2002年，意大利費拉拉大學的工程師創(chuàng)建了AT公司，工 程師團隊具有豐富的半導體測試和創(chuàng)新儀器設計的經(jīng)驗。AT 通過使用顛覆性和創(chuàng)新性的DAC(16bit@16Gs/s)技術設計， 為業(yè)界提供了優(yōu)良的信號模擬方案。這允許產(chǎn)生非常復雜的 信號，結合可控抖動，噪聲和其他信號損傷。
AWG401X 300MHz 任意函數(shù)波形發(fā)生器應用于無線信號基帶生成（5G,WiFi,IoT,Radar,Sonar），科學研究（量子計算），半導體芯片測試（ADC/DAC,FPGA,MCU,DSP等），半導體芯片測試（MCU,FPGA,邏輯芯片,圖像傳感器芯片等），也是一款四合一信號發(fā)生器。
AWG401X 300MHz 任意函數(shù)波形發(fā)生器主要參數(shù)
● 帶寬： 300MHz
● DAC位數(shù)： 14位
● 采樣率： 1S/s - 1.2Gs/s
● 模擬道數(shù)： 2/4/8個
● 輸出阻抗： 50Ω/5Ω切換
● 數(shù)字通道： 8/16/32個(選件）
● 上升/下降時間： <1.1ns
● 存儲深度： MAX128M（選件）
● 輸出電壓： MAX0-12Vpp@50Ω(選件)
● 輸出電流： MAX400mA
● 輸出波形： 雙脈沖及各種調制信號
● 串行碼型發(fā)生: PRBS信號,速率300Mbps
● 波形序列產(chǎn)生： 1-16384
● 主機平臺： Windows 10操作系統(tǒng)，7寸彩色觸摸屏
● 設備級聯(lián)同步： 32個模擬通道，128個數(shù)字通道
AWG401X任意波形發(fā)生器*能力
● 硬件偏置電壓，寬范圍電壓輸出
● 5Ω輸出阻抗，支持大電流輸出
● 作為半導體芯片的Vcc電源（大電流400mA）
電源開/關序列產(chǎn)生（納秒級別上升/下降時間）
電源加噪聲（電源加DC-200MHz帶寬白噪聲，任意波噪聲等）
● GaN/SiC/IGBT/MOSFET器件驅動測試
Vdd驅動信號，大電壓可以 到15-20V，納秒級別上升/下 降時間
Ramp信號產(chǎn)生，噪聲信號產(chǎn) 生，Ramp+噪聲信號產(chǎn)生
雙脈沖產(chǎn)生
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