雙燈位、三路氣設(shè)計。
塞曼背景校正光路及其系統(tǒng)ZL 2015100677596技術(shù)。
恒定磁場、橫向塞曼，準(zhǔn)雙光束系統(tǒng)，穩(wěn)定可靠。
全波段扣背景，特別適用于基體復(fù)雜的樣品分析。
1.波長自動掃描，實現(xiàn)波長定位。
2.光譜帶寬自動切換。0.2,0.4,1.0,2.0nm四檔可選。
3.自動增益，自動燈電流，能量自動平衡。
4.Czerny-turner型光路設(shè)計，焦距僅為270mm，光程短，減少光的衰減，能量強。
5.采用1800條刻線/mm全系平面光柵，分辨率高。
6.采用耐高溫，抗腐蝕金屬鈦合金燃燒器，可三維調(diào)節(jié)。
7.采用特殊處理技術(shù)的高強度混合霧室，抗腐蝕，易清洗，無記效應(yīng)。
8.采用抗腐蝕，帶有撞擊球的同心玻璃霧化器。
9.新設(shè)計的儀器外型，采用全塑材料外殼，避免實驗室酸性氣體腐蝕，經(jīng)久耐用。
10.具有完善的安全聯(lián)鎖保護裝置和防回火裝置，在斷電，斷氣等意外情況下。儀器自動切斷燃氣。
11.具有火焰發(fā)射測量功能，可對鉀，鈉，鋰等堿金屬提供多種測量方式。
12.基于Windows7/8平臺的人性化處理軟件，提供了方便快捷的控制功能和數(shù)據(jù)處理功能。
13.測量條件和測試數(shù)據(jù)可快速導(dǎo)入EXCEL，實現(xiàn)在線編輯，網(wǎng)絡(luò)資源共享。
14.測量方式：原子吸收，背景矯正，塞曼背景測量，火焰發(fā)射。
15.讀數(shù)方式：濃度直讀，信號平均值，峰高，峰面積等方式。
16.自動扣除零點漂移對測量結(jié)果的影響。
特點：
1.采用塞曼背景校正光路及其系統(tǒng) ZL 2015100677596
2.采用直流恒定磁場（1T），橫向塞曼扣背景方式，穩(wěn)定可靠。
3.全波段扣背景，特別適用于基本復(fù)雜的樣品。
4.準(zhǔn)雙光速原子吸收，系統(tǒng)由樣品和參比兩個通道組成，穩(wěn)定好。
5.采用可靠，便捷的元素?zé)羟袚Q方式，元素?zé)魺o需預(yù)熱即可測量。
6.磁鋼采用水循環(huán)冷卻方式，可保證磁場強度不會隨溫度變化而變化。
7.磁鋼具有自動報警裝置。
8.輔助氣設(shè)計，減少了樣品引入對火焰狀態(tài)和原子化溫度的影響。
更適合于有機樣品和小提升樣品的分析。
9.具有塞曼扣背景功能，扣背景能力大于80倍，遠遠優(yōu)于氘燈扣背景技術(shù)。
波長范圍 190-900nm 波長準(zhǔn)確度 ±0.1nm 基線漂移 ≤±0.003A/30min 光譜帶寬偏差 ±0.02nm 特征濃度 Cu<0.02μg/mL/1% 背景校正能力 ≥80倍 檢出限 火焰(Cu) ， C L ：≤0.003μg/mL 測量精度（RSD） 火焰(Cu) ：≤0.6% 波長重復(fù)性 ≤0.1nm
儀器工作環(huán)境要求
供電：220VAC±10%，50Hz±1Hz
溫度：15℃-35℃
相對濕度：10%-80%
技術(shù)：
塞曼背景校正光路及其系統(tǒng) ZL 2015100677596
一種多燈位旋轉(zhuǎn)燈塔對光系統(tǒng) ZL 2018207884083
