這個(gè)綜合的測(cè)量站可在一臺(tái)測(cè)量站上同時(shí)執(zhí)行表面粗糙度和
輪廓測(cè)量。
根據(jù)測(cè)量任務(wù),可使用 GD 25 驅(qū)動(dòng)裝置進(jìn)行表面粗糙度測(cè)量,或使用 PCV 驅(qū)動(dòng)裝置進(jìn)行輪廓測(cè)量。
兩個(gè)測(cè)量系統(tǒng)通過(guò)組合支架固定到測(cè)量立柱。
- 節(jié)省空間型設(shè)計(jì):兩個(gè)驅(qū)動(dòng)裝置可使用相應(yīng)的組裝支架安裝到 MarSurf ST 500 或 ST 750 測(cè)量立柱
- 一次測(cè)量即可完成粗糙度和輪廓評(píng)估
- 使用 MarSurf LD 130 / LD 260 測(cè)量系統(tǒng)對(duì)組件進(jìn)行高精密度輪廓和粗糙度評(píng)估需要長(zhǎng)行程和*的分辨率
- 只需在軟件平臺(tái)內(nèi)進(jìn)行切換并更換驅(qū)動(dòng)裝置和測(cè)頭等機(jī)械組件即可快速更換粗糙度和輪廓測(cè)量
接觸速度(Z 方向) | 0.1 至 1 mm/s |
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測(cè)桿長(zhǎng)度 | 175 mm, 350 mm |
測(cè)量速度(文本) | 0.2 mm/s 至 4 mm/s |
針尖半徑 | 25 |
掃描長(zhǎng)度末尾(X 方向) | 200 mm |
分辨率 | Z 方向,相對(duì)探針針頭: Z 方向,相對(duì)測(cè)量系統(tǒng): |
掃描長(zhǎng)度開始(X 方向) | 0.2 mm |
取樣角 | 在平滑表面上,取決于偏差: 后緣高至 88°,前緣高至 77° |
定位速度(文本) | X 方向返回速度:0.2 至 8 mm/s Z 方向:0.2 至 10 mm/s |
導(dǎo)塊偏差 | < 1 µm(200 mm 以上) |
測(cè)量原則 | 探針?lè)?/div> |
輸入 | R 測(cè)頭,MFW 250 光學(xué)測(cè)頭 Focodyn*、LS 1*、LS 10* (*僅結(jié)合 PGK 或 GD 120 CNC 驅(qū)動(dòng)裝置) |
測(cè)量范圍 mm | (in Z) 50 mm MFW 250: ±25 µm,±250 µm,( ±750 µm);±1000 µin,±10,000 µin( ±30,000 µm) |
掃描長(zhǎng)度(文本) | 自動(dòng);0.56 mm;1.75 mm;5.6 mm;17.5 mm,56 mm, (.022 / .070 / .224 / .700 / 2.240 英寸), 測(cè)量至擋塊,可變 |
采樣長(zhǎng)度數(shù)量符合 ISO/JIS | 1 至 50(默認(rèn):5) |
測(cè)量力 (N) | 1 mN 至 120 mN 左右 (可在 MarSurf XC 20 中設(shè)置) |
- MarSurf ST 750 測(cè)量立柱
- 平行虎鉗
- 設(shè)備工作臺(tái)
軟件選項(xiàng):
- 輪廓處理選項(xiàng)
- 主波紋度選項(xiàng)
- 用戶定義參數(shù)
- 拓?fù)溥x項(xiàng)
- QS-STAT / QS-STAT Plus 選項(xiàng)
- 螺紋評(píng)定選項(xiàng)
- 將測(cè)量站與一個(gè)測(cè)量支架和兩個(gè)驅(qū)動(dòng)裝置結(jié)合(PCV 200 和 MarSurf GD 25)
- 將測(cè)量站與快速更換支架結(jié)合 (GD 120, PCV 20)
- MarSurf LD 130 / 260 用于對(duì)組件進(jìn)行精密輪廓和粗糙度評(píng)估
- MarSurf XCR 20 包含計(jì)算機(jī)、MidRange Standard、MarSurf XCR 20 軟件、Mahr 許可密鑰
- TFT 顯示器
- MarSurf PCV 200 / MarSurf GD 25 驅(qū)動(dòng)裝置
- MarSurf ST 500 測(cè)量立柱包含組裝支架
- 校準(zhǔn)套件,PGN-3
- MCP 21 手動(dòng)控制面板
- CT 300 XY 工作臺(tái)