TT230渦流測厚儀|氧化膜測厚儀是一種超小型測量儀，它能快速、無損傷、精密地進行非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量；可廣泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領域；該儀器體積小、測頭與儀器一體化，特別適用于工程現(xiàn)場測量。

符合以下標準：

• GB/T 4957-1985 渦流方法
• JJG 818-93 《電渦流式測厚儀》
• JB/T8393-1996磁性和渦流覆層厚度測量儀
• • 采用了渦流測厚法，可無損傷地測量非磁性金屬基體上非導電覆蓋層的厚度（如銅、鋁、鋅、錫等基底上的琺瑯、橡膠、油漆鍍層）
  • 可進行零點校準及二點校準，并可用基本校準法對測頭的系統(tǒng)誤差進行修正
  • 具有兩種測量方式：連續(xù)測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）
  • 具有兩種工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)
  • 具有刪除功能：對測量中出現(xiàn)的單個可疑數(shù)據(jù)進行刪除，也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)，以便進行新測量
  • 設有五個統(tǒng)計量：平均值、*大值（MAX）、*小值（MIN）、測試次數(shù)（NO．）、標準偏差
  • 具有米、英制轉換功能
  • 具有打印功能，可打印測量值、統(tǒng)計值
  • 具有欠壓指示功能
  • 操作過程有蜂鳴聲提示
  • 具有錯誤提示功能
  • 具有自動關機功能

• 涂層測厚儀技術參數(shù)

  • 測頭類型：N
  • 測量原理：電渦流
  • 測量范圍： 0-1250um | 0-40um(銅上鍍鉻)
  • 低限分辨力：1µm(10um以下為0.1um)
  • 探頭連接方式：一體化
  • 示值誤差：
    1. 一點校準(um)：±[3%H+1.5]
    2. 兩點校準(um)：±[（1%~3%）H+1.5]
  • 測量條件：
    1. *小曲率半徑(mm)：凸3 | 凹10
    2. 基體*小面積的直徑(mm)：ф5
    3. *小臨界厚度(mm)：0.3
  • 溫濕度：0~40℃ | 20%RH～90%RH
  • 統(tǒng)計功能：平均值、*大值（MAX）、*小值（MIN）、測試次數(shù)（NO．）、標準偏差
  • 工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)
  • 測量方式：連續(xù)測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）
  • 上下限設置：無
  • 存儲能力：15個測量值
  • 打印/連接計算機：可選配打印機/能連接電腦
  • 關機方式：自動
  • 電源：二節(jié)3.6V鎳鎘電池
  • 外形尺寸：150×55.5×23mm
  • 重量：150g

  涂層測厚儀基本配置

  • 主機
  • 鋁基體
  • 標準片一套|五片
  • 充電器
  • 使用說明書

  涂層測厚儀可選附件

  • TA230打印機