哈爾濱市數(shù)字式局部放電巡檢儀

一、產(chǎn)品概述

是測量、分析電力設(shè)備絕緣性能以及對局部放電源定位的儀器；本系統(tǒng)采用現(xiàn)代電子和計算機(jī)綜合技術(shù)，實現(xiàn)信號放大（模擬、電子、數(shù)字）、濾波、數(shù)據(jù)采集、數(shù)據(jù)處理、圖形顯示、試驗報告自動生成，從而完成局部放電的測量，分析與定位。

本儀器攜帶方便、測量快速，抗干擾能力強(qiáng)，便于現(xiàn)場使用。其配置的軟件主要包括局部放電巡檢以及局部放電定位兩部分。其中局部放電巡檢配置的軟件具有時域圖形、2D、3D統(tǒng)計圖譜、報警歷史、歷史大、脈沖計數(shù)等功能，此外還可以詳查分析某個相位波形，窗口隨意放大和縮小，對該段數(shù)據(jù)進(jìn)行頻譜分析，分析放電波形的頻譜含量，使放電波形之間更具可比性，全面統(tǒng)計分析試驗數(shù)據(jù)，減少試驗中非穩(wěn)定性因素對試驗結(jié)果的影響，采用自動或手動記錄保存試驗數(shù)據(jù)和瞬態(tài)放電波形，可對后期數(shù)據(jù)分析提供參考。局部放電定位配置的軟件通過電信號和聲信號的時間差對局部放電源進(jìn)行定位，有助于及時發(fā)現(xiàn)故障隱患，提高局部放電活動測量的實效性。

哈爾濱市數(shù)字式局部放電巡檢儀

二、引用標(biāo)準(zhǔn)

高壓開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)的共用技術(shù)要求 DL/T 593

3.6kV～～40.5kV 交流金屬封閉開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備 DL/T 404

3.6kV～～40.5kV 交流金屬封閉開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備 GB 3906

局部放電測量GB/T 7354

電力設(shè)備局部放電現(xiàn)場測量導(dǎo)則 DL/T 417

高電壓試驗技術(shù) *部分：一般試驗要求 GB/T 16927.1

高電壓試驗技術(shù) 第二部分：測量系統(tǒng) GB/T 16927.2

高電壓試驗技術(shù) 第3 部分: 現(xiàn)場試驗的定義及要求 GB/T 16927.3

三、技術(shù)參數(shù)            

技術(shù)參數(shù)表

四、產(chǎn)品結(jié)構(gòu)

后面板接口說明表

巡檢系統(tǒng)基本操作

初次啟動系統(tǒng)軟件增加一個新的巡檢試驗檔案

用戶可以根據(jù)自己的需求，利用系統(tǒng)軟件，為每次試驗建立試驗檔案，填寫檢測說明信息，保存檢測數(shù)據(jù)，以便將檢測數(shù)據(jù)與檢測信息對應(yīng)起來。

當(dāng)軟件*次啟動時，系統(tǒng)會出現(xiàn)“試驗設(shè)置”對話框，提醒用戶填寫試驗信息，同時可以對試驗列表進(jìn)行查看和刪除某個試驗，當(dāng)單擊試驗列表中某個試驗時，試驗信息區(qū)將顯示對應(yīng)試驗信息。

如果你點擊取消按鈕，不建立自己的試驗檔案，系統(tǒng)軟件也可以快速建立默認(rèn)數(shù)據(jù)庫quik_test.db3，保證完成試驗數(shù)據(jù)的存儲。

軟件會在SD卡中建立存儲目錄以保存數(shù)據(jù)，例如：

試驗名稱為：PD

則檢測數(shù)據(jù)存儲路徑為：Storage Card 試驗管理PD

所有的檢測原始數(shù)據(jù)都以二進(jìn)制方式保存以節(jié)省存儲空間，所有的記錄數(shù)據(jù)都存儲在SQLite數(shù)據(jù)庫中，以備生成報告使用。

利用本系統(tǒng)進(jìn)行檢測數(shù)據(jù)都存儲在SD卡中，SD卡大支持32G，可以導(dǎo)出到PC機(jī)進(jìn)行備份。歷史數(shù)據(jù)可以被加載入系統(tǒng)進(jìn)行追蹤分析。