德國菲希爾XAN250高性能X射線熒光法測量儀
高性能X射線熒光測量儀,配有*的硅漂移探測器(SDD),可快速、無損地進行RoHS檢測、材料分析和鍍層厚度測量。
特點
德國菲希爾XAN250高性能X射線熒光法測量儀,具有強大的綜合測量能力
配有4 個電動調節(jié)的準直器和6個電動調節(jié)的基本慮片
配備高分辨率硅漂移探測器 (SDD),還適用于更復雜的多元素分析
由下*的測量方向,可以非常簡便地實現(xiàn)樣品定位
典型應用領域
對電子和半導體行業(yè)中僅幾個納米的功能性鍍層進行測量
對有害物質進行痕量分析,例如,玩具中的鉛含量
在珠寶和手表業(yè),以及在金屬精煉領域,對合金進行高精度的分析
德國菲希爾XAN250高性能X射線熒光法測量儀用于高校研究和工業(yè)研發(fā)領域