SEM+EDS掃描電子顯微鏡-儀表網(wǎng)

公司介紹主營(yíng)產(chǎn)品

東莞斯坦德儀器設(shè)備有限公司是一家專業(yè)的實(shí)驗(yàn)室解決方案提供商，集實(shí)驗(yàn)室方案設(shè)計(jì)，檢測(cè)設(shè)備提供，設(shè)備維護(hù)與保養(yǎng)為一體，整體化解決方案是斯坦德優(yōu)勢(shì)之所在。制造業(yè)企業(yè)產(chǎn)品中有毒有害物質(zhì)，材料成分分析，可靠信賴性，環(huán)境安全等四大領(lǐng)域一直以來(lái)是我們重點(diǎn)關(guān)注的方向，在這四大領(lǐng)域中，為了更好更高質(zhì)量的服務(wù)我們的客戶，我們與各大學(xué)院校，科研咨詢機(jī)構(gòu)，檢測(cè)認(rèn)證機(jī)構(gòu)，廠商緊密合作，積極開拓并利用新知識(shí)，新思路，將新技術(shù)全力推廣轉(zhuǎn)化為社會(huì)效益，為各企業(yè)降低成本，提高效益。公司目前在東莞，武漢，蘇州，重慶等地均有聯(lián)絡(luò)服務(wù)點(diǎn)，已經(jīng)基本覆蓋華南區(qū)，華中區(qū)，華東區(qū)，西南區(qū)的大部分客戶，越南服務(wù)點(diǎn)年內(nèi)將會(huì)建立。斯坦德本著：“品質(zhì)源于精密，品質(zhì)創(chuàng)造未來(lái)”的態(tài)度，認(rèn)真地把客戶交代的每一件工作做好。同時(shí)積極開拓，精誠(chéng)與來(lái)自各地的客戶，誠(chéng)信互助，密切合作，是諸多企業(yè)的合作伙伴。追求“客戶全面滿意”是斯坦德全力追求的目標(biāo)。斯坦德本著：“品質(zhì)源于精密，品質(zhì)創(chuàng)造未來(lái)”的態(tài)度，認(rèn)真地把客戶交代的每一件工作做好。同時(shí)積極開拓，精誠(chéng)與來(lái)自各地的客戶，誠(chéng)信互助，密切合作，是諸多企業(yè)的合作伙伴。追求“客戶全面滿意”是斯坦德全力追求的目標(biāo)。斯坦德作為美國(guó)INNOV. 美國(guó)戴安. 安捷倫. 英國(guó)牛津OXFORD等產(chǎn)品提供商在國(guó)內(nèi)的渠道以及售后服務(wù)簽約商，我們積累了解掌握了對(duì)于各行業(yè)的法律法規(guī)，*的分析技術(shù)，化的產(chǎn)品解決方案，結(jié)合斯坦德專業(yè)的知識(shí)，專業(yè)的服務(wù)，我們已經(jīng)累積了為近三百家企業(yè)提供產(chǎn)品與服務(wù)的寶貴經(jīng)驗(yàn)，他們主要集中在地質(zhì)礦產(chǎn). 有色金屬. 鋼鐵，塑膠五金，電子電器，電鍍，PCB，箱包鞋材，飾品首飾，半導(dǎo)體，化妝品，汽車等行業(yè)。協(xié)助企業(yè)積極專業(yè)地應(yīng)對(duì)要求，為企業(yè)降低成本，保駕護(hù)航，是我們的使命！目前我們主要提供的產(chǎn)品與服務(wù)有：XRF測(cè)試儀，ROHS檢測(cè)儀，ROHS2.0分析儀，ROHS無(wú)鹵分析儀，鄰苯6P/7P/15P/22P分析儀，直讀光譜儀，離子色譜儀，合金分析儀，稀土礦石分析儀，GC-MS氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀，各類濕化學(xué)以及XRF等設(shè)備的維修保養(yǎng)，實(shí)驗(yàn)室整體設(shè)計(jì)，安裝，法律法規(guī)教育訓(xùn)練等。以客戶為中心，并與之共奔前程，此為斯坦德長(zhǎng)治久安之根本！選擇斯坦德，就意味著選擇了專業(yè)的服務(wù)，選擇了性價(jià)比的產(chǎn)品，選擇了同舟共濟(jì)的合作伙伴！

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介在線詢價(jià)

