美國i-CHE手持礦石分析光譜儀

采購項(xiàng)目

F8-7000

設(shè)備推薦文件

正本

德

手 機(jī)

一、產(chǎn)品介紹及配置

產(chǎn)品名稱及型號(hào) 美國i-CHE手持礦石分析光譜儀 F8-7000

美國i-CHE手持礦石分析光譜儀 F8-7000

1. 工作條件

● 工作溫度-35～+50℃

● 相對(duì)濕度≤80%

2.產(chǎn)品配置

(1) X熒光光譜分析儀主機(jī)一臺(tái)；

(2) 礦石分析專用測(cè)試軟件一套；

(3) 鋰池(兩塊) ；

(4) 鋰池充器一套；

(5) 專用數(shù)據(jù)下載USB數(shù)據(jù)線一套；

(6) 316標(biāo)準(zhǔn)帽一塊；

(7) 用戶手冊(cè)一份；

(8) 儀器出廠檢驗(yàn)合格證書 ；

(9）窗口保護(hù)膜二片；

(10) 防水主機(jī)保護(hù)一個(gè)；

3. 技術(shù)參數(shù)及指標(biāo)

【重量】基本上重量1.4kg，上池后1.5kg

【尺寸(高x寬x長)】300mm x 90mm x 220mm

【激發(fā)源】射線管靶材4種可選擇 金（Au）、銀（Ag）、鎢（W）、鈀（Pd），

【壓流與功率】大功率微型X射線管50KV、100MA、4W

【濾波器】六種可選擇的濾波器根據(jù)不同的實(shí)物自動(dòng)調(diào)節(jié)

【探測(cè)器】高性能高分辨率SDD射線探測(cè)器

【探測(cè)器制冷溫度】 Peltier效應(yīng)半導(dǎo)體制冷,制冷溫度-35

【標(biāo)準(zhǔn)片】外置316標(biāo)準(zhǔn)帽 帶有測(cè)試窗口保護(hù)功能；

【解析度】<180

【源】8小時(shí)/2塊鋰源及交流源

【處理器】Intel 400MHz StrongArm處理器

【操作統(tǒng)】移動(dòng)Windows CE統(tǒng)

【兼容性】藍(lán)牙

【軟件標(biāo)準(zhǔn)?！?/span>Mining

【數(shù)據(jù)處理】8G大容量數(shù)據(jù)存儲(chǔ)卡≥40, 000組數(shù)據(jù)及光譜圖。

【數(shù)據(jù)分析】多種分析模，包括基本參數(shù)，Compton歸一化，經(jīng)驗(yàn)校準(zhǔn)模。

【數(shù)據(jù)顯示】集中于ppm與百分比（％）顯示，光譜或峰強(qiáng)度（計(jì)數(shù)率）或用戶定的單位

【數(shù)據(jù)輸】RS232串行纜，藍(lán)牙，EXCEL輸出。

【顯示屏】彩色，高分辨率3.5寸TFT工業(yè)級(jí)觸摸屏，大圖標(biāo)圖形界面，任何光線條件下清晰可見；

【外形設(shè)計(jì)】一體化機(jī)身設(shè)計(jì)，堅(jiān)固，防水防塵防凍，有效防振，適合野外、潮濕或低溫等環(huán)境使用。

【安全操作】一觸“扳機(jī)”，軟件自動(dòng)定時(shí)鎖扳機(jī)或自動(dòng)停止測(cè)試防護(hù)功能；判斷測(cè)試窗前沒有樣品后2秒內(nèi)自動(dòng)關(guān)閉X射線

【分析元素】可分析從Mg(鎂)到U（鈾）之間所有元素，本機(jī)標(biāo)配元素
Cr鉻, Mn錳, Fe鐵, Ni鎳, Cu銅, Zn鋅, Hg汞, Pb鉛, Se硒, Zr鋯, Co鈷, V釩, Mo鉬, Ag銀, Cd鎘, Sn錫, Sb銻, Ti鈦, Al鋁, Hf鉿, Ta鉭, W鎢, Re錸, Pd鈀, Au金, Pt鉑, Rh銠, Ru釕, Nb鈮, Bi鉍, Br溴 Th釷 Mg鎂 Si硅 P磷 S硫 Ca鈣 鎂Mg等元素；

