MICROTEST 2000E系列原位動態(tài)拉伸試驗臺 ----用于EBSD的材料測試系統(tǒng)

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型號
品牌
所在地
更新時間2020-09-16

北京歐波同光學(xué)技術(shù)有限公司

廠商性質(zhì)
入駐年限第8年
實名認(rèn)證已認(rèn)證
產(chǎn)品數(shù)量98
人氣值2081

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MICROTEST 2000E系列原位動態(tài)拉伸試驗臺 ----用于EBSD的材料測試系統(tǒng) 產(chǎn)品詳情

MICROTEST 2000E系列原位動態(tài)拉伸試驗臺 ----用于EBSD的材料測試系統(tǒng)

帶有EH2000加熱夾具的Microtest 2000EW

品牌： Deben

名稱型號： MICROTEST 2000E系列原位動態(tài)拉伸試驗臺

制造商： Deben公司

經(jīng)銷商：歐波同有限公司

免：

產(chǎn)品綜合介紹：

產(chǎn)品功能介紹

　　掃描電鏡中的材料允許我們在微結(jié)構(gòu)層級進(jìn)行動態(tài)的機(jī)械特性研究。當(dāng)同時裝備EBSD設(shè)備，可以通過對晶體的結(jié)構(gòu)的分析，，實時研究材料的織構(gòu)等隨拉伸載荷和/或溫度的變化而發(fā)生的變化。
　　MICROTEST 2000E系列拉伸臺設(shè)計可以對金屬樣品施加高達(dá)2000N的拉力，用戶EBSD分析，或者對一些其他材料進(jìn)行常規(guī)的應(yīng)力-應(yīng)變分析和SEM成像。試樣夾具70度角度傾斜，為EBSD分析提供了的設(shè)置。
　　MICROTEST 2000E系列拉伸臺可直接安裝在一些SEM的標(biāo)準(zhǔn)樣品臺上，或者在某些情況下可能需要C1000XYX替換樣品臺。該樣品臺頁可以在電子顯微鏡之外使用。
　　MICROTEST 2000E可以在拉伸或者壓縮模式下工作。配備的功能豐富的軟件能夠進(jìn)行恒速、恒載荷或低頻循環(huán)操作，以其他功能，例如按斜坡達(dá)到預(yù)設(shè)載荷。應(yīng)力應(yīng)變曲線可以在顯示器上實時圖形繪制，圖形顯示帶有特性游標(biāo)，可選多量程和縮放功能。MTVideo選項同步視頻和數(shù)據(jù)采集，從而允許隨后對變形樣品的視頻進(jìn)行詳細(xì)分析。
　　對于可變溫度研究?？梢栽贛ICROTEST 2000EW（水冷版本）平臺上EBSD的幾何位置上選配加熱夾具，加熱夾具的溫度可高達(dá)500℃。

品牌介紹

　　美國Deben公司成立于1964年并于70年代末進(jìn)入中國市場。Deben公司以其產(chǎn)品的高性能及技術(shù)的*性在電鏡界享有*聲譽(yù)。
　　作的設(shè)計和制造用于增強(qiáng)和拓展電子顯微鏡功能的附件廠商，其產(chǎn)品涵蓋了從樣品制備到成像、分析等所有步驟的需求。產(chǎn)品應(yīng)用范圍包括材料科學(xué)、生命科學(xué)、地球物理學(xué)、電子學(xué)，能源科學(xué)等領(lǐng)域，客戶范圍涵蓋的科研院所，高校，各類檢測機(jī)構(gòu)及大型工業(yè)企業(yè)實驗室，并且在科學(xué)研究領(lǐng)域得到了廣泛認(rèn)同。

經(jīng)銷商介紹

　　歐波同有限公司的微納米技術(shù)服務(wù)供應(yīng)商，是一家以外資企業(yè)作為投資背景的*，總部位于香港，分別在北京、上海、遼寧、山東等地設(shè)有分公司和辦事處。作為蔡司電子顯微鏡、Deben掃描電子顯微鏡制樣設(shè)備及附屬分析設(shè)備在中國地區(qū)重要的戰(zhàn)略合作伙伴，公司秉承"打造國內(nèi)影響力的儀器銷售品牌"的經(jīng)營理念，與蔡司，Deben品牌強(qiáng)強(qiáng)聯(lián)合，正在為數(shù)以萬計的中國用戶提供高品質(zhì)的產(chǎn)品與技術(shù)服務(wù)。

產(chǎn)品主要技術(shù)特點：

1、載荷：2000N測力傳感器，精度1%量程，解析能力0.1%量程
2、長度和拉伸量：夾具間距：10mm，伸長量：10mm，線性延伸計：3μm解析能力和10μm精度
3、速度范圍：0.033mm/min– 0.4 mm/min
4 、較大樣品尺寸：29×27×5（L,W,Hmm）對EBSD樣品夾具
5、產(chǎn)品規(guī)格：196 ×96×53（L,W,Hmm）重量~3.4kg（2000ES）；~3.9kg（2000EW）

產(chǎn)品主要應(yīng)用領(lǐng)域：

1、金屬與合金：研究與應(yīng)力-應(yīng)變分析相關(guān)的晶粒的晶體學(xué)旋轉(zhuǎn)。
　　缺陷的演變和應(yīng)變的積累；
　　加熱樣品，研究再結(jié)晶
2、其他（非晶）材料：在SEM中動態(tài)研究微裂紋擴(kuò)展及在微觀尺度上其他失效和變形機(jī)制；

注：也可選擇MICROTEST 5000系列拉伸臺用于EBSD的材料測試系統(tǒng)

關(guān)鍵詞：試驗臺標(biāo)準(zhǔn) 電子顯微鏡顯示器顯微鏡

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