進口X射線熒光光譜儀Epsilon 3^XLE 構(gòu)建在其前代產(chǎn)品的經(jīng)驗和成功的基礎(chǔ)之上，采用了激發(fā)和檢測技術(shù)的成果。該儀器運行穩(wěn)定，操作簡便，對整個元素周期表中元素均具備的分析性能。Epsilon 3^XLE 光譜儀依靠各種軟件模塊是一款經(jīng)濟實惠、高度靈活的分析工具，適用于各種應(yīng)用場合。

進口X射線熒光光譜儀Epsilon 3^XLE 具有如下特點：

• 通過智能激發(fā)和檢測設(shè)計實現(xiàn)高靈敏度

• 市場的輕元素性能

• 確保X射線安全

• *的數(shù)據(jù)可追溯性

• 符合法規(guī)

• 在線支持

• 高度靈活的分析工具，適用于各種應(yīng)用場合：Epsilon 3^XLE - 具有改進的和擴展的輕元素功能（C - Am），用于實現(xiàn)更高的樣品生產(chǎn)量

• Epsilon 3^XLE 中配備的SDD^ultra硅漂移探測器甚至可以分析超輕元素，例如碳、氮和氧。

可以處理類型廣泛的樣品，包括固體、稀松或壓片粉末、液體和濾片，重量從幾毫克到更大的實體樣品不等。

廣泛應(yīng)用于石化產(chǎn)品、塑料和聚合物、環(huán)境、醫(yī)藥、采礦、建筑材料、研究與教育、金屬、食品和化妝品等多個行業(yè)領(lǐng)域。

光譜儀配有各種行業(yè)軟件可選：

Omnian - *的無標(biāo)樣分析軟件；針對多種不同類型未知材料樣品，實現(xiàn)快速可靠的定量分析。

Oil-Trace - 石化行業(yè)軟件；于解決對石油和石化進行分析時常面臨的挑戰(zhàn)的創(chuàng)新軟件包。

Stratos - 涂層厚度軟件；Stratos模塊采用的算法可同步確定化學(xué)成分和分層材料的厚度。

FingerPrint - “指紋識別”軟件；采用快速的光譜數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析，可用于更全面的診斷分析的常規(guī)成分測定。