的 Ultra Scan TM干涉儀
VERTEX 80及 VERTEX 80v均采用的真正準(zhǔn)直的 UltraScan干涉儀，該干涉儀可實(shí)現(xiàn)*的光譜分辨率。高精度的線性氣動(dòng)軸承及超高質(zhì)量的光學(xué)反射鏡保證了儀器達(dá)到的靈敏度和穩(wěn)定性。80系列適用于各種極限條件下的研究工作，如：高分辨率測試、超快速掃描、步進(jìn)掃描及UV擴(kuò)展譜區(qū)的測量。布魯克公司*的數(shù)字化 DigiTect TM數(shù)據(jù)采集技術(shù)有效防止外部信號(hào)干擾，確保了的信噪比。
臺(tái)式真空光譜儀
VERTEX 8Ov的全鑄鋁光學(xué)底座及全真空型光學(xué)臺(tái)設(shè)計(jì)使譜儀具備了更高的穩(wěn)定性。大氣中的水汽吸收在真空環(huán)境下被消除，靈敏度及穩(wěn)定性得到進(jìn)一步提高。在遠(yuǎn)紅外和太赫茲波段該特色尤為突出，并意義重大。結(jié)合的全自動(dòng)分束器更換器(BMs-C)，用戶無需打斷真空、通過軟件控制便能實(shí)現(xiàn)譜區(qū)的切換和擴(kuò)展。
最寬的譜區(qū)擴(kuò)展
VERTEX 80-80v結(jié)合不同的光學(xué)器件使譜區(qū)可覆蓋太赫茲、遠(yuǎn)紅外、中紅外、近紅外、可見
光直至紫外光區(qū)。預(yù)準(zhǔn)直的光學(xué)器件和真正準(zhǔn)直的 Ultra ScanTM干涉儀，讓擴(kuò)展譜區(qū)和儀器維護(hù)變得更加簡單快捷。
的光譜分辨率
VERTEX 80-80V標(biāo)配的光譜分辨率可達(dá)0.2cm-1(切趾函數(shù))，能滿足大多數(shù)常壓氣相和常溫下測量需求。針對(duì)低溫下的研究工作，如晶向研究、半導(dǎo)體材料或者低壓下的氣相分析
測量， VERTEX80系列可以提供優(yōu)于0.06cm-1的高分辨率，這是商業(yè)化臺(tái)式紅外光譜儀
迄今為止達(dá)到的分辨率。在可見光區(qū)譜圖的分辨能力已可超出300,000：1(見右圖)。
全真空光學(xué)臺(tái)設(shè)計(jì)
創(chuàng)新的光學(xué)設(shè)計(jì)成就了具有靈活性、穩(wěn)定性和擴(kuò)展外接能力的研究級(jí)全真空紅外光
譜儀。其全真空的光學(xué)設(shè)計(jì)，使 VERTEX 80在中紅外、近紅外及遠(yuǎn)紅外譜區(qū)具備的靈敏度，使用戶無需再擔(dān)心水蒸氣吸收會(huì)干擾或覆蓋譜圖中極弱的特征信號(hào)。該真空譜儀已被應(yīng)用于納米科學(xué)領(lǐng)域，并成功獲取低至千分之一表面覆蓋率的單分子層薄膜的信息。
全自動(dòng)分束器更換功能
全新推出的全自動(dòng)分束器更換器(BMS-c)，實(shí)現(xiàn)了全軟件操控譜區(qū)擴(kuò)展且無需打斷真空。該
更換器可同時(shí)容納多達(dá)4種不同類型的分束器。其的功能使 VERTEX 80v真空譜儀占據(jù)行業(yè)地位，進(jìn)一步降低了從太赫茲到紫外譜區(qū)擴(kuò)展全程中分束器更換的難度。
靈活性
VERTEX系列具備靈活性，在行業(yè)同類儀器中居*。主機(jī)周圍右側(cè)、前側(cè)及左側(cè)共有5個(gè)出光口，右側(cè)及后側(cè)共2個(gè)入光口。這個(gè)特色使得用戶可以同時(shí)連接多種附件。例如，儀器后側(cè)入光口聯(lián)接同步輻射光源，同時(shí)右側(cè)出光口聯(lián)接偏振調(diào)制組件(PMA 50)，右前側(cè)出光口聯(lián)接紅外光纖附件，左前側(cè)聯(lián)接輻射熱測量儀以及左側(cè)聯(lián)接 HYPERION系列的傅立葉紅外顯微鏡。其靈活性可見一斑。