【測(cè)試環(huán)境條件】溫度-35～+50℃，濕度＜80%RH。

【校正】儀器出廠前已經(jīng)校正；但儀器仍具有可建立有針對(duì)性的校正曲線功能， 適用于特定樣品的精確測(cè)試

【結(jié)果報(bào)告】儀器配有標(biāo)準(zhǔn)USB接口及藍(lán)牙無線輸，可直接向腦或網(wǎng)絡(luò)存儲(chǔ)設(shè)備輸數(shù)據(jù)，可直接以定制EXCEL格下載測(cè)量數(shù)據(jù)及其X射線譜圖。可設(shè)置用戶權(quán)限、生成定制報(bào)告和打印分析報(bào)告

【防輻射功能】儀器把手和距儀器外殼的10～100㎝的空間范圍內(nèi)，輻射劑量率＜2.5µSv/h。

【元素含量分析范圍】1 PPm到99.99%；

二、產(chǎn)品功能、分析精度及穩(wěn)定性

（一）.功能

1、現(xiàn)場(chǎng)快速分析各種金屬礦石化學(xué)成份及品位，滿足國內(nèi)外各種條件差、沒有分析試驗(yàn)室礦山單位，用于快速分析礦石成份及品位需求。

2、快速普查超大范圍的礦區(qū)，有效測(cè)定帶模，繪制礦山圖、實(shí)時(shí)勘察。

3、現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行礦石品位快速分析，提供礦石貿(mào)易中礦石價(jià)值的合理定價(jià)重要參考。

4、在礦石開采過程，搪孔過程，研磨、濃縮和熔煉過程中進(jìn)行品檢，確定品位，對(duì)濾熔池、存儲(chǔ)塘和鋼槽溶液進(jìn)行分析。

5、對(duì)礦渣、尾礦中殘存的礦石元素分析，再次判定其價(jià)值。

6、污染水、廢水中污染金屬成份、污染模、污染邊界的迅速調(diào)查與測(cè)量。

7、考古業(yè)與藝術(shù)品鑒定正達(dá)到無損檢測(cè)，能適應(yīng)任何類型和形狀的物體進(jìn)行檢測(cè)。

（二）分析精度及穩(wěn)定性

成份分析;

可分析銅 鐵 鈦 釩 鉻 錳 鈷 鎳鋅 鍶 鋯 鉭 鈮 鉬 錫 銻 鉿 鎢 鉛等自然礦石

分析精度及穩(wěn)定性

1） 金屬含量的檢測(cè)限達(dá)20～30ppm，對(duì)這些金屬測(cè)試分析穩(wěn)定的讀取允許差值本儀器已達(dá)到下列標(biāo)準(zhǔn)

A. 檢測(cè)含量大于5%的元素穩(wěn)定的測(cè)試讀取差值小于0.2～0.5%

B. 檢測(cè)含量在0.5～5%的元素穩(wěn)定的測(cè)試讀取差值達(dá)0.1%～0.2%

C. 檢測(cè)含量在0.1～0.5%的元素穩(wěn)定的測(cè)試讀取差值達(dá)0.01～0.03%

D. 檢測(cè)含量低于0.1%的元素測(cè)試讀取變化率10～15%

2）. 可以檢測(cè)分析樣品狀態(tài)固體，粉末。

三、產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)及軟件說明

（一）. 產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)

1、采用高性能的SDD探測(cè)器，具有更高的檢測(cè)精度。

2、實(shí)現(xiàn)現(xiàn)場(chǎng)、快速、無損、準(zhǔn)確的檢測(cè),2-3秒顯示合號(hào)、元素、百分比含量。

3、采用50KV、100mA、4W的X射線管技術(shù)使儀器兼?zhèn)涓脵z測(cè)下限及輻射安全保證。

4、采用智能光束（SmartBeam）可Ti、V精度可達(dá)0.02%,能很好的區(qū)分不銹鋼304 與321,鉻合金P91與9鉻,鈦合金7級(jí)鈦與純鈦等等。

