進口x射線膜厚儀
作為表面測試領(lǐng)域的全面的服務(wù)供應(yīng)商，F(xiàn)ischer自1953年以來一直致力于開發(fā)無損材料分析、涂層厚度測量和材料測試的儀器。我們?yōu)椴煌男袠I(yè)提供廣泛的測量設(shè)備：從簡單的手持式設(shè)備在移動中進行快速測試，到集成的自動測量系統(tǒng)。
作為表面測試領(lǐng)域的全面的服務(wù)供應(yīng)商，F(xiàn)ischer自1953年以來一直致力于開發(fā)無損材料分析、涂層厚度測量和材料測試的儀器。我們?yōu)椴煌男袠I(yè)提供廣泛的測量設(shè)備：從簡單的手持式設(shè)備在移動中進行快速測試，到集成的自動測量系統(tǒng)。
在過去，X射線熒光分析(XRF)主要用于地質(zhì)學(xué)。如今，它已成為工業(yè)和實驗室的關(guān)鍵技術(shù)。這種方法非常通用：它可以檢測從鈉到鈾的所有相關(guān)化學(xué)元素
XRF通常用于材料分析，即確定樣品中給定物質(zhì)的含量，如測量珠寶中的黃金含量或根據(jù)《有害物質(zhì)限制》(RoHS)指令檢測日常物品中的有害物質(zhì)。此外，可以使用XRF測量鍍層的厚度：它快速、環(huán)保且無損。
所以在電鍍鍍層測試中，XRF儀器得到了廣泛的推廣，所以現(xiàn)在電鍍及表面處理行業(yè)里，用XRF儀器測量電鍍層的厚度也是一種質(zhì)量控制不K多得的幫手。
在無損無接觸的涂層厚度測量和材料分析領(lǐng)域，F(xiàn)ISCHERSCOPE X射線儀器是理想的選擇。自1983年以來，我們的X射線儀器已成為幾乎所有主要行業(yè)質(zhì)量測試的一個組成部分。我們的儀器以其精確性、準確性和耐用性而聞名。同時，F(xiàn)ISCHERSCOPE X射線的設(shè)計易于使用，并在測量的各個方面為您提供支持。 這使您可以專注于手頭上的質(zhì)量工作，而不是測量儀器上。
我們的X射線儀器配有的FischerWinFTM軟件，旨在規(guī)范測量過程。這包括控制X射線、實現(xiàn)測量的可追溯性、生成個性化測量報告以及與內(nèi)部網(wǎng)絡(luò)交互。
我們種類齊全的X射線設(shè)計用于高可靠性地測量不同的應(yīng)用。*電子、電鍍、汽車、黃金和珠寶等領(lǐng)域的公司以及更多的公司都依賴于FISCHERSCOPE X射線儀器進行質(zhì)量控制。現(xiàn)在就來看看我們的X光儀器并找出原因吧！
進口x射線膜厚儀優(yōu)點:
1.德國設(shè)計：技術(shù)先進
2.一個軟件實現(xiàn)鍍層厚度測量和材料分析兩個功能
3.擴展統(tǒng)計功能。例如，測量結(jié)果可以記錄并轉(zhuǎn)為SPC圖表顯示
4.圖像識別：WinFTM可以自行查找預(yù)設(shè)的測量位置
5.基于基本參數(shù)分析的無標準片測量：在手邊樣本組成未知的情況下實現(xiàn)精確的測量結(jié)果
6.距離控制測量(DCM)：無需移動軸即可保持與不規(guī)則形狀樣品的正確測量距離。只需將攝像頭聚焦到樣品表面即可。剩下的由WinFTM軟件完成。這要比移動軸快。此外，沒有軸與樣品碰撞的風(fēng)險
7.測量質(zhì)量：我們的儀器可以判斷您的測量質(zhì)量。錯誤地選擇了錯誤的測量任務(wù)或測量了錯誤的樣品？您的FISCHERSCOPE儀器會提醒您
8.任務(wù)程式：只需單擊一下，幾乎可以對WinFTM軟件中執(zhí)行的所有操作進行編程并執(zhí)行。例如，一項任務(wù)可以自動測量多個合金樣品。 X射線儀器將XY工作臺移動到樣品位置，加載每個合金特定的測量條件，最后根據(jù)您的需要生成測試報告
特點:
根據(jù)DIN ISO 3497和ASTM B 568，用X射線熒光法分析電鍍液和測量鍍層厚度
XULM的最小測量點約0.1 mm；XUL最小測量點約0.5 mm
鎢X射線管或鎢微聚焦管(XULM)作為X射線源
采用經(jīng)實踐驗證的短測量時間的比例接收器
準直器：固定或4個自動切換 初級過濾器：
固定或3個自動切換 固定樣品臺或手動XY載物臺
用于光學(xué)觀察測量點的攝像頭
經(jīng)認證的全面防護設(shè)計；
應(yīng)用:
電鍍層，例如鐵上的鋅或鐵上的鋅鎳，用于大批量生產(chǎn)的零件(螺母和螺栓)的腐蝕防護
電鍍液中金屬含量的分析 裝飾性涂層
Cr/Ni/Cu/ABS >電子行業(yè)連接器和觸點上的鍍層
