德國(guó)布魯克 DektakXT 臺(tái)階儀(探針式表面輪廓儀)可以提供更高的重復(fù)性和分辨率,測(cè)量重復(fù)性可以達(dá)到5?。臺(tái)階儀這項(xiàng)性能的提高達(dá)到了過去四十年Dektak技術(shù),更加鞏固了其行業(yè)地位。不論應(yīng)用于研發(fā)還是產(chǎn)品測(cè)量,通過在研究工作中的廣泛使用,DektakXT能夠做到功能更強(qiáng)大,操作更簡(jiǎn)易,檢測(cè)過程和數(shù)據(jù)采集更完善。第十代DektakXT臺(tái)階儀(探針式表面輪廓儀)的技術(shù)突破,使納米尺度的表面輪廓測(cè)量成為可能,從而可以廣泛的應(yīng)用于微電子器件,半導(dǎo)體,電池,高亮度發(fā)光二極管的研發(fā)以及材料科學(xué)領(lǐng)域。
布魯克臺(tái)階儀表面輪廓分析儀器能實(shí)現(xiàn):
*使用溫度條件:10-30℃;濕度:≤80,無(wú)冷凝
**的性能,臺(tái)階高度重現(xiàn)性低于4埃
*Single-arch設(shè)計(jì)提供具突破性的掃描穩(wěn)定性
*“智能電子器件”設(shè)立了新低噪音基準(zhǔn)
*新硬件配置使數(shù)據(jù)采集時(shí)間縮短40
*64-bit,Vision64同步數(shù)據(jù)處理軟件,使數(shù)據(jù)分析速度提高了10倍
*頻率,操作簡(jiǎn)易
*直觀的Vision64用戶界面,操作簡(jiǎn)易
*針尖自動(dòng)校準(zhǔn)系統(tǒng)
*布魯克(Bruker)以實(shí)惠的配置實(shí)現(xiàn)高的性能
*單傳感器設(shè)計(jì),提供單一平面上低作用和寬掃描范圍
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