絕緣電阻測(cè)試儀工廠*電機(jī)株式會(huì)社（*）自1935年創(chuàng)立以來(lái)，經(jīng)過(guò)不斷的發(fā)展壯大，現(xiàn)已確立了在*的測(cè)試測(cè)量工藝技術(shù)研發(fā)及制造領(lǐng)域的性重要地位，并于2003年12月在東京證券部上市。主要從事電氣測(cè)量?jī)x的研究開(kāi)發(fā)，制造，銷(xiāo)售以及標(biāo)準(zhǔn)，售后服務(wù)等。近年進(jìn)一步實(shí)現(xiàn)了技術(shù)，制造，銷(xiāo)售一體化體系，并開(kāi)發(fā)了光，通信，環(huán)境測(cè)量等新領(lǐng)域。*的目標(biāo)是，在保護(hù)自然環(huán)境的前提下，促進(jìn)社會(huì)的發(fā)展，成為值得信賴(lài)的企業(yè)。
絕緣電阻測(cè)試儀工廠實(shí)現(xiàn)了高速絕緣電阻檢查，快達(dá)50ms的高速判斷，快速釋放殘留電壓，任意設(shè)置試驗(yàn)電壓值25～1000V（1V分辨率）設(shè)置，接觸檢查功能可防止由于接觸不良造成的誤判斷，短路檢查功能可防止不合格品流入市場(chǎng)。產(chǎn)品滿足了生產(chǎn)線上快節(jié)奏的要求。
產(chǎn)品特點(diǎn)：
■ 快達(dá)50ms的高速判斷
以業(yè)界快達(dá)50ms的速度檢查完畢。與以往機(jī)型相比速度提高了700ms。
★ 放電時(shí)間因被測(cè)物的靜電電容而異。
★ 此為檢查時(shí)間設(shè)置45ms時(shí)的波形。
★ 此波形為9MΩ、10pF的被測(cè)物的檢查結(jié)果。
■ 高速自動(dòng)放電功能
檢查后的放電時(shí)間與以往機(jī)型相比大幅縮短。
結(jié)果，若按下述條件比較同樣的被測(cè)物的話， 則可大致算出有990ms的工時(shí)的改善。
★ 放電時(shí)間因被測(cè)物的靜電電容而異。
★ 此波形為9MΩ、10pF的被測(cè)物的檢查結(jié)果。
■ 接觸檢查功能
防止接觸不良引起的誤判定
使用接觸檢查功能，在檢查前確認(rèn)是否與檢查對(duì)象*接觸。
防止未*接觸就進(jìn)行絕緣電阻檢查，會(huì)發(fā)生錯(cuò)誤判定的情況。
有通過(guò)4端子接觸檢查和通過(guò)比較器功能這2種方法。
★ 通過(guò)4端子接觸檢查
確認(rèn)HIGH和LOW各個(gè)用于接觸檢查和OUTPUT的端口間的導(dǎo)通。
★ 通過(guò)比較器功能的接觸檢查功能
在與往常一樣連接后，超過(guò)所設(shè)比較器的上限值時(shí)，可以識(shí)別為Upper FAIL接觸不良。
■ 自由設(shè)置測(cè)試電壓
25V～1000V(1V分辨率)設(shè)置
在檢查鋰電池等電池的絕緣電阻時(shí)，具體的測(cè)試電壓并不是固定的，而是根據(jù)生產(chǎn)廠家而異。
另外，也可以想到繼電器或連接器等電子元器件會(huì)根據(jù)以后的標(biāo)準(zhǔn)修改而發(fā)生變化。
ST5520可自由設(shè)置測(cè)試電壓值。
可在觀看面板的同時(shí)利用按鍵操作變更測(cè)試電壓值。
以往機(jī)型是25V/50V/100V/250V/500V/1000V這種切換式。
■ 短路檢查功能
防止有故障隱患的產(chǎn)品流入市場(chǎng)
對(duì)檢查對(duì)象施加低壓(DC2～4V)，在進(jìn)行絕緣電阻檢查前先確認(rèn)微短路。
錯(cuò)誤地進(jìn)行絕緣測(cè)試則會(huì)殘留突起物，在流入市場(chǎng)后可能會(huì)因此造成故障。
