"1. 應用范圍:
EXPLORER可以進行常規(guī)的晶相識別和相定量,可以分析晶體尺寸、晶格應變及結晶度的計算。也可以定量分析殘留奧氏體、多晶物篩查、晶體結構分析、殘余應力分析、薄膜分析、深度剖析、相變紋理和優(yōu)先取向和納米粒子分析。
2.概 述
EXPLORER采用模塊化設計,全部組件可以進行拆分為7個模塊,同時可以在5個獨立自由度上檢測樣品。同時EXPLORER可以提供多種配置,如范圍更寬的X射線源、光路、樣品臺和檢測器等,可以滿足各種應用需求。此外將直接傳動轉矩馬達與優(yōu)勢的光學編碼器相結合,確保了儀器的傳動速度和精度,可以勝任各類樣品的定性和定量分析。
3. 技術規(guī)格
3.1 X射線發(fā)生器
3.11 輸出功率: 3 KW(可選配4 kW)
3.12 輸出穩(wěn)定性: < 0.01 % ( 10%電壓波動)
3.13 輸出電壓: 60kv
3.14 輸出電流 : 60A(可選配80A)
3.16 電壓步寬: 0.1kV
3.17 電流步寬: 0.1mA