高低溫濕熱試驗(yàn)箱主要是針對(duì)于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫、濕熱的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。 該試驗(yàn)設(shè)備主要用于對(duì)產(chǎn)品按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求，在低溫、高溫、高溫高濕條件下，對(duì)產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測(cè)試，測(cè)試后，通過(guò)檢測(cè)，來(lái)判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。
溫度沖擊試驗(yàn)設(shè)備（兩廂式）
適用范圍：主要用于航天、航空、電工、電子產(chǎn)品、
材料及各種零部件的高低溫沖擊試驗(yàn)和周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗(yàn)。
執(zhí)行/滿足標(biāo)準(zhǔn)：
GB/T2423.1-2008 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法
GB/T2423.2-2008 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法
GB/T2423.22-2002 試驗(yàn)N：溫度變化試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Na
GJB 150.3A-2009 高溫試驗(yàn)
GJB 150.4A-2009 低溫試驗(yàn)
GJB 150.5A-2009 溫度沖擊試驗(yàn)
IEC60068-2-1:2007試驗(yàn)A 低溫試驗(yàn)方法
預(yù)冷室控制方式：
1、強(qiáng)制循環(huán)通風(fēng)，使用選進(jìn)的能量調(diào)節(jié)方法恒溫，在制冷系統(tǒng)連續(xù)工作的情況下，控制系統(tǒng)根據(jù)設(shè)定之溫度點(diǎn)通過(guò)PID自動(dòng)運(yùn)算輸出的結(jié)果去控制制冷輸出量（冷端輸出），控制制冷劑進(jìn)入蒸發(fā)器的流量，從而達(dá)到低溫時(shí)的一種動(dòng)態(tài)平衡。
2、此方法的優(yōu)點(diǎn)是在做低溫試驗(yàn)時(shí)可以不開(kāi)啟加熱系統(tǒng)，克服了原熱平衡法能耗大的缺點(diǎn)，大大提高了經(jīng)濟(jì)實(shí)用性，很大程度地降低了用戶的使用成本（用電量約為熱平衡法的50%）。加熱系統(tǒng)主要用于高溫試驗(yàn)及低溫試驗(yàn)結(jié)束后的除霜。
3、沖擊試驗(yàn)類型：由用戶自行選擇運(yùn)行程序即可。
高低溫濕熱試驗(yàn)箱主要是針對(duì)于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫、濕熱的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。 該試驗(yàn)設(shè)備主要用于對(duì)產(chǎn)品按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求，在低溫、高溫、高溫高濕條件下，對(duì)產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測(cè)試，測(cè)試后，通過(guò)檢測(cè)，來(lái)判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。
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