光電子—德國(guó)蔡司公司2008年推出了具有劃時(shí)代意義的掃描電鏡 (SEM)-拉曼光譜聯(lián)合平臺(tái)系統(tǒng),能夠?qū)悠返奈⒂^形貌、元素分析與分子結(jié)構(gòu)、理化性質(zhì)、結(jié)晶度及晶體缺陷信息相結(jié)合,為科研人員提供了一個(gè)全新的多維度分析平臺(tái)。該平臺(tái)可配置Witec、Renishaw、Horiba等多家品牌拉曼光譜,為您提供個(gè)性化應(yīng)用選擇。
系統(tǒng)構(gòu)成:
掃描電子顯微鏡:是利用細(xì)聚焦的電子束轟擊樣品表面,通過(guò)電子與樣品相互作用產(chǎn)生二次電子、背散射電子、X射線等,對(duì)樣品表面或斷口形貌進(jìn)行觀察和分析的一種檢測(cè)手段。借助附件能譜儀EDS或者波譜儀WDS可以獲得分析區(qū)域的元素種類及其含量的定性信息。增加背散射電子衍射EBSD附件還可以獲取晶體學(xué)取向信息。但是掃描電鏡很難表征物質(zhì)的化學(xué)結(jié)構(gòu)。
拉曼光譜:是一種散射光譜,通過(guò)測(cè)定材料的分子鍵的振動(dòng)頻率,可以獲得材料的化學(xué)與結(jié)構(gòu)特點(diǎn),例如官能團(tuán),對(duì)稱群,點(diǎn)陣缺陷等,以及材料的結(jié)晶度等詳細(xì)的信息。但是拉曼光譜往往借助光學(xué)顯微鏡用于觀察樣品及激光聚焦,受制于所用激光光源的波長(zhǎng)(一般為紫外、可見(jiàn)光及近紅外波段),空間分辨率較低,對(duì)于一些結(jié)構(gòu)復(fù)雜的樣品難以分辨其中的不同的物相與顆粒。
掃描電鏡-拉曼光譜聯(lián)用可以對(duì)樣品進(jìn)行微區(qū)原位分析,實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品的系統(tǒng)性分析測(cè)試。鑒于可以從同一點(diǎn)采集掃描電鏡數(shù)據(jù)與拉曼光譜數(shù)據(jù),能夠?qū)悠繁砻嫘蚊埠臀镔|(zhì)分子結(jié)構(gòu)的關(guān)系進(jìn)行快速直觀的表征。以SEM圖像為基礎(chǔ),可以更準(zhǔn)確地對(duì)樣品選擇測(cè)試區(qū)域進(jìn)行快速、無(wú)損的物質(zhì)成分分析,得到準(zhǔn)確的樣品組成數(shù)據(jù)。
系統(tǒng)功能:
●從SEM獲得形貌和平均原子數(shù)信息
●從EDS分析獲得元素成分信息
●利用拉曼光譜獲得化學(xué)成分和物質(zhì)鑒定
●利用拉曼光譜獲得物理結(jié)構(gòu)(晶體的及力學(xué)數(shù)據(jù))
應(yīng)用:
●材料科學(xué)
腐蝕研究、電子材料、高分子、復(fù)合材料
●地質(zhì)學(xué)與礦物學(xué)
寶石和礦物鑒別;液體包裹體;巖石截面上礦物和相的分布;相變;條件下礦物的反應(yīng)
●半導(dǎo)體
應(yīng)力表征;純度;金屬摻雜;污物識(shí)別;超晶格結(jié)構(gòu);缺陷分析;異質(zhì)結(jié)構(gòu);摻雜效果;顯微光致發(fā)光分析(PL)等
● 藥物和化妝品
藥物片劑中化合物的分布;混和的均一性;批量篩分檢驗(yàn);API濃度;粉末的組成和純度;結(jié)晶度分析;污染物鑒別;組合化學(xué);活體分析及皮膚縱深研究;涂層、藥物填料和賦形劑鑒別及多態(tài)性的研究
● 刑偵科學(xué)
、、纖維、顏料的鑒定
●碳材料
單壁碳納米管(SWCNTs);碳納米管純度;碳納米管的電學(xué)性質(zhì);碳材料的sp2和sp3結(jié)構(gòu);類金剛石涂層(DLC)性質(zhì);碳材料缺陷/無(wú)序性分析;鉆石品質(zhì)和原產(chǎn)地
應(yīng)用案例:
1、表征微米級(jí)別的*礦物中的PO4/SO4的比例及鑒別其中復(fù)雜的化合物成分明礬石和纖磷鈣鋁石
2、實(shí)現(xiàn)鈾酰礦物類的顆粒水平的拉曼光譜分析
3、通過(guò)研究大氣污染顆粒物的分子光譜及元素成分,來(lái)評(píng)估大氣污染程度并未后續(xù)的預(yù)防方案制定提供科學(xué)依據(jù)。
4、研究含鈾顆粒的分子組成,在微米尺度原位研究含鈾顆粒的元素與分子組成,提供一種有用的核安全保障的分析檢測(cè)手段。
5、鑒別制備的石墨烯樣品中單層區(qū)域與多層區(qū)域
注:由譜圖的峰高和線寬可以區(qū)分單層、雙層和多層石墨烯。
6、刑偵領(lǐng)域中微量物質(zhì)分析
7、阻燃劑顆粒檢測(cè)
納米科技與納米制備技術(shù)的快速發(fā)展對(duì)在一臺(tái)設(shè)備中同時(shí)實(shí)現(xiàn)納米尺度原型、成像、改性及操作提出了強(qiáng)烈的需求。多種設(shè)備深度集成具有大量的優(yōu)勢(shì),尤其在樣品制備與分析都需要在原位條件下進(jìn)行的情況下。其中,在掃描電鏡中集成能譜(EDS)、波譜(WDS)等可以實(shí)現(xiàn)分析功能的多樣化。而拉曼光譜在分子結(jié)構(gòu)、理化性質(zhì)、結(jié)晶度及晶體缺陷等方面強(qiáng)大的分析能力越來(lái)越得到了研究者的關(guān)注及深入研究。將拉曼光譜集成到SEM中,可以實(shí)現(xiàn)樣品的微觀形貌、元素、分子結(jié)構(gòu)等多方面信息的原位表征測(cè)定,可以挖掘更深層次的信息,因此蔡司公司推出的這種掃描電鏡與拉曼光譜集成聯(lián)用平臺(tái)在廣泛的科學(xué)研究中的具有重要的意義。