FLUKE OTDR光纖測試儀參數(shù)詳讀
FLUKE OFP-100-Q OTDR光纖測試儀主要技術(shù)指標(biāo)：
| FiberInspector 探頭技術(shù)指標(biāo) | |
| 放大倍率 | 200X 帶 OptiFiber Pro 顯示 |
| 光源 | 藍色 LED |
| 電源 | TFS 主機 |
| 視野 (FOV) | 水平：425 µm |
| 垂直： | 320 µm |
| 小可檢測微粒大小 | 0.5 µm |
| 體積 | 大約 6.75 英寸 x 1.5 英寸（1175 毫米 x 35 毫米），無適配器端頭 |
| 重量 | 200 g |
| 溫度范圍 | 工作時：32°F 至 122°F (0 °C 到 +50 °C) |
| 存放： | -4°F 至 +158°F（-20°C 至 +70°C） |
| 合格證 | CE（使用主機時） |
| VFL 技術(shù)指標(biāo) | |
| 開關(guān)控制 | 機械開關(guān)和觸摸屏幕上的按鈕 |
| 輸出功率 | 316 μW (-5 dBm) = 峰值功率 = 1.0 mW (0 dBm) |
| 工作波長 | 650 nm 額定 |
| 譜寬 (RMS) | ±3 nm |
| 輸出模式 | 連續(xù)波和脈沖模式（2 Hz - 3 Hz 閃爍頻率） |
| 接頭適配器 | 2.5 mm 通用 |
| 激光安全性（類別） | II 類 CDRH 符合 EN 60825-2 |
一般規(guī)格
重量 帶模塊和電池的主機：3 磅，5 盎司（1.28 千克）
體積 帶模塊和電池的主機：2.625 英寸 x 5.25 英寸 x 11.0 英寸（6.67 厘米 x 13.33 厘米 x27.94 厘米）
電池 鋰離子電池組，7.2 V
電池壽命 八小時自動 OTDR 運行，雙波長，無視頻探頭連接，150 m 光纖
充電時間
測試儀關(guān) 電量從 10% 充到 90% 需四小時
測試儀開 測試儀開啟時電量從 10% 充到 90% 需要六小時
環(huán)境技術(shù)指標(biāo)
工作溫度* -18oC 至 45oC
非操作溫度 -30oC 至 60oC
操作高度 4,000 m (13123 ft)
3200 米（10,500 英尺）帶交流適配器
存儲高度 12,000 米
EMC EN 61326-1
* 使用電池供電。帶 AC 適配器：0oC 至 45oC。每 15 分鐘時間段時實時掃描功能不能使用超過 5 分鐘。使用實時掃描功能的環(huán)境溫度為 35oC。
* 請不要將電池保存于低于 -20°C (-4°F) 或高于 50°C (122°F) 的環(huán)境下超過一個星期，以免損壞電池容量。
OTDR 主要技術(shù)指標(biāo)
Multimode 模塊 Singlemode 模塊 Quad 模塊
波長 850 nm +/- 10 nm
1300 nm +35/-15 nm 1310 nm +/- 25 nm
1550 nm +/- 30 nm 850 nm +/- 10 nm
1300 nm +35/-15 nm
1310 nm +/- 25 nm
1550 nm +/- 30 nm
兼容光纖類型 50/125 µm
62.5/125 µm 單模 50/125 µm
62.5/125 µm
單模
事件死區(qū) 1 850 nm ：0.5 m（典型）
1300 nm ：0.7 m（典型） 1310 nm ：0.6 m（典型）
1550 nm ：0.6 m（典型） 850 nm ：0.5 m（典型）
1300 nm ：0.7 m（典型）
1310 nm ：0.6 m（典型）
1550 nm ：0.6 m（典型）
衰減死區(qū) 2 850 nm ：2.2 m（典型）
1300 nm ：4.5 m（典型） 1310 nm ：3.6 m（典型）
1550 nm ：3.7 m（典型） 850 nm ：2.2 m（典型）
1300 nm ：4.5 m（典型）
1310 nm ：3.6 m（典型）
1550 nm ：3.7 m（典型）
動態(tài)范圍3，5，6 850 nm ：一般為 28 dB
1300 nm ：一般為 30 dB 1310 nm ：一般為 32 dB
1550 nm ：一般為 30 dB 850 nm ：一般為 28 dB
1300 nm ：一般為 30 dB
1310 nm ：一般為 32 dB
1550 nm ：一般為 30 dB
距離范圍設(shè)置 40 km 130 km MM：40 km
SM：130 km
距離測量范圍 4，5，7，8，9，10 850 nm ：9 km
1300 nm ：35 km 1310 nm ：80 km
1550 nm ：130 km 850 nm ：9 km
1300 nm ：35 km
