美國TSI 掃描電遷移率粒徑譜儀SMPS-3938
產(chǎn)品介紹:
TSI的掃描電遷移率粒徑譜儀廣泛用于測量空氣中的顆粒尺寸分布的標(biāo)準(zhǔn)。這一系統(tǒng)也經(jīng)常用來使懸浮在液體中的顆粒尺寸的測量精度。美國國家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究所（-NIST）使用一個TSID Ma尺寸為60nm和100nm的標(biāo)準(zhǔn)尺寸的參考材料。掃描電遷移率粒徑譜儀是一個精確地粒徑檢測技術(shù)，沒有假設(shè)顆粒的形狀粒度分布而直接測量數(shù)濃度。該方法是獨立的顆?；蛄黧w的折射率，并具有高度的尺寸精度和測量重復(fù)性。
特點和優(yōu)點
◎高分辨率數(shù)據(jù)：多達167個通道;
◎廣泛的尺寸范圍：從2.5nm到1000nm;
◎ISO15900:2009兼容;
◎快速測量：＜10秒掃描;
◎?qū)挼臐舛确秶鷥?nèi)，107particles/cm3;
◎的靈活性組件的設(shè)計;
◎無需電腦的操作，觸摸屏控制;
◎易于安裝與不安裝工具和自動發(fā)現(xiàn)部件;
◎離散粒子測量：適用于多模樣本;
◎獨立的顆粒和流體的光學(xué)性質(zhì);
◎?qū)挿秶南到y(tǒng)的選擇：水或丁醇計數(shù)器供選擇；傳統(tǒng)的或非放射性中和器的選擇。
