儀器簡介:
XP/XS分析天平快速安全的滿足所有稱量需求。其中,XP分析天平具有全面的質量管理工具(QM),滿足質量保證的要求,特別適合于例如制藥行業(yè)的嚴格法規(guī)環(huán)境。而XS分析天平,配合其創(chuàng)新選件,為快速高效的稱量過程設立了全新標準。
主要特點:
1. 采用高精度高分辨率后置式傳感器,滿足用戶高精度的稱量需求;
2. 具有中文界面的TFT彩色觸摸屏(SmartScreen)或觸摸屏(TouchScreen),實現(xiàn)安全、便捷的天平操作;
3. 紅外感應器(SmartSens)*,實現(xiàn)無需用手接觸的稱量操作:開關門、打印、去皮等;
4. 網格秤盤(SmartGrid),獲得快速、準確的稱量結果;
5. 水平控制系統(tǒng)(LevelControl)*,在天平偏移水平位置時提供警告提示功能;
6. 專業(yè)級全自動校準技術(proFACT)或全自動校準技術(FACT),溫度漂移和時間觸發(fā)的自動內置砝碼校正和線性校正,獲得精確稱量結果;
7. 最小稱量值(MinWeigh)功能,提供符合法規(guī)的稱量幫助(需要梅特勒-托利多客戶服務工程師現(xiàn)場設置激活);
8. 天平校驗功能(BalanceCheck)*,自動提示用戶使用外部砝碼校正天平,確保稱量結果始終準確;
9. 顯示屏塑料保護罩,避免散落樣品的腐蝕;
10. 標配RS232通訊接口和一個可用于藍牙、以太網、LocalCAN、RS232和PS/2通訊接口選件插槽,方便連接打印機、電腦等外圍設備;
11. 符合GxP規(guī)范的稱量結果輸出,獲得完整的、可追溯的稱量信息;
12. GWPExcellenceTM一體化安全功能,確保天平始終正確工作;
技術參數(shù):
XP分析天平:量程120g~520g,可讀性0.01mg~0.1mg
XS分析天平:量程120g~220g,可讀性0.01mg~0.1mg
型號 | 稱量值[g] | 可讀性[mg] | 重復性(sd)[mg] | 線性誤差[mg] | 典型穩(wěn)定時間[s] | 秤盤尺寸(W*D)[mm] |
XP105DR | 31/120 | 0.01/0.1 | 0.015/0.06 | 0.15 | 1.5 | 78*73 |
XP205 | 220 | 0.01 | 0.03 | 0.1 | 2.5 | 78*73 |
XP205DR | 81/220 | 0.01/0.1 | 0.015/0.06 | 0.15 | 1.5 | 78*73 |
XP204 | 220 | 0.1 | 0.07 | 0.2 | 1.5 | 78*73 |
XP504 | 520 | 0.1 | 0.12 | 0.4 | 1.5 | 78*73 |
XP504DR | 101/520 | 0.01/0.1 | 0.1/0.6 | 0.5 | 1.5 | 78*73 |