1310 nm ：80 km
1550 nm ：130 km
反射范圍 4，5 850 nm ：一般為 -14 dB 至 -57 dB
1300 nm ：一般為 -14 dB 至 -62 dB 1310 nm ：一般為 -14 dB 至 -65 dB
1550 nm ：一般為 -14 dB 至 -65 dB 850 nm ：一般為 -14 dB 至 -57 dB
1300 nm ：一般為 -14 dB 至 -62 dB
1310 nm ：一般為 -14 dB 至 -65dB
1550 nm ：一般為 -14 dB 至 -65 dB
采樣分辨率 3 cm 到 400 cm 3 cm 到 400 cm 3 cm 到 400 cm
脈沖寬度（額定） 850 nm ：3, 5, 20, 40, 200 ns
1300 nm ：3, 5, 20, 40, 200, 1000 ns 1310/1550 nm：3, 10, 30, 100, 300, 1000, 3000, 10000, 20000 ns 850 nm ：3, 5, 20, 40, 200 ns
1300 nm ：3, 5, 20, 40, 200, 1000 ns
1310/1550 nm：3, 10, 30, 100, 300, 1000, 3000, 10000, 20000 ns
測試時間（每波長） 自動設(shè)置：一般為 5 秒 自動設(shè)置：一般為 10 秒 自動設(shè)置：
MM – 一般為 5 秒
SM – 一般為 10 秒
快速測試設(shè)置：
一般為 2 秒 快速測試設(shè)置：
一般為 5 秒 快速測試設(shè)置：
MM – 一般為 2 秒
SM – 一般為 5 秒
分辨率設(shè)置：
2 到 180 秒 分辨率設(shè)置：
5 到 180 秒 分辨率設(shè)置：
MM – 2 到 180 秒 M
SM – 5 到 180 秒
FaultMap 設(shè)置：
2 秒（一般），180 秒（） FaultMap 設(shè)置：
10 秒（一般），180 秒（） FaultMap 設(shè)置：
MM - 2 秒（一般），MM - 180 秒（）
SM - 10 秒（一般），SM - 180 秒（）
DataCenter OTDR 設(shè)置：
1 秒（一般在 850 nm），7 秒（） DataCenter OTDR 設(shè)置：
20 秒（一般），40 秒（） DataCenter OTDR 設(shè)置：
MM – 1 秒（一般在 850 nm） MM – 7 秒（）
SM – 20 秒（一般） SM – 40 秒（）
手動設(shè)置：
3，5，10，20，40，60，90，120，180 秒 手動設(shè)置：
3，5，10，20，40，60，90，120，180 秒 手動設(shè)置：
-3，5，10，20，40，60，90，120，180 秒 SM - 3，5，10，20，40，60，90，120，180 秒
在低于短脈沖寬度非飽和反射峰和 1.5 dB 之下測量。反射峰多模 < -40 dB，單模 < - 50 dB。在偏離短脈沖寬度反向散射 +/- 0.5 dB 處測量。反射峰多模 < -40 dB，單模 < - 50 dB。對于 OM1 光纖典型的反向散射系數(shù)：850:-65 dB, 1300:-72 dB.OM2-OM4 光纖的典型反向散射和衰減系數(shù)：850 nm ：-68 dB; 2.3 dB/km:1300 nm ：-76 dB; 0.6 dB/km.OM1-OM2 光纖的典型反向散射和衰減系數(shù)：1310nm/1550nm ：-79 dB; 0.32 dB/km; 1550 nm:-82 dB; 0.19 dB/km.SNR=1 方法，3 分鐘平均，脈沖寬度。通常在 850 = 9 km 發(fā)現(xiàn)端點或通常在 7 km 發(fā)現(xiàn) 0.1 dB 事件（事件之前 18 dB 衰減）。通常在 1300 = 35 km 發(fā)現(xiàn)端點或通常在 30 km 發(fā)現(xiàn) 0.1 dB 事件（事件之前 18 dB 衰減）。通常在 1310 = 80 km 發(fā)現(xiàn)端點或通常在 60km 發(fā)現(xiàn) 0.1 dB 事件（事件之前 20 dB 衰減）。通常在 1550 = 130 km 發(fā)現(xiàn)端點或通常在 90 km 發(fā)現(xiàn) 0.1 dB 事件（事件之前 18 dB 衰減）。不包括折射率系數(shù)錯誤，也不包括自動事件位置錯誤。dB 變化/1 dB 階躍。應(yīng)用于在 OTDR 可找到一個 0.1 dB 事件的距離范圍內(nèi)的軌跡反向散射。
FLUKE OTDR光纖測試儀參數(shù)詳讀