SEM+EDS掃描電子顯微鏡

SEM+EDS掃描電子顯微鏡產(chǎn)品詳情

In Touch Scope JSM-6010PLUS/LA 分析型掃描電子顯微鏡
主要特長(zhǎng)
優(yōu)秀電子光學(xué)系統(tǒng)                                                             In Touch Scope JSM-6010PLUS/LA是日本電子株式會(huì)社推出機(jī)型，沿襲日本電子的優(yōu)秀電子光學(xué)系統(tǒng)，集合了分析掃描電鏡精髓功能，設(shè)計(jì)精簡(jiǎn)自動(dòng)化程度高。
使用多點(diǎn)觸摸屏，操作舒適                                              In Touch Scope JSM-6010PLUS/LA通過(guò)多點(diǎn)觸控技術(shù)和的操作軟件，操作直觀簡(jiǎn)單。只需輕觸屏幕就能操控各種功能，舒適便捷。新開發(fā)的操作界面簡(jiǎn)明易懂，即使是SEM新手也能輕松獲得高品質(zhì)的SEM圖像，進(jìn)行EDS元素分析。
能適應(yīng)各種環(huán)境的可移動(dòng)式掃描電鏡                                             In Touch Scope掃描電鏡，在手邊的PC上就可以進(jìn)行觀察和分析。只要移動(dòng)觸摸屏，在遠(yuǎn)離裝置的地方也能夠進(jìn)行操作。(無(wú)線模式操作為選配件)。In Touch Scope主機(jī)用腳輪即可移動(dòng)。
標(biāo)準(zhǔn)配置EDS分析功能的分析型掃描電鏡                                          標(biāo)準(zhǔn)配置EDS分析功能的JSM-6010PLUS/LA，不僅能獲取高分辨率的圖像，在低真空模式下觀察非導(dǎo)電性樣品，還采用了無(wú)需液氮制冷的EDS檢測(cè)器 (DRY SD)，能夠進(jìn)行定性分析、定量分析、元素面分布。此外，搭載的大型全對(duì)中形樣品臺(tái)可以對(duì)應(yīng)各種樣品。
JSM-6010PLUS/LA性能參數(shù)
Main Performance on JSM-6010PLUS/LA
Performance
(一) 主要性能
HV Mode Resolution
高真空模式分辨率 (SE像) 4.0nm @ 20KV   WD 8mm
8.0nm @ 3KV    WD 6mm
15.0nm @ 1KV WD 6mm
LV Mode Resolution
低真空模式分辨率 (BE像) 5.0nm @ 20KV
Magnification
放大倍數(shù)                                                             ×8~×300,000
Detectors
探測(cè)器 Secondary Electron Detector
二次電子探測(cè)器
★Semiconductor Backscattered Electron Detector(patent)
半導(dǎo)體型背散射電子探測(cè)器(技術(shù))
Image Mode
圖像模式 Secondary Electron Image
二次電子圖像
REF Image
REF像
Composition Image (Backscattered Electron Image)
成份像 (背散射電子圖像)
Topography Image (Backscattered Electron Image)
形貌像 (背散射電子圖像)
Shadow Image (Backscattered Electron Image)
立體像 (背散射電子圖像)
Live Image Display
實(shí)時(shí)圖像顯示 Dual Live Image Display, Split Live Image,
雙實(shí)時(shí)圖像同時(shí)顯示, 分割實(shí)時(shí)圖像顯示
Accelerating Voltage
加速電壓 0.5KV ~ 20KV

Low Vacuum Degree
低真空度 10 to 100 Pa (Settable with graphic menu)
(軟件控制菜單設(shè)定)
Probe Current
探針束流 1pA ~ 0.3uA
Electron Optics
(二) 電子光學(xué)系統(tǒng)
Filament
燈絲                                    Factory pre-centered tungsten hairpin filament
工廠預(yù)對(duì)中鎢燈絲
★Gun Bias Voltage
電子槍偏壓 Seamless automatic bias
無(wú)縫式自給偏壓, 連續(xù)調(diào)整
Gun Alignment
電子槍合軸 Auto alignment
自動(dòng)合軸
Filament Heating
燈絲加熱 Auto heating
自動(dòng)加熱
★Condenser Lens
聚光透鏡                                Two stage zoom type condenser lens – (patent)
變焦聚光透鏡系統(tǒng) – 技術(shù)
★Objective Lens
物鏡 Super conical type objective lens
超級(jí)錐形物鏡
Objective Lens Aperture
物鏡光闌 1 step, Fine position adjustment in X and Y directions
1孔固定，可在X和Y方向微調(diào)
Focus
聚焦 Auto/Manual focus
自動(dòng)/手動(dòng)聚焦
Stigmator
像散 Auto/Manual stigmator
自動(dòng)/手動(dòng)消像散
★Stigmator Memory
像散存儲(chǔ)器                              Standard, Auto/Manual
標(biāo)準(zhǔn)配置，自動(dòng)/手動(dòng)補(bǔ)償像散
★Electrical Image Shift
圖像移動(dòng)                                X-Y , ±50um
Specimen Stage
(三) 樣品臺(tái)
Type
樣品臺(tái)類型 Eucentric type stage
全對(duì)中樣品臺(tái)
Traverse
行程
X     : 80mm;
Y     : 40mm;
Z     : 5 ~ 48mm;
傾斜 T: -10 ~ +90°
旋轉(zhuǎn) R: 360°連續(xù)endless
Maximum Specimen Size
*樣品尺寸 150mm diameter & 48mm height specimen can be inserted
可裝直徑150mm高度為48mm的樣品
Maximum Size of Observation
*觀察視野 125mm diameter
直徑125mm
Image Display
(四) 圖形顯示
Pixels
顯示像素 640×480,1280×960,2560×1920,5120×3840
Image Process
圖像處理 Averaging, Linear, Contrast, Gamma, Multi level, Patial enhance, Reverse, Pseudo color, Multi image
平均值, 灰度修正, 反差增強(qiáng), 偽彩, 二及四分屏, 2及4倍數(shù)碼變焦
File Save
文件存儲(chǔ)格式 BMP, TIFF, JPEG
Operation System
(五) 操作系統(tǒng)
PC
計(jì)算機(jī) 23英寸觸摸屏式臺(tái)式電腦
OS : Windows 7 (英語(yǔ)版)
Metrological function
(六) 測(cè)量功能
Distance between parallel lines
平行線間距測(cè)量 Horizontal, vertical, diagonal
垂直, 水平, 對(duì)角
Distance between 2 points
2點(diǎn)之間距離測(cè)量 Distance between any 2 points
任意2點(diǎn)間距離
Circle
圓的測(cè)量 Diameter
直徑
Distance between 2 circle centers (not supported by the touch-panel operation)
2個(gè)圓中心間距離(觸摸屏操作下不支持此功能)
Angle
角度測(cè)量 Angle
角度
Area
面積測(cè)量 Area of circles and polygons
圓和多角形
Count
計(jì)數(shù) Particle count
顆粒計(jì)數(shù)
Vacuum System
(七) 真空系統(tǒng)
Ultimate Pressure
真空度 HV mode 0.1mPa
高真空模式 1×10-4Pa
LV mode 1mPa(at the specimen chamber pressure 27Pa)
低真空模式1×10-3Pa(當(dāng)樣品室真空為27Pa時(shí))
Evacuation Time
抽真空時(shí)間 HV mode 3 min

