CTS-2009多通道TOFD超聲波檢測(cè)儀兼容歐盟EN12668-1:2010標(biāo)準(zhǔn),國(guó)內(nèi)NB/T47013.10,DL/T330,GB/T 23902標(biāo)準(zhǔn),能夠一次性掃查覆蓋200mm厚度焊縫,具備還原缺陷特征功能的合成孔徑聚焦(SAFT)技術(shù),采用工業(yè)級(jí)TFT顯示屏,具有全WVGA分辨率(800×600),*勝任在室外和陽(yáng)光直射的環(huán)境下工作,支持全觸控操作,提高檢測(cè)效率。檢測(cè)儀一次性通過(guò)中國(guó)特種設(shè)備檢測(cè)研究院的檢測(cè)并獲得B級(jí)證書,在類似等效輸入噪聲、凈增益等14個(gè)TOFD檢測(cè)關(guān)鍵指標(biāo)中達(dá)到A類性能指標(biāo)要求。
“3+4+1”多通道設(shè)計(jì):3個(gè)TOFD通道可一次覆蓋200mm厚度的焊縫檢測(cè),傳統(tǒng)射線檢測(cè)的理想替代方案;4個(gè)常規(guī)通道可對(duì)焊縫的表面盲區(qū)和底面盲區(qū)全覆蓋檢測(cè),3個(gè)TOFD通道和4個(gè)PE通道的探頭線由同一根電纜線引出;1個(gè)單通道作為單通道的TOFD檢測(cè)及常規(guī)超聲檢測(cè)復(fù)核。
方波激勵(lì),超保真低噪聲前置放大技術(shù),缺陷識(shí)別更清晰;配合本公司前置放大器CTS-8682,信噪比提高10dB左右。
*的通道間噪聲抑制技術(shù),解決國(guó)內(nèi)儀器多通道間串?dāng)_問(wèn)題。
滿足國(guó)內(nèi)TOFD標(biāo)準(zhǔn)NB/T47013.10、DL/T330、GB/T 23902,兼容EN12668-1標(biāo)準(zhǔn)。
8.4寸工業(yè)級(jí)TFT顯示屏(800×600),全觸控操作,提高您的檢測(cè)效率。
高達(dá)400MHz的A/D采樣頻率,高采樣深度。
一次性TOFD掃描長(zhǎng)度達(dá)40m。
A掃描、B掃描、TOFD掃描等多種探傷功能。
豐富的數(shù)據(jù)接口,雙USB接口,LAN網(wǎng)絡(luò)接口,HDMI高清數(shù)字接口。
多種掃查器可選,為用戶定制專用掃查器,標(biāo)配掃查器為SCQtofd-3。
采用專用航空級(jí)定制數(shù)據(jù)電纜線,信號(hào)傳輸損耗小,柔韌性能特佳。
集成多種標(biāo)定功能:根據(jù)直通波和底波的深度校準(zhǔn),根據(jù)直通波的零刻度校準(zhǔn),根據(jù)底波的厚刻度線校準(zhǔn);滿足各種條件下的圖像標(biāo)定。
集成多種圖像處理功能:合成孔徑聚焦(SAFT)技術(shù)、拉直、差分、對(duì)比度、放大等。
集成多種缺陷標(biāo)記功能:矩形模式、長(zhǎng)度模式、高度模式、自由模式,滿足各類缺陷的標(biāo)記。
掃查圖像可以直接復(fù)制到粘貼板,在報(bào)告中直接粘貼;掃查圖像可另存為圖片,圖片的格式可選BMP/JPEG/TIFF/PNG/GIF;檢測(cè)參數(shù)及缺陷信息易于查看,內(nèi)嵌檢測(cè)報(bào)告模板,檢測(cè)報(bào)告模板可為用戶定制。
內(nèi)嵌曲面工件掃查的工藝參數(shù)計(jì)算工具,平板工件的多通道工藝參數(shù)計(jì)算工具,為用戶提供檢測(cè)工藝設(shè)計(jì)作參考。
離線分析軟件同時(shí)兼容CTS-1008plus及CTS-2009兩款儀器。
存儲(chǔ)容量達(dá)16G(可外接擴(kuò)展到32G),存儲(chǔ)長(zhǎng)度可達(dá)5000m以上(掃查精度);全天候探傷數(shù)據(jù)記錄。
便攜式設(shè)計(jì),重量?jī)H3.0kg(含電池),便于攜帶。
大容量鋰電池,可連續(xù)工作6小時(shí),配備兩塊電池可滿足一天的工作量。
一 功能強(qiáng)大的離線分析軟件
1、主分析軟件
快捷的文件打開(kāi)模式。
多種深度校準(zhǔn)方式選擇。
拉直、差分、對(duì)比度、放大、合成孔徑聚焦(SAFT)、曲線擬合等多種圖像處理方法。通過(guò)鼠標(biāo)滾輪可連續(xù)調(diào)節(jié)對(duì)比度及SAFT窗口,實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)更新圖像。
多種缺陷標(biāo)記方式,矩形、長(zhǎng)度、高度、自由模式可選。
內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)報(bào)告模板,可為用戶定制專用檢測(cè)報(bào)告格式。
原始圖像與SAFT圖像同步顯示,缺陷測(cè)量評(píng)定方便快捷。
圖像可復(fù)制,可另存為各種格式圖片文件,出報(bào)告簡(jiǎn)單輕松。
內(nèi)嵌曲面工件檢測(cè)工藝計(jì)算及多通道檢測(cè)工藝計(jì)算工具。
2、曲面工件檢測(cè)工藝計(jì)算