5、更低的探測(cè)器溫度，-35℃的超低溫工作狀態(tài)，使儀器具有的解析度。

6、更高的檢測(cè)精度，多次測(cè)試的平均值統(tǒng)計(jì)功能可有效提高儀器的檢測(cè)精度。

7、不規(guī)則或者很小樣品的智能探測(cè)，如頭發(fā)絲(0.06MM)這樣細(xì)的絲也能立即測(cè)試辨認(rèn)。

8、自動(dòng)停止功能，窗口前無被測(cè)物體，啟動(dòng)儀器會(huì)在2秒后自動(dòng)停止測(cè)試，確保不會(huì)輻射安全。

9、可延伸的探頭對(duì)管道內(nèi)壁、焊縫、小型部件等平常難以接觸的位置進(jìn)行檢測(cè)。

10、儀器自帶高清分辨率顯示屏幕，可在現(xiàn)場(chǎng)查看、編輯測(cè)試息及結(jié)果。。

11、無需借助腦，可在現(xiàn)場(chǎng)添加、編輯、刪除合號(hào)。

12、儀器采用鋁合金具有更強(qiáng)的散熱能力、抗震動(dòng)能力、自動(dòng)防幅射保險(xiǎn)裝置。

13、采用性化一鍵按鈕設(shè)計(jì)，用戶在測(cè)試過程中無需一直壓住按鈕。

14、測(cè)試結(jié)果可以連接腦輸出打印，儀器具有標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試結(jié)果版本，極大便戶編輯、打印結(jié)果息。

15、儀器可以實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)程監(jiān)控功能，維修工程師可以通過互網(wǎng)遠(yuǎn)程進(jìn)行儀器軟件安裝、維修功能，24小時(shí)確保戶機(jī)器不宕機(jī)。

16、儀器采用WindowsCE操作統(tǒng)，確保儀器操作統(tǒng)更穩(wěn)定、功能更強(qiáng)大。

17、儀器自帶標(biāo)準(zhǔn)塊，每次開機(jī)儀器自動(dòng)標(biāo)準(zhǔn)化，標(biāo)準(zhǔn)化通過，儀器才能正常使用。如標(biāo)準(zhǔn)化不通過，儀器則不能使用。確保儀器每次使用都是處于正常精度保證范圍內(nèi)。

18、儀器采用基本參數(shù)法（FPMethod），測(cè)試之前不需要了解測(cè)試樣品的種類，不需要選定測(cè)試曲線。

19、測(cè)試結(jié)果可轉(zhuǎn)成Excel 輸出，也可至個(gè)腦或者是利用藍(lán)牙直接輸至筆記型腦列印輸出，歸檔。

（二）軟件說明

1．儀器工作原理說明

XRF就是X射線熒光光譜分析儀(X Ray Fluorescence Spectrometer) 。 們通

l 常把X射線照射在物質(zhì)上而產(chǎn)生的次級(jí)X射線叫X射線熒光 ，而把用來照射的X射線叫原級(jí)X射線。

l 當(dāng)能量高于原內(nèi)層結(jié)合能的高能X射線與原發(fā)生碰撞時(shí)，驅(qū)逐一個(gè)內(nèi)層而出現(xiàn)一個(gè)空穴，使整個(gè)原體處于不穩(wěn)定的激發(fā)態(tài)，激發(fā)態(tài)原壽命約為10-12~10-14S，然后自發(fā)由能量高的狀態(tài)躍遷到能量低的狀態(tài)。

l 當(dāng)較外層的躍入內(nèi)層空穴所釋放的能量不在原內(nèi)被吸收，而是以輻射形放出，便產(chǎn)生X射線熒光(特征X射線)，其能量等于兩能級(jí)之間的能量差。

l 特征X射線熒光產(chǎn)生 碰撞→躍遷↑(高) →空穴→躍遷↓(低)

l 不同元素發(fā)出的特征X射線熒光能量和波長各不相同，因此通過對(duì)其的能量或者波長的測(cè)量即可知道它是何種元素發(fā)出的，進(jìn)行元素的定性分析。線強(qiáng)度跟這元素在樣品中的含量有關(guān)，因此測(cè)出它的強(qiáng)度就能進(jìn)行元素的定量分析。

2. 軟件工作

光譜儀采用了目前國際上的軟件算法，基本參數(shù)法（FP）。公司經(jīng)過近10年的開發(fā)和完善，使軟件已經(jīng)具備了完善的使用內(nèi)容外，還具備強(qiáng)大的教學(xué)和科研開發(fā)功能。

光譜儀軟件算法的主要處理法

1) Smoothing譜線光滑處理

2) Escape Peak Removal 逃逸峰去除

3) SumPeak Removal 疊加峰去除

4) Background Removal 背景勾出

5) Blank Removal 空峰位去除

6) Intensity Extraction 強(qiáng)度提取

7) Peak Integration 圖譜整合

8) Peak Overlap Factor Method 波峰疊加因素法

四、主要戶名單

以下僅為部分戶參考名單