MICROTRAC原位分析儀Nanotrac  Flex
天津瑞利光電科技有限公司經銷MICROTRAC原位分析儀。

MICROTRAC原位分析儀Nanotrac  Flex
描述：
Nanotrac Flex采用Microtrac增強的動態(tài)光散射技術，是使用min樣品量測量寬濃度范圍內顆粒的理想選擇。恰當地命名，外部探針可以靈活地在原位或實驗室工作臺上測量從亞納米到幾微米的懸浮液。
基于180°外差動態(tài)光散射，Nanotrac Flex可以測量高達40％w / v的材料濃度。通過這種設置，激光束的一部分被添加到散射光中，其工作方式類似于光學增強。除了粒徑之外，還可以測量根據Debye的分子量，而無需手動添加所需的dn / dc值。浸入式探頭可通過原位分析進行直接測量。這樣做的好處是不需要比色皿，產品中的直接測量和原位選擇。在10至360秒的測量時間之后準備好結果，其中諸如折射率，顆粒吸收和粘度的參數可在數據庫中獲得。通過利用專有的Mie計算，用戶能夠測量透明或吸光樣品以及球形，非球形和不規(guī)則顆粒。

詳細信息：
- 具有180°反向散射的外部探頭
- 將任何容器轉入樣品池 - 外部探針允許您浸入和測量
- 所需的樣品量小，低至5μl
- 顆粒尺寸范圍從0.8到6,500納米
- 無需*，或“粒度分布”的“先驗”知識
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