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歐戟進(jìn)口Desoutter 6159175430
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Hengstler | AC58/0017EK.42SGB |
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隨著電子技術(shù)及印制板制造技術(shù)的發(fā)展,電路板已經(jīng)成為電子產(chǎn)品的重要組成部分,用印制電路板制造的電子產(chǎn)品具有可靠性高、一致性好、機(jī)械強(qiáng)度高、重量輕、體積小、易于標(biāo)準(zhǔn)化等優(yōu)點。但是隨著電子產(chǎn)品設(shè)計越來越復(fù)雜,印刷電路板的密度也日趨增加,因此印刷板的測試及修理也愈加困難。為了提高印刷電路板的檢測及維修的自動化程度,本文設(shè)計了一種通用的電路板自動測試系統(tǒng),系統(tǒng)從針床到測試軟件的各個環(huán)節(jié)都采用了開放型的設(shè)計,通用性很強(qiáng)。
本系統(tǒng)的主要目的是測試電路板是否工作正常,是通過對電路板上關(guān)鍵信號進(jìn)行測試來達(dá)到的。因此,本系統(tǒng)的任務(wù)就是對電路板上的關(guān)鍵信號進(jìn)行采集,通過PC端的軟件進(jìn)行分析得出測試結(jié)果。系統(tǒng)分為針床、信號采集和傳輸模塊、測試軟件3個部分。作為一個通用的測試系統(tǒng),在3個部分中均考慮了較強(qiáng)的通用性。
本自動測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)框圖見圖1。系統(tǒng)的工作原理是:通過針床將待測信號導(dǎo)出,F(xiàn)PGA通過控制多路模擬開關(guān)將待測信號采集進(jìn)來,將數(shù)據(jù)通過相應(yīng)協(xié)議傳送到PC機(jī),用自動測試軟件測試各個信號是否正常。
圖1系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖
由于待測信號的頻率相差較大,有直流信號,也有頻率高于103MHz的脈沖信號,以及在其間的多種頻率的信號,因此本系統(tǒng)采用低頻和高頻2組信號采樣電路,來適應(yīng)不同信號采集的需要。
本系統(tǒng)中用到的主要芯片有:主芯片EP2S63,AD采樣芯片AD7864和AT84AD331。以下對這3種芯片進(jìn)行簡要介紹:
EP2S63是altera公司的Strati系列的FPGA,該系列的FPGA采用先進(jìn)的93nm生產(chǎn)工藝;將FPGA性能推向了新高度,該系列是業(yè)界最快、密度的FPGA。EP2S63擁有多達(dá)84個專用LVDS差分邏輯接收通道,每個LVDS通道數(shù)據(jù)傳輸速率達(dá)1Gb/s。其內(nèi)部具有專門的高速數(shù)字鎖相環(huán)電路,能夠產(chǎn)生可供ADC電路使用的時鐘信號。
AD7864是一種較低速、低功耗、可以4通道同時采樣的12bA/D轉(zhuǎn)換器。它擁有12位A/D轉(zhuǎn)換器,可同時采樣4個輸入通道,并具有4個采樣、保持放大器;單電源供電(+5V),多個轉(zhuǎn)換電壓范圍,對于每一個模擬輸入通道均有過壓保護(hù)電路;4通道同時工作時,最大采樣率為133kHz。
AT84AD331是Atmel公司生產(chǎn)的高速采集芯片。該器件集成了兩路(I和Q)獨(dú)立的ADC,具有8b轉(zhuǎn)換精度,每個通道具有l(wèi)Gs/s的采樣率,在交錯模式下采樣率達(dá)2Gs/s。該芯片基于高速應(yīng)用場合的要求,模擬輸入、數(shù)字時鐘輸入、數(shù)字時鐘輸出、數(shù)據(jù)輸出,同步時鐘輸出都采用差分方式。數(shù)據(jù)輸出采用LVDS標(biāo)準(zhǔn),其傳輸率可達(dá)1Gb/s,使用其內(nèi)部的多路分離器,可以降低輸出數(shù)據(jù)率,也可以方便地與多種類型的高速FPGA直接相連。采用1∶2模式時,輸出數(shù)據(jù)速率降為533Mb/s,可以滿足多數(shù)FPGA接收數(shù)據(jù)的要求。
