）形態(tài)研究；
* 顆粒物長距離傳輸研究；
* 土壤中金屬的生物可利用率評估；
* 點源和無組織面源排放特征的研究；
* 顆粒物源解析（受體模型）研究；
* UNC被動采樣器樣品的分析；
系統(tǒng)特點：
* 為環(huán)境顆粒物分析量身定做的軟件包；
* *的顆粒物分析功能，快速獲取大量單顆粒物的表征分析數(shù)據(jù)和統(tǒng)計分析結(jié)果；
* 智能化的掃描電鏡-能譜儀分析操作：
> 一鍵選擇設(shè)置分析參數(shù)：亮度/對比度、聚焦、閾值等，無需用戶干預(yù)；
> 實時監(jiān)測、調(diào)準儀器，實現(xiàn)掃描電鏡和能譜儀的全自動化分析運行；
> 自動存儲每個顆粒物的圖像、光譜、測量數(shù)據(jù)；
> 對X射線檢測器進行自動校準和性能檢測；
> 采用圖像分析技術(shù)進行顆粒物快速檢測和精確測量；
> 采用統(tǒng)計算法進行瞬時元素識別和定量；
> 顆粒物分析數(shù)據(jù)的實時分類、排序；
* 遠程控制和遠程分析操作；
* 無縫控制和遠程再定位特定的顆粒以便進一步的詳盡分析；
* 利用IntelliSEM工作臺對顆粒物分析數(shù)據(jù)進行匯總處理/可視化“后分析”；
> 進行“離線”電子顯微分析；
> 對已存儲的顆粒物圖像/光譜數(shù)據(jù)進行統(tǒng)計處理和顯示圖表；
> 在樣品總覽圖像上，以交互式操作方式顯示顆粒物的全部分析數(shù)據(jù)；
系統(tǒng)組成:
勘察者——在線數(shù)據(jù)/圖像采集與分析模塊。其功能是實現(xiàn)對掃描電鏡（SEM）和X射線能譜儀（EDS）的全自動控制，使用智能算法快速大面積掃描樣品區(qū)域，并精細測定每個顆粒物的邊界。在對顆粒物幾何尺寸進行精確測量的基礎(chǔ)上，“勘察者”收集和存儲每個顆粒物的高倍率數(shù)字影像，依據(jù)能譜分析數(shù)據(jù)計算單顆粒的化學元素組成，并將原始能譜數(shù)據(jù)和處理結(jié)果存儲到數(shù)據(jù)庫中?！翱辈煺摺钡闹悄芩惴軌虮ＷC的數(shù)據(jù)采集時間和分辨率，以滿足精確測量和快速分析的要求?！翱辈煺摺庇袃煞N操作模式：“專家模式”和“一鍵模式”，前者允許專業(yè)用戶和微調(diào)數(shù)據(jù)采集的各參數(shù)選項，后者則為用戶提供一個標準參數(shù)設(shè)置方案，限度地簡化了用戶操作。
工作臺——數(shù)據(jù)匯總處理及可視化“后分析”模塊。在工作臺上，可以將“勘察者”采集的原始數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化為用戶需要的分析結(jié)果，并通過豐富的表格、圖形、影像展示出來，以更好地解釋和理解數(shù)據(jù)。平臺提供的工具包括：表單化的表格——展示每個單顆粒的所有信息；總覽圖——將所有的圖像、幾何和能譜數(shù)據(jù)等融合拼接結(jié)合為單一的多層的蒙太奇整體樣品視圖；系列化的圖形工具——生成各種兩相、三相圖及數(shù)據(jù)表；查詢和分類——便于將顆粒物分類，用于研究和制作報告?！肮ぷ髋_”可安裝于任何可以訪問數(shù)據(jù)庫的電腦上，用戶可通過網(wǎng)絡(luò)遠程訪問和處理樣品分析數(shù)據(jù)?！肮ぷ髋_”的功能之強大，就如同在筆記本電腦上安裝了一個掃描電鏡-能譜儀系統(tǒng)。
數(shù)據(jù)庫/圖像存儲——存儲來自“勘察者”所有數(shù)據(jù)的大腦。將強大的關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)庫與網(wǎng)絡(luò)存儲相結(jié)合，任何安裝有“工作臺”的計算機都可以在聯(lián)網(wǎng)狀態(tài)下調(diào)用數(shù)據(jù)庫中的全部數(shù)據(jù)和圖像，IntelliSEM數(shù)據(jù)存儲方法靈活而強大-支持多個數(shù)據(jù)庫，并且該結(jié)構(gòu)可容納幾乎無*的數(shù)據(jù)，這種方法還有助于高效的數(shù)據(jù)分級備份。
IntelliSEM EPAS系統(tǒng)的樣品分析流程：
* 掃描電鏡獲取的灰度影像用于檢出顆粒物；
* 生成每個粒子的單顆粒影像；
* 對每個單顆粒進行45次箱形測量，得到90個直徑數(shù)據(jù)；
* 進行能譜（EDS）測量獲得單顆粒的元素組成；
* 完成分析操作后，在“工作臺”上對數(shù)據(jù)進行解析處理；
樣品采集【UNC被動采樣器】
IntelliSEM EPAS系統(tǒng)的樣品采集采用UNC被動采樣器進行，該采樣器采用北卡羅來納大學技術(shù)，主要以重力沉降的被動采樣方式收集PM2.5、PM10、PM10-2.5 樣品。其*的設(shè)計非常適合用于電鏡分析。
* 技術(shù)
* 與FRM采樣器具有非常好的一致性
* 廣泛應(yīng)用*
服務(wù)領(lǐng)域：
* 環(huán)境空氣質(zhì)量；
* 環(huán)境健康和安全；
* 顆粒物表征；
* 光學顯微鏡；
* 掃描電鏡（SEM）；
* 透射電鏡（TEM/STEM）；
* 拉曼光譜；
* FTIR；
* 冶金行業(yè)；
* *的材料學和納米技術(shù)；
* 建筑材料；
* 生物技術(shù)/醫(yī)藥；
* 刑偵/法醫(yī)；
實驗室實力：
* 透射電鏡（TEM）/掃描電鏡（SEM）；
* 光學顯微鏡；
* 傅里葉紅外線光譜分析儀（FTIR）；
* 拉曼光譜儀；
* 氣相色譜（GC）/氣相色譜質(zhì)譜連用（GCMS）；
* 原子吸收光譜；
* 高效液相色譜（HPLC）；
* 電感耦合等離子體質(zhì)譜（ICP-MS）；
* 離子色譜（IC）；
* 熱重分析儀（TGA）；
* OC/EC分析儀；
* X射線衍射儀（XRD）；
* X射線熒光光譜儀（XRF）；
