德國InstrumentSystems光譜儀/光學(xué)探頭/輻射亮度測量探頭/光譜儀配件TOP200–用于輻射和亮度測量的光學(xué)探頭TOP200光學(xué)探頭基于普里查德式光學(xué)設(shè)計(jì)，帶有集成式取景相機(jī)。  

產(chǎn)品特長：  

1、普里查德式光學(xué)設(shè)計(jì)配有傾斜度僅15º的孔鏡，可以提供非常圓的清晰圖像點(diǎn)  

2、光纖的靈活連接和獲取可重現(xiàn)讀數(shù)的L模式混合器，以及極低的偏振靈敏度  

3、可通過軟件選擇的6種測量點(diǎn)大小  

4、具有寬視場的內(nèi)部取景相機(jī)  

5、小的測量點(diǎn)：80µm  

6、測試對象的可選照明  

7、TOP150是具有單孔徑的低成本替代產(chǎn)品。  

測量應(yīng)用  

測得的輻射強(qiáng)度由TOP200通過多模光纖耦合到光譜儀中。InstrumentSystems的L模式混合器可確保光纖中的光透射均勻，即使光纖位置改變，也可產(chǎn)生可重現(xiàn)讀數(shù)。  

普里查德原則支持在測量過程中觀察視場，并監(jiān)控視場進(jìn)行準(zhǔn)確定位。取景相機(jī)的圖像由SpecWinPro軟件自動導(dǎo)入并與讀數(shù)一起保存。