針床是電路板測試系統(tǒng)的重要部件,是電路板信號導(dǎo)出的平臺。針床的通用性較差,一般是每種電路板對應(yīng)一個特定的針床,這使系統(tǒng)的通用性受到很大的限制。為使針床具有一定的通用性,本系統(tǒng)中對針床的相關(guān)部件進(jìn)行了一些改進(jìn):
圖2針床示意圖
(1)探針設(shè)計。探針見圖2a。本探針是以目前市場上的探針為基礎(chǔ)、自行設(shè)計的內(nèi)含彈簧的探針,易于固定,信號導(dǎo)出方便:
探針的一端為探頭,是與電路板接觸,并導(dǎo)出信號的部分;另一端是固定座,是絕緣體,中空,內(nèi)含彈簧,使探頭能夠伸縮;中間為信號的導(dǎo)出端子。為減少各個信號間的干擾,導(dǎo)線均采用屏蔽線。為適應(yīng)不同信號要求,按粗細(xì)和允許的信號帶寬要求探針分為多種型號,使用時根據(jù)需要對探針型號進(jìn)行選擇。
(2)探針的固定:在本系統(tǒng)的針床上,探針的固定是采用兩塊相同的探針固定板和4塊擋板組成,固定板和探針的固定示意圖見圖2b和圖2c:固定板的大小與待測板相同,板上固定孔位置需根據(jù)電路板的技術(shù)文件來確定,孔的大小需根據(jù)選取探針的型號來決定。擋板可以在整個針床的底座上進(jìn)行移動調(diào)整,以適應(yīng)不同尺寸電路板的固定要求;擋板的寬度,前后兩個為233mm,左右兩個為73mm。
3.2信號采集
電路板上輸出的待測信號主要有三類:電源信號、脈沖數(shù)字信號、電平變換信號。此外還有一些頻率較高的模擬信號,如音視頻信號,此類信號一般不作為關(guān)鍵測試信號,若需測試時可按高頻信號進(jìn)行采集。其中電源信號和電平變換信號均可視為直流信號來采集,用AD7864完成采集。而脈沖數(shù)字信號的頻率較高,動輒就幾十兆赫茲甚至上百兆赫茲,需要用高速的AD(本系統(tǒng)中用的是AT84AD331)來進(jìn)行采集,并且需要對頻率進(jìn)行測量。因此本系統(tǒng)信號采集分為低頻和高頻兩個部分,下面分別敘述:
(1)低頻部分。本部分主要采集的是電源信號和電平變換信號,采用AD7864作為采集芯片。AD7864具有片內(nèi)時鐘、讀寫允許邏輯、多種通道選擇方式以及內(nèi)部精確的2.5V參考電壓,這使得其與高速處理器的接口變得非常簡單。AD7864轉(zhuǎn)換后的數(shù)據(jù)讀取采用轉(zhuǎn)換后讀取數(shù)據(jù)的方式,其讀取時序見圖3。
圖3AD7864數(shù)據(jù)讀取時序圖
采集到的數(shù)據(jù)為D3~D11共12位,需根據(jù)采集到的數(shù)據(jù)來計算電壓值,計算公式如下:
當(dāng)D11位為3時,電壓為正值,計算公式為:
當(dāng)D11位為1時,電壓為負(fù)值,計算公式為:
以上兩式中D為讀取的12位數(shù)據(jù),F(xiàn)SR為AD7864的測量范圍,本例中為23V(測量范圍為V)。
(2)高頻部分。主要是對脈沖數(shù)字信號的采集,包括頻率測量和信號采集兩個部分。脈沖數(shù)字信號的頻率是確定電路板是否工作正常的重要參數(shù),因此確定脈沖信號的頻率是否正常是本測試系統(tǒng)的必要工作。本系統(tǒng)是將待測信號接入FPGA與53MHz的高精度時鐘同時開始計數(shù),一段時間后,通過兩個信號的計數(shù)值來計算脈沖信號頻率的。信號采集是以AT84AD331作為采集芯片。AT84AD331與EP2S63的連接見圖4。
圖4AT84AD331接口圖
AT84AD331可以配置成I路和Q路單獨(dú)使用,此時可以同時采集兩路信號,采樣率為1Gs/s;也可以配置成I和Q路的交錯采樣,此時只能采集1路信號,等效采樣率為2Gs/s,使用時可以根據(jù)需要對該芯片進(jìn)行在線配置。FPGA對AT84AD331數(shù)據(jù)讀取時序見圖5。
圖5AT84AD331數(shù)據(jù)讀取時序圖
由于AT84AD331輸入信號為差分信號,且信號峰峰值要求不超過533mV。電路板上的待測信號都是單端的并且峰峰值一般在4V~5V之間。本系統(tǒng)中采用了13∶1的變壓器耦合輸入方式,可以完成單端信號到差分信號的轉(zhuǎn)換,并且使信號電壓滿足要求。
在FPGA內(nèi)部完成對LVDS信號的讀取、組合、排序以及存儲等操作。一般情況下存儲的采樣點的值在1333以內(nèi),然后對這些采樣點的值進(jìn)行計算,可以得到實際電壓值,計算公式如下: