WKL-702顆粒圖像分析儀（配置1 國產(chǎn)顯微鏡）
WKL-702顆粒圖像分析儀將傳統(tǒng)的顯微測量方法與現(xiàn)代圖像技術(shù)相結(jié)合，是一種采用圖像法進行顆粒形貌分析和力度測量的顆粒分析系統(tǒng)，由光學顯微鏡，數(shù)字CCD攝像機和顆粒圖像處理分析軟件組成。該系統(tǒng)通過的珠子攝像機將顯微鏡的顆粒圖像拍攝下來傳輸給電腦，通過的顆粒圖像分析軟件對圖像進行分析處理，具有直觀、形象、準確和測試范圍寬等特點?？梢杂^察顆粒形貌，也可得到顆粒分布等分析結(jié)果。
配置參數(shù)（配置1國產(chǎn)顯微鏡） 三目生物顯微鏡：平場目鏡：10X、16X 消色差物鏡：4X、10X、40X、100X（油） 總放大倍數(shù)：40X—1600X 攝像機：300萬像素數(shù)字CCD（標準C接*頭）應用范圍 適用于磨料、涂料、非金屬礦、化學試劑、粉塵、填料等各種粉末顆粒的粒度測量。形貌觀察和分析。 軟件功能及報告輸出格式 1.可以對圖像進行多項處理：如：影像增強、圖像疊加、局部提取、定向放大、對比度、亮度調(diào)節(jié)等幾十種功能 2.具有圓度、曲線、周長、面積、直徑等幾十種幾何參數(shù)的基本測量 3.可直接按顆粒粒徑的粒徑面積、形狀等多類參數(shù)，以線性或非線性統(tǒng)計方式繪出分布圖 主要技術(shù)參數(shù)
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