X熒光光譜測厚儀 日立測厚儀丞普諾 ***詳細介紹
應用領域
鍍層厚度測試;鍍層含量測試；鍍層成分分析 達克羅測試
rohs鹵素環(huán)保檢測 重金屬有害物質檢測
技術指標
元素分析范圍從硫(S)到（U）。
一次可同時分析***多24個元素，五層鍍層
分析檢出限可達2ppm，***薄可測試0.005μm
分析含量一般為2ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以內（每種材料有所不同）
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互獨立的基體效應校正模型。
多變量非線性回收程序
多次測量重復性可達0.1%
長期工作穩(wěn)定性可達0.1%
度適應范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：50KG
客戶案例
電子行業(yè)： 富士康、華碩、三星測試（PCB 焊錫材料的厚度、測試金手指鍍金、鍍鎳等厚度）
家電行業(yè)： 創(chuàng)維 長虹 格力電器 測試 金屬鍍層的厚度
汽車行業(yè)： 日產、寶馬、大眾 、長城 測試特殊鍍層的厚度 以及緊固件鍍層的厚度
傳統(tǒng)電鍍行業(yè)： 浙江環(huán)宇電鍍
達克羅行業(yè)：上海達克羅涂復工業(yè)有限公