Pump System
真空泵系統(tǒng) One TMP, One RP
一個(gè)分子泵, 一個(gè)機(jī)械泵
Safety devices
(七) 安全裝置 Power failure, Water failure, Pressure rise, Leak current
斷電,斷水,泄壓,漏電保護(hù)
Auto Function
(八) 自動(dòng)功能 Auto gun control, Auto focus, Auto stigmator, Auto contrast and brightness
自動(dòng)電子槍控制,自動(dòng)聚焦,自動(dòng)消像散,自動(dòng)反差和亮度
Miscellaneous
(九) 擴(kuò)展接口 EDS 能譜儀、Chamber Scope紅外相機(jī)、Probe Current Detector束流監(jiān)視器
EDS Performance:
(十)能譜儀主要性能
Detector
探測(cè)器 Box SDD detector (no liquid nitrogen needed)
電制冷方式Box SDD 探測(cè)器 – 不用液氮
Effective area of detector
探頭有效掃描面積 10 mm2
Detector movement
探測(cè)器移動(dòng) Fixed
固定
Resolution
分辨率 129eV or better (55Fe, 5.9 keV, 1000 cps)
Detectable element range
元素分析范圍 B(5) to U(92)
硼至鈾
Window
窗口 Atmospheric pressure-resistant, Ultra-thin film
抗大氣壓的超薄窗
X-ray take-off angle
取出角 35°（WD：10mm）
Cooling
制冷方法 Peltier cooling
Standard Function Built in
標(biāo)準(zhǔn)搭載功能 Qualitative Analysis 定性分析
Quantitative Analysis 定量分析
Active Mapping 活區(qū)面分析
Point Analysis 點(diǎn)分析
Probe Tracking 束流追蹤

關(guān)鍵詞：電子顯微鏡觸摸屏標(biāo)準(zhǔn) 圖像處理真空泵

熱門產(chǎn)品

產(chǎn)品名稱	參考價(jià)	地區(qū)	公司名稱	更新時(shí)間
臺(tái)式掃描電子顯微鏡	￥1200000	深圳市	深圳市中圖儀器股份有限公司	2024-12-27	在線詢價(jià)
電子顯微鏡	￥3200	青島市	青島聚創(chuàng)環(huán)保集團(tuán)有限公司	2024-06-16	在線詢價(jià)
IKEIDARIKA池田理化透射電子顯微鏡JEM-F200	￥35400	深圳市	深圳市井澤貿(mào)易有限公司	2023-03-29	在線詢價(jià)
高分辨率X射線顯微CT（XRM）電子顯微鏡	面議	武漢市	武漢市艾德寶儀器設(shè)備有限公司	2023-10-28	在線詢價(jià)
手持式現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)偏光數(shù)碼顯微鏡電子顯微鏡	面議	北京市	北京福祿克斯科技有限公司	2024-08-07	在線詢價(jià)
IKEIDARIKA池田理化電子顯微鏡JIB-4700F	￥35400	深圳市	深圳市井澤貿(mào)易有限公司	2023-03-29	在線詢價(jià)

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