■ 比較器功能
可設(shè)置上下限值
可從下限值判定/上限值判定/上下限值判定這3種之中選擇。
根據(jù)所設(shè)的響應(yīng)時(shí)間可讓比較器在一定時(shí)間延遲之后再工作。
■ 帶開(kāi)關(guān)的探頭
在手邊安全并簡(jiǎn)單的操作
通過(guò)使用選件的帶開(kāi)關(guān)的探頭9299，可在手持探頭的狀態(tài)下對(duì)ST5520進(jìn)行操作。
■ 面板保存&讀取功能
測(cè)量條件的保存與讀取
測(cè)量條件多可保存10組，即使切斷電源仍可保持。
保存下來(lái)的條件可通過(guò)按鍵操作、 RS-232C、EXT.I/O讀入。
產(chǎn)品背部外部接口
絕緣電阻測(cè)試儀ST5520產(chǎn)品參數(shù)：
| 測(cè)試項(xiàng)目 | 絕緣電阻（直流電壓施加方式） |
| 測(cè)試電壓/測(cè)量量程 （手動(dòng)/自動(dòng)） | 25 V ≦ V < 100 V (2.000/20.00/200.0 MΩ), 100 V ≦ V < 500 V (2.000/20.00/200.0/2000 MΩ), 500 V ≦ V ≦ 1000 V (2.000/20.00/200.0/4000/9990 MΩ) |
| 基本精度 | ±2 % rdg. ±5 dgt. 25 V ≦ V < 100 V [0～20 MΩ], 100 V ≦ V < 500 V [0～20 MΩ], 500 V ≦ V ≦ 1000 V [0～200 MΩ] |
| 測(cè)試速度 | FAST：30ms/次，SLOW：500ms/次（切換） |
| 顯示屏 | LCD (壽命100,000小時(shí)),背光燈4階段 |
| 存儲(chǔ)功能 | 保存內(nèi)容：額定測(cè)量電壓、比較器上下限值、測(cè)試模式、判定時(shí)蜂鳴音、測(cè)試時(shí)間、響應(yīng)時(shí)間、電阻量程、測(cè)量速度 存儲(chǔ)數(shù)：多10組（可保存/讀?。?/span> |
| 測(cè)試模式 | 連續(xù)模式、PASS STOP模式、FAIL STOP模式、強(qiáng)制結(jié)束時(shí)判定模式（切換） |
| 比較設(shè)置 | UPPER_FAIL：測(cè)量值≧上限值 PASS： 上限值＞測(cè)量值＞下限值 LOWER_FAIL：測(cè)量值≦下限值 |
| 判定處理 | 蜂鳴音、PASS/U.FAIL/L.FAIL 的LED 燈亮，UL_FAIL時(shí)U.FAIL/L.FAIL同時(shí)燈亮，EXT. I/O 輸出、通過(guò)RS-232C獲取判定結(jié)果 |
| 試驗(yàn)時(shí)間計(jì)時(shí)器 | 0.045 s ～ 999.999 s（0.001 s 分辨率），從施加電壓到判定合格與否的時(shí)間 |
| 響應(yīng)時(shí)間計(jì)時(shí)器 | 試驗(yàn)開(kāi)始后，禁止按照0.005 s ～ 999.999 s（0.001 s 分辨率）設(shè)置比較器判定動(dòng)作的時(shí)間 |
| 模擬輸出 | DC +4 V f.s. |
| 接口 | RS-232C（標(biāo)配），外部I/O（外部控制器用輸入，判定結(jié)果輸出），BCD輸出（ST5520-01） |
| 電源 | AC100 V ～ 240 V，50/60Hz，大25VA |
| 體積及重量 | 215W×80H×166Dmm，1.1kg |
| 附件 | 使用說(shuō)明書(shū)×1、電源線×1、EXT.I/O連接器×1、連接器蓋×1 |
