減少測試設(shè)置、執(zhí)行和分析時(shí)間
設(shè)置和運(yùn)行測試簡單快速，無需編寫測試程序。 DAQ6510 數(shù)據(jù)采集和記錄萬用表系統(tǒng)的直觀觸摸屏能夠提供簡單的配置，以及可視的直觀測試設(shè)置、實(shí)時(shí)的掃描狀態(tài)可視信息，可盡早捕捉問題以避免丟失測試時(shí)間，便于分析測試數(shù)據(jù)。
特點(diǎn)
配置：使用一個(gè)測量和掃描配置菜單設(shè)置具有多種測量功能的多通道掃描。
運(yùn)行和監(jiān)視：在測試過程中顯示掃描進(jìn)度，即時(shí)查看超出范圍的測量結(jié)果和超出的限制。
分析：使用繪圖和統(tǒng)計(jì)功能顯示和分析結(jié)果。 使用觸摸屏的手指開合縮放功能深入研究結(jié)果。 使用光標(biāo)計(jì)算關(guān)于數(shù)據(jù)段的統(tǒng)計(jì)信息。
執(zhí)行更廣泛的測量
DAQ6510 采用 6½ 位分辨率和 15 個(gè)內(nèi)置測量功能進(jìn)行測量。 執(zhí)行低電流、低電阻和溫度測量，并使用內(nèi)置數(shù)字化器查看瞬態(tài)信號。
特點(diǎn)
電壓：100 nV 至 1000 V，基本 DCV 精度為 0.0025%
電流：10 pA 至 3A
電阻：1μΩ 至 120MΩ
電容：0.1 pF 至 100 μF
使用熱電偶、電阻溫度檢測器和熱敏電阻進(jìn)行溫度測量（溫度范圍為 -200°C 至 1820°C）
1 M 采樣/秒、16 位數(shù)字化器和可容納 700 萬個(gè)讀數(shù)的存儲(chǔ)
通過 12 個(gè)插件開關(guān)模塊和高達(dá) 80 個(gè)通道的容量為測試系統(tǒng)提供更多選擇
流式傳輸和記錄數(shù)據(jù)以確保基于云的數(shù)據(jù)可視化
現(xiàn)在，您可以流式傳輸來自 DAQ6510 的數(shù)據(jù)，并創(chuàng)建實(shí)時(shí)物聯(lián)網(wǎng)儀表板和可在任何地方訪問的數(shù)據(jù)可視化
特點(diǎn)
直接從任何地方實(shí)時(shí)監(jiān)測和記錄來自 DAQ6510 的數(shù)據(jù)流，無需中間 PC。
使用基于測量閾值和其他數(shù)學(xué)規(guī)則的觸發(fā)器獲取電子郵件和文本警報(bào)。
從任何地方訪問、可視化、存檔、分享、轉(zhuǎn)換和分析當(dāng)前和歷史數(shù)據(jù) - 無需安裝。
創(chuàng)建儀表板以實(shí)現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)化、可重復(fù)性和可讀性。
疊加、時(shí)間膨脹和在不同的測試運(yùn)行中比較數(shù)據(jù)集
縮短測試時(shí)間
在最短時(shí)間內(nèi)限度地收集數(shù)據(jù)。 更快速地測量，更快地切換通道，以及掃描更多通道。
特點(diǎn)
對 60 Hz (50 Hz) 的電源線進(jìn)行短至 0.0005 個(gè)電源線周期或 8.3μs (10 µs) 的測量。
使用固態(tài)多路復(fù)用器插件開關(guān)模塊以每秒 800 個(gè)通道的速率進(jìn)行掃描。
掃描多達(dá) 80 個(gè) 2 極通道，可在單次測試中測試有統(tǒng)計(jì)學(xué)意義的數(shù)量的 DUT。
快速可靠地連接到您的 DUT
如果您開始通過其許多插件開關(guān)模塊的接線頭 D-sub 連接，DAQ6510 甚至可以在您開始測試前就提高您的工作效率。 這可以在系統(tǒng)維護(hù)期間或在您設(shè)置新測試系統(tǒng)時(shí)，限度減少更換插件開關(guān)模塊時(shí)產(chǎn)生的停機(jī)時(shí)間。
從一組完整的界面選項(xiàng)中進(jìn)行選擇
可將標(biāo)準(zhǔn) LAN、LXI 和 USB 接口輕松集成到您的測試系統(tǒng)中。 （可選）可在現(xiàn)場安裝的 GPIB 和 RS-232 接口包括 6 個(gè)數(shù)字 I/O 端口，可實(shí)現(xiàn)直接儀器間同步和通信。 DAQ6510 可以輕松與您選擇的任何 PC 接口配合使用。
