測厚儀 CHY-U
測厚儀CHY-U適用薄膜、電池隔膜、太陽能電池硅片、紙張、膠帶等硬質(zhì)和軟質(zhì)材料厚度準(zhǔn)確性測量。是一款測試準(zhǔn)確的全自動測厚儀,測厚儀被廣泛應(yīng)用于質(zhì)檢單位、薄膜生產(chǎn)廠家、光伏廠等單位。
測厚儀 CHY-U
測試原理
測厚儀采用接觸式測試原理,截取一定尺寸試樣,測厚儀測量頭自動降落于試樣之上,依靠固定的壓力和固定的接觸面積下測試出試樣的厚度值。
應(yīng)用范圍
產(chǎn)品圖片 產(chǎn)品名稱 適用范圍 薄膜 用于薄膜、電池隔膜、電容薄膜材料等軟質(zhì)材料厚度測量。 鋁箔 對金屬箔片等硬質(zhì)材料厚度測量。 太陽能硅片 接觸式測試原理更有效的檢測出太陽能硅片上每個點(diǎn)的厚度值。 紙張 通過調(diào)節(jié)測量頭可完整紙張規(guī)定的壓力和面積,完整各種紙張、紙板材料厚度測試。
技術(shù)特征
★微電腦控制、大液晶顯示
★采用傳感器,保證了測試準(zhǔn)確
★嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計的接觸面積和測量壓力,同時支持 各種非標(biāo)定制
★測量頭自動升降,避免了人為因素造成的系統(tǒng)誤差
★手動、自動雙重測量模式,更方便客戶選擇
★配備微型打印機(jī),數(shù)據(jù)實時顯示、自動統(tǒng)計、打印, 方便快捷地獲取測試結(jié)果
★打印大值、小值、平均值及每次測量結(jié)果,方便 用戶分析數(shù)據(jù)
★儀器自動保存多100組測試結(jié)果,隨時查看并打印
★標(biāo)準(zhǔn)量塊標(biāo)定,方便用戶快速標(biāo)定設(shè)備
★測厚儀配備自動進(jìn)樣器,可一鍵實現(xiàn)全自動多點(diǎn)測量,人為誤差小
★專業(yè)軟件提供測試結(jié)果圖形統(tǒng)計分析,準(zhǔn)確直觀地將 測試結(jié)果展示給用戶
★配備標(biāo)準(zhǔn)RS232接口,方便系統(tǒng)與電腦的外部連接和 數(shù)據(jù)傳輸
主要參數(shù)
技術(shù)參數(shù) | |
測量范圍 | 0-2mm (其他量程可定制) |
分辨率 | 0.1um |
測量速度 | 10 次/分(可調(diào)) |
測量壓力 | 17.5±1kPa(薄膜);100±1kPa(紙張) |
接觸面積 | 50mm2(薄膜),200mm2(紙張) 注:薄膜、紙張任選一種 |
進(jìn)樣步矩 | 0 ~ 1300 mm(可調(diào)) |
進(jìn)樣速度 | 0 ~ 120 mm/s(可調(diào)) |
外形尺寸 | 450mm×340mm×390mm |
重量 | 23kg |
環(huán)境要求 | |
環(huán)境溫度 | 15℃-50℃ |
試驗環(huán)境 | 無震動,無電磁干擾 |
相對濕度 | 80%,無凝露 |
工作電源 | 220V,50Hz |
標(biāo) 準(zhǔn)
GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、T APPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817
配 置
標(biāo)準(zhǔn)配置:測厚儀主機(jī)、標(biāo)準(zhǔn)量塊、微型打印機(jī)
選用配置:專業(yè)軟件、通信電纜、測量頭、配重砝碼、自動進(jìn)樣器