天津瑞利光電科技有限公司優(yōu)勢經(jīng)銷日本ALNAIR硅晶圓厚度傳感器SIT-200
日本ALNAIR硅晶圓厚度傳感器SIT-200
產(chǎn)品介紹
用于硅晶片的全光學(xué)非接觸式厚度傳感器
高動態(tài)范圍,能夠測量混亂的表面
能夠在濕蝕刻過程中進(jìn)行原位測量
SIT-200使用高速掃頻可調(diào)激光器(而不是寬帶光源)來探測被測晶片。這樣就可以對每個波長進(jìn)行更高功率的測量,從而實現(xiàn)高動態(tài)范圍。即使在未拋光的晶片上,例如在濕蝕刻期間/之后,也可以進(jìn)行厚度測量。硅晶圓厚度傳感器由準(zhǔn)確調(diào)諧的波長掃描激光源,聚焦傳感器和光接收器(PD)構(gòu)成。波長掃描光聚焦在目標(biāo)上,并且在通過傳感器后,PD會檢測到從目標(biāo)表面反射回來的干涉圖樣。
產(chǎn)品參數(shù)
測量對象:硅片
可測厚度:10~500(n = 3.5)μm
光源:波長掃描激光源
(1515~1585)nm
光輸出功率:0.6,激光等級1 mW
引導(dǎo)光源:紅色LD,激光等級1M
測量時間:min.20 ms
重復(fù)性:小于0.1(3σ)μm
監(jiān)控輸出:干擾信號(電氣)
PC接口:以太網(wǎng)
天津瑞利光電科技有限公司是一家集研發(fā)、工程、銷售、技術(shù)服務(wù)于一體的現(xiàn)代化企業(yè),是國內(nèi)自動化領(lǐng)域有競爭力的設(shè)備供應(yīng)商。公司主要經(jīng)營歐美和日韓 等國的機電一體化設(shè)備、高精度分析檢測儀器、環(huán)境與新能源工業(yè)設(shè)備及電動工具等工控自動化產(chǎn)品。 憑借成熟的技術(shù)與商務(wù)團(tuán)隊, 公司在為客戶帶來 產(chǎn)品的同時還可提供自動化工程技術(shù)服務(wù)及成套解決方案。
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