提供凹面及凸面工件檢測(cè)工藝計(jì)算,快捷得出弧長(zhǎng)、PCS、弦高等工藝參數(shù),弧長(zhǎng)用于調(diào)節(jié)探頭間距,弦高用于修正缺陷高度。
3、多通道檢測(cè)工藝計(jì)算
支持國(guó)內(nèi)NB/T47013及DL/T330兩種標(biāo)準(zhǔn),可同時(shí)設(shè)計(jì)5個(gè)通道的檢測(cè)參數(shù),滿足400mm厚度焊縫的檢測(cè)工藝。可快捷計(jì)算TOFD常用的工藝參數(shù)如探頭中心間距(PCS)、深度覆蓋范圍、底面覆蓋、時(shí)差周期、深度分辨力、掃查面盲區(qū)、中心底面盲區(qū)、軸偏離底面盲區(qū)。
二、 配套探頭及楔塊
系列探頭的頻率范圍為1MHz至10MHz,晶片尺寸范圍為3mm至20mm,系列楔塊的角度為45°、60°及70°,滿足標(biāo)準(zhǔn)推薦使用的要求,覆蓋400mm厚度的檢測(cè)要求。探頭接口規(guī)格為L(zhǎng)5或C5接口。
探頭規(guī)格:
型號(hào) | 頻率(MHZ) | 晶片直徑(mm) |
10N3-T1 | 10 | 3 |
10N6-T1 | 10 | 6 |
7.5N3-T1 | 7.5 | 3 |
7.5N6-T1 | 7.5 | 6 |
5N6-T1 | 5 | 6 |
5N12-T2 | 5 | 12 |
2.5N6-T1 | 2.5 | 6 |
2.5N12-T2 | 2.5 | 12 |
1N20-T3 | 1 | 15 |
型號(hào)說(shuō)明:以10N3-T1為例,10表示探頭頻率,N表示晶片材料代號(hào),3表示晶片直徑,T1表示探頭外殼型號(hào)。
楔塊規(guī)格:
型號(hào) | 鋼中縱波折射角 | 匹配探頭外殼型號(hào) |
ST1-45L | 45° | T1 |
ST1-60L | 60° | T1 |
ST1-70L | 70° | T1 |
ST2-45L | 45° | T2 |
ST2-60L | 60° | T2 |
ST2-70L | 70° | T2 |
ST3-45L | 45° | T3 |
ST3-60L | 60° | T3 |
ST3-70L | 70° | T3 |
型號(hào)說(shuō)明:以ST1-45L為例,ST1表示楔塊型號(hào),匹配的探頭外殼型號(hào)為T1,45表示鋼中折射角為45°,L表示檢測(cè)波形為縱波。
衰減器誤差 | 每12dB ± 1dB | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
等效輸入噪聲 | <40×10-9 V/√HZ | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
脈沖類型 | 負(fù)方波,發(fā)射電壓25~250V連續(xù)可調(diào),步進(jìn)為25V。寬度30~1000ns連續(xù)可調(diào),步進(jìn)為10ns。 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
工作方式 | 單、雙 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
阻尼 | 400、80Ω | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
工作頻率 | 0.5~22.5MHz | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
增益 | 0.0~110.0dB ,步進(jìn)值:0.1、1.0、2.0、6.0dB;0.1dB檔提供智能加速調(diào)節(jié)功能 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
聲速范圍 | 1000~15000m/s ,連續(xù)可調(diào),內(nèi)置30個(gè)常用的材料聲速值 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
ISO 10863-2011 Non-destructive testing of welds - Ultrasonic testing - Use of time-of-flight diffraction technique (TOFD) ISO 15626-2011 Non-destructive testing of welds - Time-of-flight diffraction technique (TOFD) - Acceptance levels ISO 16828-2012 Non-destructive testing - Ultrasonic testing - Time-of-flight diffraction technique as a method for detection and sizing of discontinuities 熱門產(chǎn)品
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