詳細(xì)說(shuō)明 |
大平臺(tái)硅片檢測(cè) 一、簡(jiǎn)介: 硅片檢測(cè)顯微鏡可以觀察到肉眼難觀測(cè)的位錯(cuò)、劃痕、崩邊等;還可以對(duì)硅片的雜質(zhì)、殘留物成分分析.雜質(zhì)包括: 顆粒、有機(jī)雜質(zhì)、無(wú)機(jī)雜質(zhì)、金屬離子、硅粉粉塵等,造成磨片后的硅片易發(fā)生變花、發(fā)藍(lán)、發(fā)黑等現(xiàn)象,使磨片不合格. 是太陽(yáng)能電池硅片生產(chǎn)過(guò)程中的檢測(cè)儀器之一。大平臺(tái)明暗場(chǎng)硅片檢測(cè)顯微鏡是適用于對(duì)太陽(yáng)能電池硅片的顯微觀察。本儀器配有大移動(dòng)范圍的載物臺(tái)、落射照明器、長(zhǎng)工作距離的平場(chǎng)消色差物鏡、大視野目鏡,圖像清晰、襯度好,同時(shí)配有偏光裝置,及其高像素的數(shù)碼攝像頭. 本儀器配有暗場(chǎng)物鏡,使觀察硅片時(shí)圖像更加清晰,是檢測(cè)太陽(yáng)能電池硅片的微觀形貌分布情況,及硅片的缺陷分析的理想儀器 二、特點(diǎn): u 的光學(xué)設(shè)計(jì),無(wú)限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng),得到優(yōu)質(zhì)的光學(xué)成像質(zhì)量 u 平場(chǎng)無(wú)限遠(yuǎn)超長(zhǎng)工作距離物鏡 u 超大而平坦的視場(chǎng),視場(chǎng)直徑達(dá)到ф26 |
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大平臺(tái)硅片檢測(cè)金相顯微鏡 一、簡(jiǎn)介: 硅片檢測(cè)顯微鏡可以觀察到肉眼難觀測(cè)的位錯(cuò)、劃痕、崩邊等;還可以對(duì)硅片的雜質(zhì)、殘留物成分分析.雜質(zhì)包括: 顆粒、有機(jī)雜質(zhì)、無(wú)機(jī)雜質(zhì)、金屬離子、硅粉粉塵等,造成磨片后的硅片易發(fā)生變花、發(fā)藍(lán)、發(fā)黑等現(xiàn)象,使磨片不合格. 是太陽(yáng)能電池硅片生產(chǎn)過(guò)程中的檢測(cè)儀器之一。大平臺(tái)明暗場(chǎng)硅片檢測(cè)顯微鏡是適用于對(duì)太陽(yáng)能電池硅片的顯微觀察。本儀器配有大移動(dòng)范圍的載物臺(tái)、落射照明器、長(zhǎng)工作距離的平場(chǎng)消色差物鏡、大視野目鏡,圖像清晰、襯度好,同時(shí)配有偏光裝置,及其高像素的數(shù)碼攝像頭. 本儀器配有暗場(chǎng)物鏡,使觀察硅片時(shí)圖像更加清晰,是檢測(cè)太陽(yáng)能電池硅片的微觀形貌分布情況,及硅片的缺陷分析的理想儀器 二、特點(diǎn): u 的光學(xué)設(shè)計(jì),無(wú)限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng),得到優(yōu)質(zhì)的光學(xué)成像質(zhì)量 u 平場(chǎng)無(wú)限遠(yuǎn)超長(zhǎng)工作距離物鏡 u 超大而平坦的視場(chǎng),視場(chǎng)直徑達(dá)到ф26 |