滿足復(fù)雜需求的X射線熒光分析
FISCHERSCOPE®X射線 XDAL®是 XDL系列中的一款進(jìn)口測厚儀，測試類型為X射線熒光測量儀器。 和它的“小兄弟”一樣，它是從上到下方向測量的，這使得測試形狀奇怪的樣品也變得輕松便捷，為了優(yōu)化您的任務(wù)的測量條件，配有可互換的準(zhǔn)直器和過濾器作為標(biāo)準(zhǔn)配置。
對測量任務(wù)的要求越高，探測器的類型就越重要！因此FISCHERSCOPE X射線 XDAL提供了3種不同的半導(dǎo)體探測器。
硅PIN二極管是一種中檔檢測器，非常適合在相對較大的測量區(qū)域內(nèi)測量多個元素。配備PIN的XDAL通常用于檢查硬質(zhì)材料涂層。
與硅PIN二極管相比，高質(zhì)量的硅漂移檢測器(SDD)具備更好的能量分辨率。如此配備的XDAL光譜儀可用于解決電子行業(yè)中的復(fù)雜測量任務(wù)：例如，測量薄合金層，或非常相似的元素(如金和鉑)的材料分析。這款值得信賴的XRF儀器可用于ENIG和ENEPIG應(yīng)用的質(zhì)量控制。
對于特別棘手的挑戰(zhàn)，F(xiàn)ischer還提供帶有超大探測器表面的SDD。該探測器的優(yōu)勢在于它能夠可靠地測量納米級的鍍層，并進(jìn)行痕量分析。使用這些XDAL設(shè)備，您可以測試用于高可靠性應(yīng)用的焊料中的鉛含量，從而避免錫須。
儀器特點(diǎn)：
1、牛津測厚儀采用DIN ISO 3497和ASTM B 568標(biāo)準(zhǔn)，用于自動測量達(dá)到0.05μm的鍍層和用于ppm級含量的材料分析的通用X射線熒光光譜儀
2、3種不同的探測器可選(Si-PIN二極管；SDD 20 mm²；SDD 50 mm²)3
3、種可切換基本濾片
4、4種可切換準(zhǔn)直器
5、小測量點(diǎn)約為0.15mm
6、樣品高度可達(dá)14cm
7、可編程XY工作臺，定位精度為10µm
8、開槽箱體設(shè)計用于測量大的印刷電路板
9、經(jīng)過認(rèn)證的全面保護(hù)設(shè)備
應(yīng)用：
1.鍍層和合金(也包括薄涂層和低濃度)的材料分析
2.電子行業(yè)，ENIG，ENEPIG
3.連接器和觸點(diǎn)
4.黃金，珠寶和制表業(yè)
5.PCB制造薄金(幾納米)和鈀鍍層的測量
6.微量元素分析
7.高可靠性應(yīng)用的鉛(Pb)的測定(避免錫晶須)
8.對硬質(zhì)材料涂層的分析
