- 一實桌上型低濕恒溫恒濕試驗箱主要是由歐洲研發(fā)中心推出的試驗箱,緊湊的設計,特別適合實驗室,高校,研究所的小樣品試驗場所。運用DHSPLCON技術將低濕小型恒溫恒濕試驗箱使用壽命大大延長。一實儀器成型于歐洲,產銷于國內,對標*,價格親民。為電子、電工、儀表、零部件、材料等試驗樣品提供穩(wěn)定的高低溫試驗+濕度環(huán)境。適用于各類高校,專業(yè)實驗室研究開發(fā)及對空間要求較高環(huán)境使用。
產品優(yōu)勢:
款式多樣,規(guī)格齊全
緊湊,機身小容積大
帶視窗設計,歐司朗高亮度照明
模擬環(huán)境多樣化,一臺可頂多臺低端設備
占地小,體重輕,可2臺乃至多臺疊放
操作方便:標配彩色觸摸屏控制,兼有程序設定功能
可移動性強,噪聲低,溫濕度范圍廣,節(jié)能省電環(huán)保
控制器具有可進行可靠性試驗用的恒定值運轉設定,還有針對溫度特性試驗用的溫濕度組合交變等的編程設定功能
記錄量大:實時記錄大亮采樣數(shù)據(jù),并可是現(xiàn)在PC機上打印曲線
高可靠性:為提高整機的可靠性,主要部件有國內外專業(yè)廠商提供
安全保護:溫度過升保護,試品保護,設備自身保護,操作人員安全保護
其他:
使用環(huán)境溫度:+5~+35℃ (降溫保障+5~+28℃)
安全配置:漏電保護、短路保護、壓縮機超壓保護、壓縮機過載保護、風機過載保護、超溫保護、相序/缺相保護
附件標準配置:
照明燈*1
直徑50mm引線孔*1;
AISI304樣品架:1個
通訊方式: USB(標配)
圓形腳輪:4只 (50L以上)
選配:
以太網(wǎng)/ /CF/SD存儲卡(選配)
RS485/232(選配)
合作伙伴:
技術參數(shù)
容積
L
16
27
37
50
100
溫度范圍
℃
0(-20,-35,-65)/180
溫度波動度
℃
±0.3~±1.0
±0.1~±0.5
溫度均勻度
℃
±0.5~±2.0
±0.5~±1.5
升溫速率
℃/min
2.0~3.0
降溫速率
℃/min
0.7~1.0
濕度范圍
%RH
(超低濕)15%~98%/(極低濕)1%~98%
工作室尺寸(mm)
W
310
300
400
370
400
D
230
300
300
370
500
H
205
300
300
370
500
外形尺寸 (mm)
W
510
500
600
570
600
D
770
840
930
1100
1220
H
650
760
830
1100
1125
負載
Kg/㎡
200
噪音
dB(A)
52
54
55
56
56
電源
220V±10% 50HZ
功率
KW
1.0
1.0
1.5
1.8
2.2
冷卻方式
風冷
執(zhí)行與滿足標準及試驗方法
GBT 10586-2006濕熱試驗箱技術條件
GB/T2423.1-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A:低溫 IEC 60068-2-1:2007
GB/T2423.2-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫 IEC 60068-2-2:2007
GB/T2423.3-2006 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cab:恒定濕熱試驗IEC 60068-2-78:2001
GB/T2423.4-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Db:交變濕熱(12h+12h循環(huán))
IEC 60068-2-30:2005
GBT 2423.9-2001 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分 試驗方法 試驗Cab 設備用恒定濕熱IEC 60068-2-56:1988IDT
GB/T2423.22-2002電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗N:溫度變化IEC 60068-2-14:1984
GJB150.3A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第3部分: 高溫試驗
GJB150.4A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第3部分: 低溫試驗
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