精密分析天平XPE系列功能特點：
精密分析天平XPE系列*大限度地減少靜電荷
我們的 StaticDetect 靜電檢測技術(shù)可檢測樣品或其容器上的靜電荷。 如果稱量錯誤超過用戶定義的限值，則出現(xiàn)警告；然后可以采取防靜電措施。 為了獲得過程安全性，可鎖定稱量結(jié)果的發(fā)布。
精密分析天平XPE系列用戶引導(dǎo)過程管理
梅特勒-托利多的 LabX® 實驗室軟件可在天平觸摸屏上顯示的靈活的 SOP 用戶指南。 利用自動數(shù)據(jù)處理、計算和報告，具有 LabX 軟件的天平可以輕松實現(xiàn)過程安全性和可追溯性要求，并支持您實現(xiàn)無紙化實驗室。
精密分析天平XPE系列結(jié)果可靠
超越系列分析天平將獲得磚利的梅特勒-托利多稱量技術(shù)與數(shù)十年的稱量專業(yè)知識相結(jié)合，確保您快速、可靠地獲得*佳的稱量結(jié)果！
精密分析天平XPE系列易于清潔
憑借*的網(wǎng)格秤盤和可在數(shù)秒鐘內(nèi)拆卸的防風(fēng)罩，始終確保稱量區(qū)域清潔、安全。
精密分析天平XPE系列規(guī)格型號：
