X熒光考古分析儀

　　型號：EDX8000L

　　產品說明、技術參數(shù)及配置

　　儀器介紹

　　EDX8000L利用中國歷史博物館和上海硅酸鹽研究所兩大古陶瓷研究檢測的部門提供的標準陶瓷片樣品為儀器標定基準標樣，一次性同時分析古陶瓷標本胎和釉中Na2O、MgO、Al2O3、CaO、Fe2O3、K2O、MnO、SiO2、TiO2、As、Cr、Cu、Co、Mn、Ni、Pb、Ti、V、Zn、Zr、Ba等化學成份含量，再對照中國古陶瓷數(shù)據(jù)庫便可以達到斷代斷源的功效。同時，為了更好的利用X熒光分析儀器的無損測量特性，我公司根據(jù)行業(yè)需要制作超大型抽真空樣品腔，以滿足不同大小、器形的陶瓷樣品的檢測。

　　EDX8000L型儀器在測試陶瓷的同時亦可以測試青銅器(Cu、Sn、Pb、Zn等)、貴金屬(Au、Pt、Ag、Pb、Cu、Ni、Ru、Rh、Fe等)等的化學成份和金屬鍍層厚度，做到一機多用，是古文物檢測*的科學檢測儀器。中國歷史博物館、中國收藏家協(xié)會等古文物收藏部門都是其用戶。

　　技術指標

　　型號：EDX8000L

　　測量元素范圍：從鈉(Na)至鈾(U)

　　元素含量分析范圍：1ppm—99.99%

　　同時分析元素：同時可以分析30種以上元素

　　測量鍍層：鍍層厚度測量薄至0.01微米

　　測量對象狀態(tài)：粉末、固體、液體

　　測量時間：30s—200s

　　管壓：5KV—50KV

　　管流：50uA—1000uA

　　輸入電壓：AC 110V/220V

　　消耗功率：200W

　　環(huán)境溫度: 15-26℃

　　相對濕度: ≤70%

　　標準配置

　　超薄窗大面積的*Fast SDD探測器

　　數(shù)字多道系統(tǒng)

　　可自動切換型準直器和濾光片

　　光路增強系統(tǒng)

　　內置高清晰攝像頭

　　加強的金屬元素感度分析器

　　智能全元素分析軟件，與儀器硬件相得益彰，且操作簡單。

　　面光源

　　放大電路

　　高低壓電源

　　X光管

　　多變量非線性回歸程序

　　相互獨立的基體效應校正模型。

　　三重安全保護模式

　　外觀尺寸： 800×710×1360 mm

　　樣品腔尺寸：590×550×600mm

　　重量：280kg

　　應用領域

　　古陶瓷

　　古青銅器

　　古首飾

　　鍍層測厚